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公开(公告)号：CN116456369A
公开(公告)日：2023-07-18
申请号：CN202310435472.9
申请日：2023-04-21
Applicant: 机械工业仪器仪表综合技术经济研究所
IPC: H04W24/02 , H04L43/50 , H04L43/0852 , H04L43/0864 , H04L43/0894 , H04L43/08
Abstract: 本发明涉及一种5G工业应用的业务性能测试方法、系统、设备以及介质，其方法包括：依据获取的业务需求选择相应类别的5G工业应用，并针对所述5G工业应用的类别确定业务指标；依据所述业务指标和待测试终端的类型，选择网络时延测试方向或应用时延测试方向；在确定的测试方向下通过预先设置的测试设备和测试用例对所述待测试终端进行单向和/或双向时延测试。本发明依据客户需求搭建了一个满足客户业务需求且与实际运行场景贴近的模拟场景，达到了针对性测试的目的，减小了测量难度。同时，在测试中进行时延、带宽和可靠性等关键指标测量，充分考量了待测试终端的包括时效性、数据量以及系统稳定性等业务性能，提高了测试效率以及准确率。
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公开(公告)号：CN114716132B
公开(公告)日：2023-04-25
申请号：CN202210221075.7
申请日：2022-03-08
Applicant: 机械工业仪器仪表综合技术经济研究所
Abstract: 本公开提供了一种基于纳米粉末制备玻璃的方法，包括：按照玻璃各组分的质量百分比准备纳米粉末原料；将准备好的纳米粉末原料加入烧杯中，加入去离子水混合均匀，然后将烧杯放入超声水槽中，使混合均匀的纳米粉末原料充分振荡，消除粉末间的团聚；将充分振荡的纳米粉末原料放入真空箱内，抽真空并保持真空环境一段时间；将纳米粉末原料从真空箱取出并填入耐高温样品选定区域，在高温管式炉内进行烧结，纳米粉末原料在高温管式炉内经软化、回流、冷却，形成块状玻璃。利用本公开，节省了自制玻璃粉末的过程，缩短了制备时间，提高了制备效率，同时保障了粉末粒径的一致性，有效地解决了现有技术中存在的工艺过程耗时长等问题。
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公开(公告)号：CN109614800B
公开(公告)日：2023-02-21
申请号：CN201811492681.2
申请日：2018-12-07
Applicant: 机械工业仪器仪表综合技术经济研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于数字化车间的安全一体化风险确定系统及方法，由2个核心模块和4个辅助模块组成。核心模块包括：信息安全概要风险确定模块和功能安全详细风险确定模块，功能安全详细风险确定模块包含4个子模块：功能安全经典PHA风险确认子模块、基于PHA的信息安全影响分析子模块、基于场景的信息安全PHA风险确认子模块和综合分析确定子模块；辅助模块包括：矩阵模型库模块、知识库模块、报表模块和人员管理模块。本系统克服了人工风险确定概念容易混淆、书写不规范等缺点；是一种集成风险确定系统，保证了所有确认结果的一致性、可追溯性，提高了安全风险确定工作效率；充分考虑了信息安全和功能安全之间的关系和相互影响，为数字化车间提供了更为全面的风险确定系统及方法。
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公开(公告)号：CN115659615A
公开(公告)日：2023-01-31
申请号：CN202211262650.4
申请日：2022-10-14
Applicant: 机械工业仪器仪表综合技术经济研究所
IPC: G06F30/20 , G06F17/18 , G06F17/11 , G06F111/04
Abstract: 本发明公开了基于可靠性框图的随要求率和检测方案变化的PFD算法，结合工程实际，考虑随检验测试方案和功能要求率变化对其的影响，能够将整个计算过程中涉及到所有元件的设备信息和失效数据以及计算结果都可通过软件系统生成可靠性框图报表，便于清晰的展示SIF回路的可靠性框图，并通过展示出PFD和MTTF得出回路中各元件随机失效概率和架构约束对整体功能的影响，最终确定SIF回路随机失效概率PFD、风险降低因子RRF、随机失效的SIL、架构约束的SIL和SIF回路SIL等级；对于不同的表决结构MooN，开展安全仪表系统SIF回路进行建模计算，可以有效提高SIF回路计算平均失效概率PFD的结果的准确性。
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公开(公告)号：CN115632826A
公开(公告)日：2023-01-20
申请号：CN202211184751.4
申请日：2022-09-27
Applicant: 机械工业仪器仪表综合技术经济研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于5G工业互联网信息安全系统的量化测评方法，包括以下步骤：S1、对系统进行资产探测，获取资产列表；S2、判断被测评系统是否基于5G工业互联网，若是，则进行下一步，若否则进行步骤S4；S3、判断被测评系统是否部署信息安全防护措施，若是，则进行下一步，若否，则输出测评结果为0；S4、基于标识和鉴别控制IAC、使用控制UC、系统完整性SI、数据保密性DC、受限的数据流RDF、对事件的及时响应TRE、资源可用性RA进行量化测评，得到测评结果。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115423006A
