公开(公告)号：CN103116739B

公开(公告)日：2017-11-24

申请号：CN201210286078.5

申请日：2012-08-13

Applicant: 通用电气公司

Inventor： M.M.达内什帕纳 ,  K.G.哈丁 ,  G.阿布拉莫维奇 ,  D.C.格雷

IPC: G06K9/00

CPC classification number: H04N5/23219 ,  G02B27/0075 ,  G06K9/00033 ,  G06K2209/40 ,  G06T7/571

Abstract: 成像系统包括：可定位装置，配置成轴向移动像平面，其中从发自物体并且经过透镜的光子来生成像平面；检测器平面，定位成接收经过透镜的物体的光子；以及计算机，编程为将透镜表征为数学函数，以相对于检测器平面的不同轴向位置的各元素图像的像平面来获取物体的两个或更多元素图像，基于透镜的表征并且基于所获取的两个或更多元素图像来确定物体离透镜的聚焦距离，并且基于所确定距离来生成物体的景深图。

公开(公告)号：CN104570382A

公开(公告)日：2015-04-29

申请号：CN201410388243.7

申请日：2014-08-08

Applicant: 通用电气公司

Inventor： D.C.格雷 ,  K.G.哈丁 ,  F.W.惠勒 ,  G.阿布拉莫维奇

IPC: G02B27/58

Abstract: 本发明为使用积分移位光学的图像超分辨率的设备和方法。本发明的图像捕获装置包括一种电光器件布置，其中具有偏振器、偏振敏感光学元件和偏振调制元件的布置。提供第一和第二偏振敏感光学元件，具有相对于与电光器件布置的光轴垂直的平面而位移的边缘。耦合到电光器件布置的控制系统控制电压对偏振调制元件的施加，以控制输入到偏振敏感光学元件的光的偏振旋转，使得改变偏振敏感光学元件的光程长度，以提供在不同焦平面的每个的对象图像的捕获。第一和第二偏振敏感光学元件响应对其输入的光的偏振旋转而生成在不同焦平面所捕获的相应对象图像之间的横向图像移位。

公开(公告)号：CN104570382B

公开(公告)日：2019-11-05

申请号：CN201410388243.7

申请日：2014-08-08

Applicant: 通用电气公司

Inventor： D.C.格雷 ,  K.G.哈丁 ,  F.W.惠勒 ,  G.阿布拉莫维奇

IPC: G02B27/58

Abstract: 本发明为使用积分移位光学的图像超分辨率的设备和方法。本发明的图像捕获装置包括一种电光器件布置，其中具有偏振器、偏振敏感光学元件和偏振调制元件的布置。提供第一和第二偏振敏感光学元件，具有相对于与电光器件布置的光轴垂直的平面而位移的边缘。耦合到电光器件布置的控制系统控制电压对偏振调制元件的施加，以控制输入到偏振敏感光学元件的光的偏振旋转，使得改变偏振敏感光学元件的光程长度，以提供在不同焦平面的每个的对象图像的捕获。第一和第二偏振敏感光学元件响应对其输入的光的偏振旋转而生成在不同焦平面所捕获的相应对象图像之间的横向图像移位。

公开(公告)号：CN103116739A

公开(公告)日：2013-05-22

申请号：CN201210286078.5

申请日：2012-08-13

Applicant: 通用电气公司

Inventor： M.M.达内什帕纳 ,  K.G.哈丁 ,  G.阿布拉莫维奇 ,  D.C.格雷

IPC: G06K9/00

CPC classification number: H04N5/23219 ,  G02B27/0075 ,  G06K9/00033 ,  G06K2209/40 ,  G06T7/571

Abstract: 成像系统包括：可定位装置，配置成轴向移动像平面，其中从发自物体并且经过透镜的光子来生成像平面；检测器平面，定位成接收经过透镜的物体的光子；以及计算机，编程为将透镜表征为数学函数，以相对于检测器平面的不同轴向位置的各元素图像的像平面来获取物体的两个或更多元素图像，基于透镜的表征并且基于所获取的两个或更多元素图像来确定物体离透镜的聚焦距离，并且基于所确定距离来生成物体的景深图。