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公开(公告)号：CN101853670A
公开(公告)日：2010-10-06
申请号：CN201010156298.7
申请日：2010-03-30
Applicant: HOYA株式会社
IPC: G11B5/84
CPC classification number: G11B5/8404 , G11B5/7315
Abstract: 本发明的磁盘用基板具有将相互相向的第一及第二主表面及与它们之间对应的端面连接起来的第一及第二倒角面，特别设定第一及第二倒角面的范围。具体地说，将从作为第一主表面与第一倒角面的边界的第一边界部到第一主表面与端面的延长线的交点的距离a、和从作为第二主表面与第二倒角面的边界的第二边界部到第二主表面与端面的延长线的交点的距离b设定成，满足a/b≥1.6。
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公开(公告)号：CN103151051B
公开(公告)日：2015-12-09
申请号：CN201310053742.6
申请日：2009-09-29
Applicant: HOYA株式会社
CPC classification number: C03C23/009 , C03C19/00 , C03C21/008 , C03C23/0075 , C03C2204/08 , C09G1/02 , G11B5/7315 , G11B5/8404 , G11B5/8408
Abstract: 本发明涉及磁盘用玻璃基板及磁盘。本发明的课题在于提供一种在算术平均粗糙度(Ra)为0.1nm附近的水平、表面存在的缺陷非常少、适合作为高记录密度磁盘用的基板的磁盘用基板及其制造方法。本发明的磁盘用玻璃基板的特征在于，使用原子力显微镜以2μm×2μm见方、256×256像素的分辨率测定的玻璃基板的主表面的算术平均粗糙度(Ra)为0.12nm以下，使用一边向所述玻璃基板的主表面照射波长632nm的氦氖激光，一边扫描时的入射光和反射光之间的波长差检测出的、以俯视为0.1μm～0.6μm的大小，且0.5nm～2nm的深度检测出的缺陷每24cm2不足10个。
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公开(公告)号：CN102077278A
公开(公告)日：2011-05-25
申请号：CN200980125007.3
申请日：2009-06-29
Applicant: HOYA株式会社
CPC classification number: G11B5/7315 , G11B5/82
Abstract: 本发明的课题在于提供一种可以应对HDD中的头的低浮上量化以及高速旋转化的磁盘用基板及其制造方法。本发明的玻璃基板的特征在于，在圆环状的磁记录介质用玻璃基板中，玻璃基板的主表面(12)从内周端(13)向外周端(14)同样地倾斜，呈现相对通过玻璃基板的中心的轴各向同性的形状。即，以通过玻璃基板的中心的轴为中心而相对任意角度的旋转是旋转对称的。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103151051A
公开(公告)日：2013-06-12
申请号：CN201310053742.6
申请日：2009-09-29
Applicant: HOYA株式会社
CPC classification number: C03C23/009 , C03C19/00 , C03C21/008 , C03C23/0075 , C03C2204/08 , C09G1/02 , G11B5/7315 , G11B5/8404 , G11B5/8408
Abstract: 本发明涉及磁盘用玻璃基板及磁盘。本发明的课题在于提供一种在算术平均粗糙度(Ra)为0.1nm附近的水平、表面存在的缺陷非常少、适合作为高记录密度磁盘用的基板的磁盘用基板及其制造方法。本发明的磁盘用玻璃基板的特征在于，使用原子力显微镜以2μm×2μm见方、256×256像素的分辨率测定的玻璃基板的主表面的算术平均粗糙度(Ra)为0.12nm以下，使用一边向所述玻璃基板的主表面照射波长632nm的氦氖激光，一边扫描时的入射光和反射光之间的波长差检测出的、以俯视为0.1μm～0.6μm的大小，且0.5nm～2nm的深度检测出的缺陷每24cm2不足10个。
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公开(公告)号：CN101853671A
公开(公告)日：2010-10-06
申请号：CN201010156311.9
申请日：2010-03-30
Applicant: HOYA株式会社
IPC: G11B5/84
CPC classification number: G11B5/8404
Abstract: 本发明的磁盘用基板的制造方法具有用研磨装置对盘状基板进行研磨加工的主表面研磨工序，该研磨装置具有夹持于一对平台之间、在保持多个盘状基板的状态进行自转并公转的载架，为了把盘状基板的一个主表面作为非研磨主表面，在研磨装置中，在一个主表面侧配设板状体的状态下配设载架，只对盘状基板的另一个主表面进行研磨加工。
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公开(公告)号：CN102077278B
公开(公告)日：2014-08-13
申请号：CN200980125007.3
申请日：2009-06-29
Applicant: HOYA株式会社
CPC classification number: G11B5/7315 , G11B5/82
Abstract: 本发明的课题在于提供一种可以应对HDD中的头的低浮上量化以及高速旋转化的磁盘用基板及其制造方法。本发明的玻璃基板的特征在于，在圆环状的磁记录介质用玻璃基板中，玻璃基板的主表面(12)从内周端(13)向外周端(14)同样地倾斜，呈现相对通过玻璃基板的中心的轴各向同性的形状。即，以通过玻璃基板的中心的轴为中心而相对任意角度的旋转是旋转对称的。
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公开(公告)号：CN102171756B
公开(公告)日：2013-08-07
申请号：CN200980138347.X
申请日：2009-09-29
Applicant: HOYA株式会社
CPC classification number: C03C23/009 , C03C19/00 , C03C21/008 , C03C23/0075 , C03C2204/08 , C09G1/02 , G11B5/7315 , G11B5/8404 , G11B5/8408
Abstract: 本发明的课题在于提供一种在算术平均粗糙度(Ra)为0.1nm附近的水平、表面存在的缺陷非常少、适合作为高记录密度磁盘用的基板的磁盘用基板及其制造方法。本发明的磁盘用玻璃基板的特征在于，使用原子力显微镜以2μm×2μm见方、256×256像素的分辨率测定的玻璃基板的主表面的算术平均粗糙度(Ra)为0.12nm以下，使用一边向所述玻璃基板的主表面照射波长632nm的氦氖激光，一边扫描时的入射光和反射光之间的波长差检测出的、以俯视为0.1μm～0.6μm的大小，且0.5nm～2nm的深度检测出的缺陷每24cm2不足10个。
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公开(公告)号：CN102171756A
公开(公告)日：2011-08-31
申请号：CN200980138347.X
申请日：2009-09-29
Applicant: HOYA株式会社
CPC classification number: C03C23/009 , C03C19/00 , C03C21/008 , C03C23/0075 , C03C2204/08 , C09G1/02 , G11B5/7315 , G11B5/8404 , G11B5/8408
Abstract: 本发明的课题在于提供一种在算术平均粗糙度(Ra)为0.1nm附近的水平、表面存在的缺陷非常少、适合作为高记录密度磁盘用的基板的磁盘用基板及其制造方法。本发明的磁盘用玻璃基板的特征在于，使用原子力显微镜以2μm×2μm见方、256×256像素的分辨率测定的玻璃基板的主表面的算术平均粗糙度(Ra)为0.12nm以下，使用一边向所述玻璃基板的主表面照射波长632nm的氦氖激光，一边扫描时的入射光和反射光之间的波长差检测出的、以俯视为0.1μm～0.6μm的大小，且0.5nm～2nm的深度检测出的缺陷每24cm2不足10个。
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