一种180°大视场双目宽波段高精度激光告警系统

    公开(公告)号:CN114740542A

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN202210325924.3

    申请日:2022-03-30

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明属于激光告警系统技术领域,具体涉及一种180°大视场双目宽波段高精度激光告警系统,包括视场压缩系统、粗略测量角度部分、精确测量角度部分、控制及数据处理电路,所述视场压缩系统设置在来袭激光的光路方向上,所述视场压缩系统的光路方向上并列设置有粗略测量角度部分、精确测量角度部分,所述粗略测量角度部分、精确测量角度部分均通过导线电性连接有控制及数据处理电路。本发明包含并行的两个测量部分,上层是粗略测量角度部分,下层是精确测量角度部分,本发明突破了传统激光告警机的局限性,采用超大视场的鱼眼镜头和二维光栅,可实现180°超大视场的激光告警,且角度分辨率和波长分辨率较高,探测波长范围可覆盖0.4~1.6μm。

    一种基于光谱调制阵列的快照式高光谱成像芯片结构

    公开(公告)号:CN114739511A

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN202210288415.8

    申请日:2022-03-23

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明属于高光谱成像技术领域,具体涉及一种基于光谱调制阵列的快照式高光谱成像芯片结构,包括快照式高光谱成像芯片、被测光通过透镜阵列,所述被测光通过透镜阵列设置在快照式高光谱成像芯片的正下方,所述快照式高光谱成像芯片包括面阵探测器和光谱调制阵列,所述面阵探测器设置在光谱调制阵列上,所述光谱调制阵列与被测光通过透镜阵列一一对应。本发明无需分光元件、体积小、光谱分辨率率高、芯片级,且单次成像就可实现高光谱成像探测,速度快;本发明采用光谱调制阵列,实现快照式光谱透过率调制测量矩阵,结合压缩感知理论实现高光谱成像;且本发明是芯片级,前置光学系统简单,易于集成,无需扫描,且光谱通道数多。

    一种微秒级快轴可调弹光调制超高速广义椭偏测量装置

    公开(公告)号:CN114609049A

    公开(公告)日:2022-06-10

    申请号:CN202210242500.0

    申请日:2022-03-11

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明属于椭偏测量装置技术领域,具体涉及一种微秒级快轴可调弹光调制超高速广义椭偏测量装置,包括起偏臂、检偏臂和样本台,所述起偏臂的光路方向上依次设置有检偏臂、样本台;所述起偏臂包括光源、起偏器和第一快轴可调圆形弹光调制器,所述光源的光路方向上依次设置有起偏器、第一快轴可调圆形弹光调制器,所述第一快轴可调圆形弹光调制器的光路方向上设置有样本台。本发明采用的椭偏测量方法具有单次测量、测量精度高、标定简单、光谱范围宽等优点。本发明提出的测量装置,较机械旋转速度可提高3‑4个数量级,采用的45°双驱动快轴可调圆形弹光调制器具有光谱范围宽、调制速度快、稳定性高等优质的偏振调制性能。

    一种基于FPGA的高精度三级延时系统与方法

    公开(公告)号:CN112327694B

    公开(公告)日:2022-01-21

    申请号:CN202011215464.6

    申请日:2020-11-04

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明属于取样示波器精密延时技术领域,具体涉及一种基于FPGA的高精度三级延时系统与方法,包括精密延时模块、细延时模块、FPGA模块、输出选择模块、时基放大压缩模块,所述FPGA模块分别与精密延时模块、细延时模块、输出选择模块连接,所述精密延时模块连接有细延时模块,所述细延时模块连接有输出选择模块,所述输出选择模块与时基放大压缩模块连接。本发明精密延时采用高精度专用延时芯片,延时分辨率高,可达0.1ps;本发明采用三级延时电路设计,延时范围大;本发明采用时基放大压缩模块设计,可以对精密延时信号进行幅度放大及下降沿压缩,驱动取样器对射频信号进行采样。本发明用于信号的延时。

    一种基于双脊形波导的磁阻芯片标定测试系统及方法

    公开(公告)号:CN111123187B

    公开(公告)日:2022-01-11

    申请号:CN202010072007.X

    申请日:2020-01-21

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明属于标定测试技术领域,具体涉及一种基于双脊形波导的磁阻芯片标定测试系统及方法,包括磁阻芯片场强检测系统、强电磁辐射产生装置,磁阻芯片场强检测系统包括磁阻探头检测模块、电源模块、示波器,所述强电磁辐射产生装置包括射频信号源、波同转换器、双脊形波导,双脊形波导的两端分别连接有波同转换器,磁阻探头检测模块设置在双脊形波导的内部,射频信号源通过波同转换器与双脊形波导连接,磁阻探头检测模块通过导线分别与电源模块、示波器连接。本发明通过射频信号源施加激励信号,可在双脊形波导内部产生电磁场,适合隧道磁阻芯片在宽频带范围内进行标定,并且场强可以在一定范围内保持均匀。本发明用于磁阻芯片的标定测试。

