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公开(公告)号:CN102551660B
公开(公告)日:2015-08-05
申请号:CN201110430451.5
申请日:2011-12-20
Applicant: 佳能株式会社
Inventor: 野里宏治
CPC classification number: A61B3/12 , A61B3/1015
Abstract: 本发明涉及一种眼底摄像方法和眼底摄像设备。该眼底摄像设备包括:像差测量单元,用于测量通过利用测量光照射被检体所获得的反射光的像差;像差校正单元,用于根据测量出的像差来校正光的像差;控制单元,用于对像差测量单元和像差校正单元所进行的处理进行重复控制;以及改变单元,用于根据像差测量单元所获得的测量结果和控制单元所获得的控制结果的至少之一,将表示像差的预定阶次的第一函数改变为包括比预定阶次高的阶次的第二函数。像差校正单元校正由第二函数所表示的像差。
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公开(公告)号:CN102068235B
公开(公告)日:2013-08-07
申请号:CN201010548646.5
申请日:2010-11-18
Applicant: 佳能株式会社
Inventor: 野里宏治
CPC classification number: G01N21/4795 , A61B3/14 , G01N2021/1787 , G02B26/06 , G02B26/0825
Abstract: 本发明涉及成像装置和成像方法。成像装置包括:被配置为用来自光源的光照射测量对象的照射单元;被配置为校正在从测量对象返回的光中出现的测量对象的像差的像差校正单元,该返回光是由经由与照射单元的中心轴不同的区域照射测量对象的光提供的;和被配置为基于从测量对象返回的光而获得测量对象的图像的图像获得单元,该返回光是由在通过像差校正单元校正像差之后被提供并经由照射单元的中心轴照射测量对象的光提供的。
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公开(公告)号:CN101674770B
公开(公告)日:2013-02-20
申请号:CN200880014383.0
申请日:2008-04-03
Applicant: 佳能株式会社
Abstract: 一种图像形成方法,对光轴方向上的对象的多条图像信息使用光学相干层析成像法。相对于对象的光轴方向在第一焦点位置处获得对象的第一图像信息。通过动态聚焦从第一焦点到第二焦点来改变聚焦位置。在第二焦点处获得对象的第二图像信息。通过傅立叶域光学相干层析成像法获得第三图像信息,该信息为对象的层析成像图像信息并且包括第一焦点或第二焦点的层析成像图像。使用第三图像信息,以第一图像信息和第二图像信息之间沿光轴方向的位置关系形成对象的层析成像图像或三维图像。
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公开(公告)号:CN102551660A
公开(公告)日:2012-07-11
申请号:CN201110430451.5
申请日:2011-12-20
Applicant: 佳能株式会社
Inventor: 野里宏治
CPC classification number: A61B3/12 , A61B3/1015
Abstract: 本发明涉及一种眼底摄像方法和眼底摄像设备。该眼底摄像设备包括:像差测量单元,用于测量通过利用测量光照射被检体所获得的反射光的像差;像差校正单元,用于根据测量出的像差来校正光的像差;控制单元,用于对像差测量单元和像差校正单元所进行的处理进行重复控制;以及改变单元,用于根据像差测量单元所获得的测量结果和控制单元所获得的控制结果的至少之一,将表示像差的预定阶次的第一函数改变为包括比预定阶次高的阶次的第二函数。像差校正单元校正由第二函数所表示的像差。
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公开(公告)号:CN102068235A
公开(公告)日:2011-05-25
申请号:CN201010548646.5
申请日:2010-11-18
Applicant: 佳能株式会社
Inventor: 野里宏治
CPC classification number: G01N21/4795 , A61B3/14 , G01N2021/1787 , G02B26/06 , G02B26/0825
Abstract: 本发明涉及成像装置和成像方法。成像装置包括:被配置为用来自光源的光照射测量对象的照射单元;被配置为校正在从测量对象返回的光中出现的测量对象的像差的像差校正单元,该返回光是由经由与照射单元的中心轴不同的区域照射测量对象的光提供的;和被配置为基于从测量对象返回的光而获得测量对象的图像的图像获得单元,该返回光是由在通过像差校正单元校正像差之后被提供并经由照射单元的中心轴照射测量对象的光提供的。
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公开(公告)号:CN102058390A
公开(公告)日:2011-05-18
申请号:CN201010547484.3
申请日:2010-11-17
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: A61B3/14
Abstract: 本发明涉及一种自适应光学设备、自适应光学方法和成像设备。所述自适应光学设备包括:像差测量单元,其测量由被检对象引起的像差,基于从被检对象返回的返回光测量所述像差;像差校正单元,其根据通过像差测量单元测量的像差执行像差校正;照射单元,其用经像差校正单元校正的光照射被检对象;以及,获取单元,其基于通过像差测量单元测量的像差获取基于被检对象的透射率的信息。
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