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公开(公告)号：CN116804837A
公开(公告)日：2023-09-26
申请号：CN202310296132.2
申请日：2023-03-23
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 古田泰友
IPC: G03G15/04 , G03G15/043
Abstract: 本发明涉及图像形成装置。图像形成装置包括发光芯片和至少一个处理器。发光芯片包括多个发光元件、输出对应于设定值的电压的DAC和基于电压向所述多个发光元件供给电流的电路单元。至少一个处理器被配置为设定设定值使得包含于所述多个发光元件中的一个发光元件发射预定量的光，并且基于用于校正分别由所述多个发光元件发射的光的量的第一校正数据校正分别对应于所述多个发光元件的图像数据。电路单元基于校正后的图像数据向所述多个发光元件中的每一个供给电流。
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公开(公告)号：CN110618591B
公开(公告)日：2022-05-24
申请号：CN201910523865.9
申请日：2019-06-18
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 古田泰友
IPC: G03G15/04
Abstract: 一种图像形成装置包括：曝光头，其包括布置在与感光构件的旋转方向相交的相交方向上的发光元件，从而以第一分辨率形成图像，第一分辨率对应于所述相交方向上的发光元件；数据生成单元，被配置为生成对应于第二分辨率且与像素数据的位置相关联的像素数据，第二分辨率高于第一分辨率；校正单元，被配置为校正位置与像素数据之间的关联性来调节图像在所述相交方向上的位置；转换单元，被配置为将对应于第二分辨率的像素数据转换为对应于第一分辨率的像素数据；以及驱动单元，被配置为基于对应于第一分辨率的像素数据驱动发光元件。
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公开(公告)号：CN114270277A
公开(公告)日：2022-04-01
申请号：CN202080058392.0
申请日：2020-08-19
Applicant: 佳能株式会社
IPC: G03G15/04
Abstract: 曝光头106设置有多个发光元件阵列芯片400。从作为多个发光元件阵列芯片中的每一个的两个长边之一的第一边402B到密封区域409的平行于且靠近第一边的一个长边409B的第一距离(wa2‑wb2)比从作为两个长边中的另一边的第二边402T到密封区域的平行于且靠近第二边的另一个长边409T的第二距离(wa3‑wb3)短。从第一边到发光区域404的平行于且靠近第一边的一个长边404B的第三距离wa2比从第二边到发光区域的平行于且靠近第二边的另一个长边404T的第四距离wa3短。
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公开(公告)号：CN110618591A
公开(公告)日：2019-12-27
申请号：CN201910523865.9
申请日：2019-06-18
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 古田泰友
IPC: G03G15/04
Abstract: 一种图像形成装置包括：曝光头，其包括布置在与感光构件的旋转方向相交的相交方向上的发光元件，从而以第一分辨率形成图像，第一分辨率对应于所述相交方向上的发光元件；数据生成单元，被配置为生成对应于第二分辨率且与像素数据的位置相关联的像素数据，第二分辨率高于第一分辨率；校正单元，被配置为校正位置与像素数据之间的关联性来调节图像在所述相交方向上的位置；转换单元，被配置为将对应于第二分辨率的像素数据转换为对应于第一分辨率的像素数据；以及驱动单元，被配置为基于对应于第一分辨率的像素数据驱动发光元件。
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公开(公告)号：CN105074403B
公开(公告)日：2017-05-17
申请号：CN201480009066.5
申请日：2014-01-29
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 古田泰友
CPC classification number: G01J3/0286 , G01J3/502 , G03G15/043
Abstract: 一种测量装置，包括：发光部件，用于发光；光接收部件，用于接收来自测量目标的反射光，该光接收部件包括多个光接收元件；检测部件，用于检测发光部件的温度；确定部件，用于基于接收来自基准元件的反射光的结果和由检测部件检测的发光部件的温度来确定光接收部件的每个光接收元件和来自测量目标的反射光的波长之间的对应关系；以及输出部件，用于基于接收来自测量目标的反射光的结果和由确定部件确定的对应关系来输出关于测量目标的光谱反射率信息。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103631110A
