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公开(公告)号：CN1230814C
公开(公告)日：2005-12-07
申请号：CN03178457.7
申请日：2003-07-17
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/135
CPC classification number: G11B7/1398 , G11B7/0912 , G11B7/1381
Abstract: 本发明提供一种基于0级衍射光束和1级衍射光束可以获得良好检测信号的光学头。该光学头包括：用于对来自光源的光束进行整形的整形元件；用于将已被整形元件整形后的光束会聚到光学记录介质上的会聚元件；基于包含在已被光学记录介质反射后的光束内的0级衍射光束和1级衍射光束，用于检测电信号的检测器。采用可摆动方式设置整形元件，从而0级衍射光束入射到检测器上的光点位置和1级衍射光束入射到检测器上的光点位置之间的距离可以被调整。
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公开(公告)号：CN1146883C
公开(公告)日：2004-04-21
申请号：CN00106981.0
申请日：2000-04-24
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/12
CPC classification number: G11B7/1263 , G11B7/1362 , G11B7/1378 , G11B7/1398 , G11B2007/13725
Abstract: 用少量部件的简单构造来实现具有高频响应性的光量控制和校正半导体激光器的像散差。从半导体激光器(101)输出的光束通过光反射元件(107)使其周边光束进入前光监视光电检测器(103)。把光反射元件的反射面做成变形非球面，以提供高频响应性。把光反射元件放置得倾斜一预定角度，以补偿半导体激光器的像散差。此外，把光电检测器沿这样的方向放置，从而使反射光(108)被弯折，减小了调整光反射元件时它的平移量。
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公开(公告)号：CN1327423C
公开(公告)日：2007-07-18
申请号：CN03136458.6
申请日：1999-11-09
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/139 , G11B7/1353
Abstract: 一种光信息处理装置，包括光源、将来自光源的光聚焦在信息记录介质上的物镜、配置在该物镜和该光源之间且设定该物镜开口的开口元件、微小控制该物镜位置的调节器和检测从该信息记录介质反射的光的光检测器，其特征在于，在记录和重放中可改变物镜的开口。
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公开(公告)号：CN1516144A
公开(公告)日：2004-07-28
申请号：CN03136465.9
申请日：1999-11-09
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/139 , G11B7/1353
Abstract: 一种光学元件，该光学元件可透过波长为λ1的光和有比λ1长的波长为λ2的光，其特征在于，该光学元件包括：利用两片玻璃基板夹置由双折射性材料构成的衍射格栅、和N为任意自然数时光学厚度为(N+1/5)λ1的波长膜的偏光性全息照相元件部分；和设置在其中一片该玻璃基板上，相对于穿过元件的两个波长λ1和λ2(λ1＜λ2)的光，分别具有不同开口面积的薄膜结构。
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公开(公告)号：CN1497555A
公开(公告)日：2004-05-19
申请号：CN200310101466.2
申请日：2003-10-20
Applicant: 松下电器产业株式会社
Abstract: 本发明提供了一种光盘装置和一种分光装置，即使物镜和偏振全息基片在光盘径向产生偏离，在跟踪控制下，这两种装置都不会出现磁道偏离，在使用具有两个放射光源结构的情况下，可以对两个放射光源同时进行处理。从放射光源发射出的光被光盘的信号面反射并穿过物镜，进入分光器。分光器被两条与光轴相交的直线划分成四个象限Ak(k＝1，2，3，4)。光检测器被划分成至少4个区域Bk。一级衍射光ak由进入各象限Ak的光在分光器的作用下而分别派生出来，并被分别投射到光检测器的区域Bk上。一级衍射光a2和a3沿x轴所做的剖面大致位于区域B2和B3之间的边界上。一级衍射光a1和a4被分布在光检测器上，彼此分开。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1323392C
公开(公告)日：2007-06-27
申请号：CN200410004045.2
申请日：2000-04-24
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/12
CPC classification number: G11B7/1263 , G11B7/1362 , G11B7/1378 , G11B7/1398 , G11B2007/13725
