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发明公开
一种热电离质谱仪离子源透镜组件审中-实审

公开(公告)号：CN119811978A

公开(公告)日：2025-04-11

申请号：CN202411915375.0

申请日：2024-12-24

Applicant: 湖北工业大学

Inventor： 翟中生 , 雷自力 , 王选择 , 陈智 , 何俊伟 , 李健 , 胡晓燕

IPC: H01J49/06 , H01J49/26

Abstract: 本发明公开了一种热电离质谱仪离子源透镜组件，包括固定架、Y方向校正电极组件、聚焦极透镜组件、引出组件以及出口组件，所述Y方向校正电极组件固定在所述固定架的下方，用于校正离子，所述聚焦极透镜组件同轴固定在所述Y方向校正电极组件的下方，用于聚焦离子，所述引出组件同轴固定在所述聚焦极透镜组件的下方，用于将离子源射出的离子引出至所述聚焦极透镜组件，所述出口组件固定在所述固定架的上方，用于导出依次经过聚焦、校正的离子。本发明不同于现有技术的先校正再加速，而是采用先加速再校正，出口离子束的离子窄束是稳定的，没有重新加速后的离子发散风险。

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