公开(公告)日：2014-03-12
申请号：CN201310365278.4
申请日：2013-08-21
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 古田泰友
CPC classification number: G03G15/5062 , G03G21/20
Abstract: 本公开涉及用于形成测量图像的图像形成装置。图像形成装置包括配置为用光照射测量图像并测量从测量图像反射的光的测量单元，置于与测量单元相对的位置的白色基准板，配置为基于测量单元获取的白色基准板的测量结果校正测量图像的测量结果的校正单元，以及配置为检测测量单元附近的温度的温度检测单元，其中在温度检测单元检测的温度和前一次测量白色基准板时显示的温度之间的差小于预定值的情况下，校正单元使用白色基准板的前一次测量结果来校正测量图像的测量结果，而不用测量单元测量白色基准板。
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公开(公告)号：CN103631108A
公开(公告)日：2014-03-12
申请号：CN201310363101.0
申请日：2013-08-20
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 古田泰友
CPC classification number: G01J3/46 , G01J3/0232 , G01J3/027 , G01J3/502 , G01J3/524 , G03G15/5062 , G03G15/55
Abstract: 一种用于形成测量图像的图像形成装置，该图像形成装置包括：图像形成单元，被配置为在片材上形成测量图像；测量单元，被配置为经由透明窗口将光照射在测量图像上，并测量从测量图像反射的光；白色基准板，其白色级别由测量单元测量；黑色构件，其黑色级别由测量单元测量；以及确定单元，被配置为基于由测量单元测量的白色基准板的测量结果的变化和黑色构件的测量结果的变化来确定白色基准板、黑色构件或窗口是否被弄脏。
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公开(公告)号：CN118331009A
公开(公告)日：2024-07-12
申请号：CN202410404974.X
申请日：2020-08-19
Applicant: 佳能株式会社
IPC: G03G15/04
Abstract: 本公开涉及曝光头和图像形成装置。曝光头106设置有多个发光元件阵列芯片400。从作为多个发光元件阵列芯片中的每一个的两个长边之一的第一边402B到密封区域409的平行于且靠近第一边的一个长边409B的第一距离(wa2‑wb2)比从作为两个长边中的另一边的第二边402T到密封区域的平行于且靠近第二边的另一个长边409T的第二距离(wa3‑wb3)短。从第一边到发光区域404的平行于且靠近第一边的一个长边404B的第三距离wa2比从第二边到发光区域的平行于且靠近第二边的另一个长边404T的第四距离wa3短。
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公开(公告)号：CN114270277B
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202080058392.0
申请日：2020-08-19
Applicant: 佳能株式会社
Abstract: 曝光头106设置有多个发光元件阵列芯片400。从作为多个发光元件阵列芯片中的每一个的两个长边之一的第一边402B到密封区域409的平行于且靠近第一边的一个长边409B的第一距离(wa2‑wb2)比从作为两个长边中的另一边的第二边402T到密封区域的平行于且靠近第二边的另一个长边409T的第二距离(wa3‑wb3)短。从第一边到发光区域404的平行于且靠近第一边的一个长边404B的第三距离wa2比从第二边到发光区域的平行于且靠近第二边的另一个长边404T的第四距离wa3短。
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公开(公告)号：CN116804838A
公开(公告)日：2023-09-26
申请号：CN202310302874.1
申请日：2023-03-23
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 古田泰友
IPC: G03G15/04 , G03G15/043
Abstract: 本发明涉及图像形成装置。一种图像形成装置包括：至少一个处理器和电路单元，所述至少一个处理器被配置为基于第一图像数据生成对应于所述多个发光元件中的每一个的第二图像数据，第二图像信息指示是否使所述多个发光元件中的每一个发光，以及基于校正信息，将指示发光元件要发光的第一图像数据改变为指示该发光元件不要发光的第二图像数据，以及电路单元被配置为基于第二图像数据向所述多个发光元件中的每一个供给电流。
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