缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN110031511A

    公开(公告)日:2019-07-19

    申请号:CN201910317402.7

    申请日:2019-04-19

    Abstract: 一种缺陷检测装置,用于检测复合绝缘子金具压接处的缺陷,所述缺陷检测装置包括一固定装置、一电磁激励源、一红外热像采集仪、一电磁屏蔽罩及一放置台,所述固定装置具有一空腔,所述电磁激励源及红外热像采集仪固定在所述空腔内,所述放置台置于所述空腔内,所述固定装置的外部设置所述电磁屏蔽罩,所述电磁激励源用于发射电磁激励信号于所述复合绝缘子金具压接处,所述红外热像采集仪用于采集所述金具压接处的红外热图信息。本发明还提供一种复合绝缘子金具压接处的缺陷检测系统及缺陷检测方法。

    一种基于激光诱导击穿光谱技术的表面粗糙度测量方法

    公开(公告)号:CN109000597A

    公开(公告)日:2018-12-14

    申请号:CN201810898087.7

    申请日:2018-08-08

    CPC classification number: G01B11/306

    Abstract: 一种基于激光诱导击穿光谱技术的复合材料表面粗糙度测量方法,包括:S1、准备材料相同或相近但表面粗糙度不同的复合材料样品,并得到各样品的表面粗糙度;S2、使用激光诱导击穿光谱方法,用脉冲激光光束照射各复合材料样品的表面,获得等离子体特征光谱数据;S3、建立等离子体特征光谱数据与对应粗糙度的定标关系;S4、使用激光诱导击穿光谱方法,用脉冲激光光束照射待测复合材料的表面,获得对等离子体特征光谱数据;S5、根据S4得到的等离子体特征光谱数据,利用步骤S3得到的定标关系,确定待测复合材料的表面粗糙度。利用本方法可以对复合绝缘材料进行远程、带电的现场测试,快速获得精确的复合材料表面粗糙度。

    一种输电线路取能装置
    97.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105591408B

    公开(公告)日:2018-11-16

    申请号:CN201610120702.2

    申请日:2016-03-03

    Abstract: 本发明公开了一种输电线路取能装置,该装置包括:至少两个铁芯线圈,每个所述铁芯线圈的一次侧与输电线路连接,二次侧与整流电路的输入端连接,用于从输电线路上获取电流;至少两个整流电路,与所述铁芯线圈一一对应相连,所述整流电路的输出端与负载的输入端连接,用于当输电线路上的电流在预设范围内时,导通所连接的铁芯线圈与负载之间的通路,由所连接的铁芯线圈给负载供能;其中,各所述整流电路所对应的预设范围不同,各铁芯线圈的材料和匝数不同。该装置实现了当输电线路上的电流在不同范围内时,由整流电路自动切换取能铁芯线圈,达到了持续为负载供能的效果。

    支柱绝缘子界面缺陷及界面状态的检测方法

    公开(公告)号:CN108801970A

    公开(公告)日:2018-11-13

    申请号:CN201810596453.3

    申请日:2018-06-11

    CPC classification number: G01N21/3586

    Abstract: 本发明提供的一种支柱绝缘子界面缺陷和界面状态的检测方法,在支柱绝缘子主界面上选取若干空间点,设置太赫兹波在反射模式下获取每一空间点的太赫兹反射时域波形,每一空间点在所述主界面、所述第二界面、所述第一界面处依次形成主脉冲、第一回波脉冲及第二回波脉冲,比较每一空间点的太赫兹反射时域波形与非缺陷区域的太赫兹反射时域波形,当出现第三回波脉冲或所述回波脉冲能量变大时,相应的所述空间点所在检测平面上存在界面缺陷。本发明检测评估方法基于太赫兹波反射模式时域波形分析,检测准确度高、可操作性强,可行性可靠,能够满足对聚氨酯灌注式复合支柱绝缘子界面状态的评估工作要求。

    绝缘子表面污秽程度测量方法、装置及系统

    公开(公告)号:CN108693195A

    公开(公告)日:2018-10-23

    申请号:CN201810482720.4

    申请日:2018-05-18

    CPC classification number: G01N21/94 G01N21/35

    Abstract: 本申请提供一种绝缘子表面污秽程度测量方法、装置及系统,通过红外热像法利用绝缘子表面污秽积累分布的不均匀性造成的热物理性质差异带来的相应表面区域的温度变化差异来判断绝缘子表面污秽程度以及分布情况,能够实现对绝缘子表面污秽的在线监测,有利于实现对绝缘子绝缘状况的实时监测,进而在危害出现之前采取必要的措施,此外,目前实验室内进行污闪得一系列研究皆为在绝缘子表面涂污均匀人工污秽,所得试验结果与实际运行绝缘子数据差异较大,根据红外热像测量方法得到的绝缘子表面污秽分布情况指导实验室人工污秽试验,能够在人工污秽于自然污秽之间建立联系,得到能够适用于实际运行绝缘子上污闪规律的数据。

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