公开(公告)号：CN100425061C

公开(公告)日：2008-10-08

申请号：CN200510072721.4

申请日：2005-05-17

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 千叶卓也 ,  滨野明 ,  田中健二

IPC: H04N5/335 ,  H04N5/217

CPC classification number: H04N5/23245 ,  H04N5/343 ,  H04N5/3532 ,  H04N5/367 ,  H04N5/3675

Abstract: 本发明提供了从成像器件接收信号的一种检测电路和一种控制器，判定信号电平超过预定缺陷判定电平的像素为缺陷像素，并且根据读出方法存储缺陷像素的地址。当成像器件对目标成像时，缺陷补偿电路对应于读出方法，读出存储的缺陷像素的地址，并且为缺陷像素执行预定的补偿处理。控制器存储缺陷像素的信号电平，并且对应于读出方法转化信号电平。结果是，当在一个方法中检测缺陷像素时，可以在多种方法中对缺陷像素进行补偿。

公开(公告)号：CN101043582A

公开(公告)日：2007-09-26

申请号：CN200710097111.9

申请日：2005-05-17

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 千叶卓也 ,  滨野明 ,  田中健二

IPC: H04N5/217 ,  H04N5/335 ,  H04N3/15

CPC classification number: H04N5/23245 ,  H04N5/343 ,  H04N5/3532 ,  H04N5/367 ,  H04N5/3675

Abstract: 本发明提供了从成像器件接收信号的一种检测电路和一种控制器，判定信号电平超过预定缺陷判定电平的像素为缺陷像素，并且根据读出方法存储缺陷像素的地址。当成像器件对目标成像时，缺陷补偿电路对应于读出方法，读出存储的缺陷像素的地址，并且为缺陷像素执行预定的补偿处理。控制器存储缺陷像素的信号电平，并且对应于读出方法转化信号电平。结果是，当在一个方法中检测缺陷像素时，可以在多种方法中对缺陷像素进行补偿。

公开(公告)号：CN100471233C

公开(公告)日：2009-03-18

申请号：CN200710097111.9

申请日：2005-05-17

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 千叶卓也 ,  滨野明 ,  田中健二

IPC: H04N5/217 ,  H04N5/335 ,  H04N3/15

CPC classification number: H04N5/23245 ,  H04N5/343 ,  H04N5/3532 ,  H04N5/367 ,  H04N5/3675

Abstract: 本发明提供了从成像器件接收信号的一种检测电路和一种控制器，判定信号电平超过预定缺陷判定电平的像素为缺陷像素，并且根据读出方法存储缺陷像素的地址。当成像器件对目标成像时，缺陷补偿电路对应于读出方法，读出存储的缺陷像素的地址，并且为缺陷像素执行预定的补偿处理。控制器存储缺陷像素的信号电平，并且对应于读出方法转化信号电平。结果是，当在一个方法中检测缺陷像素时，可以在多种方法中对缺陷像素进行补偿。

公开(公告)号：CN101232575A

公开(公告)日：2008-07-30

申请号：CN200810002645.3

申请日：2005-05-17

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 千叶卓也 ,  滨野明 ,  田中健二

IPC: H04N5/217

CPC classification number: H04N5/23245 ,  H04N5/343 ,  H04N5/3532 ,  H04N5/367 ,  H04N5/3675

Abstract: 本发明提供了一种成像装置和成像方法。在本发明的成像装置中提供了从成像器件接收信号的一种检测电路和一种控制器，判定信号电平超过预定缺陷判定电平的像素为缺陷像素，并且根据读出方法存储缺陷像素的地址。当成像器件对目标成像时，缺陷补偿电路对应于读出方法，读出存储的缺陷像素的地址，并且为缺陷像素执行预定的补偿处理。控制器存储缺陷像素的信号电平，并且对应于读出方法转化信号电平。结果是，当在一个方法中检测缺陷像素时，可以在多种方法中对缺陷像素进行补偿。

公开(公告)号：CN1700744A

公开(公告)日：2005-11-23

申请号：CN200510072721.4

申请日：2005-05-17

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 千叶卓也 ,  滨野明 ,  田中健二

IPC: H04N5/335 ,  H04N5/217

CPC classification number: H04N5/23245 ,  H04N5/343 ,  H04N5/3532 ,  H04N5/367 ,  H04N5/3675

Abstract: 本发明提供了从成像器件接收信号的一种检测电路和一种控制器，判定信号电平超过预定缺陷判定电平的像素为缺陷像素，并且根据读出方法存储缺陷像素的地址。当成像器件对目标成像时，缺陷补偿电路对应于读出方法，读出存储的缺陷像素的地址，并且为缺陷像素执行预定的补偿处理。控制器存储缺陷像素的信号电平，并且对应于读出方法转化信号电平。结果是，当在一个方法中检测缺陷像素时，可以在多种方法中对缺陷像素进行补偿。