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公开(公告)号:CN105938807A
公开(公告)日:2016-09-14
申请号:CN201610124432.2
申请日:2016-03-04
Applicant: 株式会社思可林集团
IPC: H01L21/67
Abstract: 本发明提供一种能够使基板的面内温度分布均匀的热处理装置。从多个卤素灯(HL)对在腔室内由保持部保持的半导体晶片(W)照射卤素光而进行加热。在卤素灯(HL)与半导体晶片(W)之间,设置着由不透明石英形成的圆筒形状的遮光体(21)及圆环形状的遮光部件(25)。遮光部件(25)的外径小于遮光体(21)的内径。从卤素灯(HL)出射并透过产生在遮光体(21)的内壁面与遮光部件(25)的外周之间的间隙的光照射在容易产生温度下降的半导体晶片(W)的周缘部。另一方面,朝向过热区域的光被遮光部件(25)遮蔽,所述过热区域在仅设置遮光体(21)时产生在半导体晶片(W)的面内且温度比其他区域高。
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公开(公告)号:CN105938807B
公开(公告)日:2019-08-27
申请号:CN201610124432.2
申请日:2016-03-04
Applicant: 株式会社思可林集团
IPC: H01L21/67
Abstract: 本发明提供一种能够使基板的面内温度分布均匀的热处理装置。从多个卤素灯(HL)对在腔室内由保持部保持的半导体晶片(W)照射卤素光而进行加热。在卤素灯(HL)与半导体晶片(W)之间,设置着由不透明石英形成的圆筒形状的遮光体(21)及圆环形状的遮光部件(25)。遮光部件(25)的外径小于遮光体(21)的内径。从卤素灯(HL)出射并透过产生在遮光体(21)的内壁面与遮光部件(25)的外周之间的间隙的光照射在容易产生温度下降的半导体晶片(W)的周缘部。另一方面,朝向过热区域的光被遮光部件(25)遮蔽,所述过热区域在仅设置遮光体(21)时产生在半导体晶片(W)的面内且温度比其他区域高。
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