Abstract: 用少量部件的简单构造来实现具有高频响应性的光量控制和校正半导体激光器的像散差。从半导体激光器101输出的光束通过光反射元件107，使其周边光束进入前光监视光电检测器103。把光反射元件的反射面做成变形非球面，以提供高频响应性。把光反射元件放置得倾斜一预定角度，以补偿半导体激光器的像散差。此外，把光电检测器沿这样的方向放置，从而使反射光108被弯折，减小了调整光反射元件时它的平移量。
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公开(公告)号：CN1339780A
公开(公告)日：2002-03-13
申请号：CN01125462.9
申请日：2001-06-21
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/0906 , G11B7/0901 , G11B7/0909 , G11B7/0943 , G11B7/131 , G11B7/1353 , G11B7/1356 , G11B7/1365 , G11B7/1372 , G11B7/1381
Abstract: 一种能够安装光盘的光盘设备,其包括:用于发光的光源;用于将由光源发出的光聚集到光盘上的物镜;可随物镜整体移动的第一光分配部分,其包括第一区域和第二区域,第一光分配部分输出由光盘反射且透过第一区域或第二区域的光作为透射光,输出由光盘反射且由第一区域衍射的光作为第一衍射光,输出由光盘反射且由第二区域衍射的光作为第二衍射光;透射光检测部分,用于检测该透射光并输出表示检测到的透射光的偏移的TE1信号;第一衍射光检测部分,其检测第一衍射光和第二衍射光,并输出表示所检测到的第一衍射光的光量和所检测到的第二衍射光的光量之差的TE2信号;及根据TE1信号和TE2信号产生用于光盘的跟踪误差信号的控制装置。
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公开(公告)号：CN1258067A
公开(公告)日：2000-06-28
申请号：CN99123549.5
申请日：1999-11-09
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/12
CPC classification number: G11B7/139 , G11B7/1353
Abstract: 一种光盘装置,从半导体激光器向光盘的光束来路中物镜的开口大于从光盘开始的回路中物镜的开口,且在记录和重放时可改变该开口。由于光在高开口下被聚焦在光盘上,所以记录重放能力提高,同时由于在低开口下进行来自光盘的反射光的检测,所以也不损失相对于倾斜和散焦的裕量,同时由于可除去反射光中不需要的信号成分,所以也可提高信息信号的S/N,以实现高性能的光盘装置。可获得不损失重放品质的记录密度和记录品质高的光盘装置。
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公开(公告)号：CN1311449C
公开(公告)日：2007-04-18
申请号：CN03136465.9
申请日：1999-11-09
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/139 , G11B7/1353
Abstract: 一种光学元件，该光学元件可透过波长为λ1的光和有比λ1长的波长为λ2的光，其特征在于，该光学元件包括：利用两片玻璃基板夹置由双折射性材料构成的衍射格栅、和N为任意自然数时光学厚度为(N+1/5)λ1的波长膜的偏光性全息照相元件部分；和设置在其中一片该玻璃基板上，相对于穿过元件的两个波长λ1和λ2(λ1＜λ2)的光，分别具有不同开口面积的薄膜结构。
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公开(公告)号：CN1252698C
公开(公告)日：2006-04-19
申请号：CN01125462.9
申请日：2001-06-21
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/0906 , G11B7/0901 , G11B7/0909 , G11B7/0943 , G11B7/131 , G11B7/1353 , G11B7/1356 , G11B7/1365 , G11B7/1372 , G11B7/1381
Abstract: 一种能够安装光盘的光盘设备，其包括：用于发光的光源；用于将由光源发出的光聚集到光盘上的物镜；可随物镜整体移动的第一光分配部分，其包括第一区域和第二区域，第一光分配部分输出由光盘反射且透过第一区域或第二区域的光作为透射光，输出由光盘反射且由第一区域衍射的光作为第一衍射光，输出由光盘反射且由第二区域衍射的光作为第二衍射光；透射光检测部分，用于检测该透射光并输出表示检测到的透射光的偏移的TE1信号；第一衍射光检测部分，其检测第一衍射光和第二衍射光，并输出表示所检测到的第一衍射光的光量和所检测到的第二衍射光的光量之差的TE2信号；及根据TE1信号和TE2信号产生用于光盘的跟踪误差信号的控制装置。
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