光学头
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100336120C

    公开(公告)日:2007-09-05

    申请号:CN200510081466.X

    申请日:2001-06-22

    Abstract: 光盘由于在其半径方向倾斜时发生的彗形象差的影响引起跟踪信号产生相位偏移,使跟踪控制的精度减低。在光学头中设置:集光于光盘的物镜(4)、收受从光盘反射的反射光束、获得受光信号的受光装置(8)、从受光信号中检测跟踪误差信号的跟踪误差信号检测装置(9)、以及使入射到受光装置(8)的反射光束中、用于检测跟踪误差信号的跟踪误差信号检测用光束的中央部的领域的光量衰减的光学装置(6)。

    光学头
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1449561A

    公开(公告)日:2003-10-15

    申请号:CN01814621.X

    申请日:2001-06-22

    Abstract: 光盘由于在其半径方向倾斜时发生的彗形象差的影响引起跟踪信号产生相位偏移,使跟踪控制的精度减低。在光学头中设置:集光于光盘的物镜4、收受从光盘反射的反射光束、获得受光信号的受光装置8、从受光信号中检测跟踪误差信号的跟踪误差信号检测装置9、以及使入射到受光装置8的反射光束中、用于检测跟踪误差信号的跟踪误差信号检测用光束的中央部的领域的光量衰减的光学装置6。

    光学头
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1725318A

    公开(公告)日:2006-01-25

    申请号:CN200510081466.X

    申请日:2001-06-22

    Abstract: 光盘由于在其半径方向倾斜时发生的彗形象差的影响引起跟踪信号产生相位偏移,使跟踪控制的精度减低。在光学头中设置:集光于光盘的物镜(4)、收受从光盘反射的反射光束、获得受光信号的受光装置(8)、从受光信号中检测跟踪误差信号的跟踪误差信号检测装置(9)、以及使入射到受光装置(8)的反射光束中、用于检测跟踪误差信号的跟踪误差信号检测用光束的中央部的领域的光量衰减的光学装置(6)。

    光学头
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1235205C

    公开(公告)日:2006-01-04

    申请号:CN01814621.X

    申请日:2001-06-22

    Abstract: 光盘由于在其半径方向倾斜时发生的彗形象差的影响引起跟踪信号产生相位偏移,使跟踪控制的精度减低。在光学头中设置:集光于光盘的物镜(4)、收受从光盘反射的反射光束、获得受光信号的受光装置(8)、从受光信号中检测跟踪误差信号的跟踪误差信号检测装置(9)、以及使入射到受光装置(8)的反射光束中、用于检测跟踪误差信号的跟踪误差信号检测用光束的中央部的领域的光量衰减的光学装置(6)。

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