    一种辅助回路最低损耗的无桥双升软开关整流器

    公开(公告)号:CN111769754B

    公开(公告)日:2021-05-28

    申请号:CN202010648778.9

    申请日:2020-07-08

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明属于电力电子变流技术领域,具体涉及一种辅助回路最低损耗的无桥双升软开关整流器,包括主电路和辅助电路,所述主电路包括第一主开关管、第一主整流二极管,所述第一主开关管的漏极与第一主整流二极管的正极均连接在P点上,构成主回路左桥臂;所述第二主开关管的漏极与第二主整流二极管的正极均连接在Q点上,构成主回路右桥臂;所述第一主开关管的源极、第二主开关管的源极均与直流母线的负极连接,所述第一主整流二极管的负极、第二主整流二极管的负极均与直流母线的正极连接。本发明实现了主回路开关和辅助回路开关的零电压开通,吸收电容设计使得关断损耗减小,使整流器效率得到了大幅度提高。本发明用于整流。

    一种用于多种芯片的导电胶夹具

    公开(公告)号:CN112276816A

    公开(公告)日:2021-01-29

    申请号:CN202011123699.2

    申请日:2020-10-20

    Abstract: 本发明属于微波测试技术领域,具体涉及一种用于多种芯片的导电胶夹具,所述大射频PCB测试板设置在夹具底座上,所述大射频PCB测试板上设置有带有放射频芯片夹具小射频PCB测试板,所述带有放射频芯片夹具小射频PCB测试板上设置有夹具盖,所述夹具底座与夹具盖铰接,所述大射频PCB测试板、带有放射频芯片夹具小射频PCB测试板通过夹具底座与夹具盖压合。本发明可以通过不断的更换相应的小射频PCB测试板进行测试,无需多次进行线路的连接,节省时间,易于操作;本发明通过限位凸台可以很好的解决大小射频PCB测试板的贴合不准的问题。本发明通过按压块可以很好的解决大小射频PCB测试板的贴合不充分的问题。本发明用于射频芯片的测试。

    一种取样器的低抖动超窄脉宽本振信号发生装置及方法

    公开(公告)号:CN112165324A

    公开(公告)日:2021-01-01

    申请号:CN202011094690.3

    申请日:2020-10-14

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明属于本振信号发生技术领域,具体涉及一种取样器的低抖动超窄脉宽本振信号发生装置及方法,包括低抖动时钟产生模块、高速低抖动分频器模块、FPGA模块、时基放大模块,所述低抖动时钟产生模块的输出端连接有高速低抖动分频器模块的输入端,所述FPGA模块的控制通信模块分别与低抖动时钟产生模块、高速低抖动分频器模块的通信接口连接,所述高速低抖动分频器模块与时基放大模块连接。本发明利用低抖动时钟发生电路得到低抖动时钟信号,通过功分放大电路得到超窄脉冲信号,驱动50GHz取样器工作,本发明中时基信号抖动性能优异,确保了高速数据总线和集成电路的高可靠性,保证了时基信号的质量。本发明用于本振信号的发生。

    一种基于等时间间隔等效取样的波形恢复数据处理方法

    公开(公告)号:CN112129983A

    公开(公告)日:2020-12-25

    申请号:CN202011021173.3

    申请日:2020-09-25

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明属于波形恢复数据处理技术领域,具体涉及一种基于等时间间隔等效取样的波形恢复数据处理方法,包括下列步骤:S1、采用等时间间隔脉冲信号对超高频信号进行等效取样;S2、在频域内逐次逼近超高频信号的幅值最大值所对应的频率值;S3、通过欠取样时域波形和频率值的确定,重建原始信号。所述S1中对超高频信号进行取样的方法为:采用三个相邻采样频率对被测超高频信号分别进行取样,得到采样值。本发明采用三个相邻采样频率对被测信号进行取样,可克服被测信号含有整倍频采样率成分时的漏频问题,同时也可以基于三个不同取样率的取样信号进行频谱信号的频率计算。本发明用于波形的恢复及数据处理。

    一种基于双脊形波导的磁阻芯片标定测试系统及方法

    公开(公告)号:CN111123187A

    公开(公告)日:2020-05-08

    申请号:CN202010072007.X

    申请日:2020-01-21

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明属于标定测试技术领域,具体涉及一种基于双脊形波导的磁阻芯片标定测试系统及方法,包括磁阻芯片场强检测系统、强电磁辐射产生装置,磁阻芯片场强检测系统包括磁阻探头检测模块、电源模块、示波器,所述强电磁辐射产生装置包括射频信号源、波同转换器、双脊形波导,双脊形波导的两端分别连接有波同转换器,磁阻探头检测模块设置在双脊形波导的内部,射频信号源通过波同转换器与双脊形波导连接,磁阻探头检测模块通过导线分别与电源模块、示波器连接。本发明通过射频信号源施加激励信号,可在双脊形波导内部产生电磁场,适合隧道磁阻芯片在宽频带范围内进行标定,并且场强可以在一定范围内保持均匀。本发明用于磁阻芯片的标定测试。

Patent Agency Ranking