公开(公告)日：2022-12-02
申请号：CN202211010197.8
申请日：2022-08-23
Applicant: 机械工业仪器仪表综合技术经济研究所
IPC: G06K9/62
Abstract: 本发明公开了基于服役时间的马尔可夫模型PFD和MTTFsp算法，本发明通过结合安全仪表功能的结构配置、检验测试间隔、检验测试覆盖率和服役时间计算得到马尔可夫模型的PFDavg、PFSavg和MTTFsp，PFD以该服役时间对应的平均值PFDavg来展示，PFS以服役时间对应的平均值PFSavg来展示，PFD为要求时危险失效概率，PFS为安全失效概率，PFDavg为要求时平均危险失效概率、PFSavg为平均安全失效概率、MTTFsp为平均无误动作故障时间；本发明结合了现场的结构配置、检验测试间隔、检验测试覆盖率和服役时间能够更真实地反映安全仪表功能的可靠性水平。
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公开(公告)号：CN115140702A
公开(公告)日：2022-10-04
申请号：CN202210723630.6
申请日：2022-06-23
Applicant: 机械工业仪器仪表综合技术经济研究所
Abstract: 本公开提供了一种基于高深宽比二氧化硅微纳结构的光学调制器的制备方法，包括：对硅晶圆正面进行刻蚀，形成硅微纳结构阵列；对硅晶圆背面进行刻蚀或腐蚀，完全释放出硅微纳结构阵列，同时在硅微纳结构阵列的外围形成支撑结构；对硅晶圆进行热氧化处理，将硅氧化为二氧化硅；在进行热氧化处理的硅晶圆表面沉积透明电极层；另取一块玻璃圆片，在玻璃圆片上加工出填充液出入口，并在玻璃圆片的一面沉积透明电极层；将玻璃圆片沉积有透明电极层的一面与二氧化硅微纳结构阵列外围的支撑结构进行键合，形成封闭腔体。本公开利用刻蚀结合热氧化工艺，实现了高深宽比的二氧化硅微纳结构阵列的制备，进而得到高深宽比的光学调制器。
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公开(公告)号：CN114985022A
公开(公告)日：2022-09-02
申请号：CN202210477661.8
申请日：2022-04-28
Applicant: 机械工业仪器仪表综合技术经济研究所
Abstract: 一种具有多环境参数的环境综合测试系统，包括压力腔、中空柱体、加热炉、振动台、压力控制系统和外部测试设备。压力腔设置于加热炉内部。加热炉为左右开合结构且底面设有通孔，固定于振动台之上，中空柱体穿过加热炉底面的通孔，振动台通过中空柱体驱动压力腔在加热炉的高温环境中做往复振动运动。压力腔底面设有待测对象的安装通道和压力输入通道，待测对象通过安装通道伸入压力腔内部，待测对象后端的信号传输线缆和压力输入导管穿过中空柱体内部，由中空柱体底部豁口引出，分别与外部测试设备和压力控制系统连接。利用本公开，能够模拟高温、压力、振动的单一或复合测试环境，有效验证待测对象在相应工况下的性能、稳定性和可靠性。
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公开(公告)号：CN114697241A
公开(公告)日：2022-07-01
申请号：CN202210360209.3
申请日：2022-04-07
Applicant: 机械工业仪器仪表综合技术经济研究所
IPC: H04L43/0852 , H04L43/50
Abstract: 本发明公开一种端到端的时延测试系统及方法，系统包括：通用测试设备、专用测试设备、工业网络以及待测客户端，其中，通用测试设备，用于获取预设测试点的数据包，并对数据包的通信报文进行时间标注；专用测试设备，用于对待测客户端进行功能配置；工业网络，用于实现测试过程中的数据通信。本发明通过确定端到端时延，在模拟实际运行的网络环境中，对待测客户端进行测试后，模拟满负荷数据通信、网络中断/恢复、随机发起数据访问请求等场景，保证了测试满足数据量以及系统稳定性等要求，提高了测试效率以及准确率，并且保证了设备在复杂网络环境下的可用性和长期运行稳定性。
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公开(公告)号：CN114563038A
公开(公告)日：2022-05-31
申请号：CN202210177906.5
申请日：2022-02-25
Applicant: 机械工业仪器仪表综合技术经济研究所
Abstract: 本发明公开了一种面向馆藏文物环境的智能监测系统及方法，包括：监测模块、数据库、算法模块、数据类比模块、警示模块和调节模块；所述监测模块包括一个以上设于不同位置的温湿传感器；所述监测模块、所述数据库、所述算法模块、所述数据类比模块、所述警示模块和所述调节模块依次连接；通过室内外传感器组对室内外不同位置进行环境监控，同时通过算法模块将数据库内室内外环境数据进行差异计算并进行数据类比，将异常数据上报，通过异常特征启动对应装置进行环境调节，有利于提高馆藏文物环境监测的准确性，并对即将出现的温度和湿度变化做出相应的调整。
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