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公开(公告)号：CN1213415C
公开(公告)日：2005-08-03
申请号：CN99123549.5
申请日：1999-11-09
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/12
CPC classification number: G11B7/139 , G11B7/1353
Abstract: 一种光盘装置，从半导体激光器向光盘的光束来路中物镜的开口大于从光盘开始的回路中物镜的开口，且在记录和重放时可改变该开口。由于光在高开口下被聚焦在光盘上，所以记录重放能力提高，同时由于在低开口下进行来自光盘的反射光的检测，所以也不损失相对于倾斜和散焦的裕量，同时由于可除去反射光中不需要的信号成分，所以也可提高信息信号的S/N，以实现高性能的光盘装置。可获得不损失重放品质的记录密度和记录品质高的光盘装置。
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公开(公告)号：CN1271931A
公开(公告)日：2000-11-01
申请号：CN00106981.0
申请日：2000-04-24
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/12
CPC classification number: G11B7/1263 , G11B7/1362 , G11B7/1378 , G11B7/1398 , G11B2007/13725
Abstract: 用少量部件的简单构造来实现具有高频响应性的光量控制和校正半导体激光器的像散差。从半导体激光器101输出的光束通过光反射元件107,使其周边光束进入前光监视光电检测器103。把光反射元件的反射面做成变形非球面,以提供高频响应性。把光反射元件放置得倾斜一预定角度,以补偿半导体激光器的像散差。此外,把光电检测器沿这样的方向放置,从而使反射光108被弯折,减小了调整光反射元件时它的平移量。
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公开(公告)号：CN100492504C
公开(公告)日：2009-05-27
申请号：CN200380101613.4
申请日：2003-10-16
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/133 , G11B7/0943 , G11B7/131 , G11B7/1353 , G11B2007/0013
Abstract: 本发明提供一种光盘装置。通过与光轴交叉的直线，全息部件(4)被分割成n个区域(Ak)，光检测器(7)至少被分割成2个区域A、A’。由具有多个信号面的光盘的第1信号面(6a)反射的光和由第2信号面(6b)反射的光，分别成为入射到全息部件(4)中的光a、a’，光a、a’分别派生具有共同的衍射光轴的1级衍射光ak、ak’，投射在光检测器(7)上。1级衍射光ak、ak’在光检测器(7)上的分布，相对于衍射光轴和检测面的交点大致反转，1级衍射光ak大致包含在区域A内，1级衍射光ak’大致包含在区域(A’)内。
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公开(公告)号：CN1969330A
公开(公告)日：2007-05-23
申请号：CN200680000336.1
申请日：2006-03-15
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/12
CPC classification number: G11B7/121
Abstract: 本发明的光拾取装置(11)，包括：发出光束的光源(1)、将光束聚焦到信息记录介质(14)的聚焦元件(5)、在聚焦元件(5)和信息记录介质(14)对置时比聚焦元件(5)更向信息记录介质(14)侧突出的突出部件(101)。突出部件(101)具有沿着信息记录介质(14)旋转的切线方向(21)向信息记录介质(14)侧缓缓突出的形状。
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公开(公告)号：CN1287169C
公开(公告)日：2006-11-29
申请号：CN03136457.8
申请日：1999-11-09
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/139 , G11B7/1353
Abstract: 一种光学元件，该光学元件可透过波长为λ1的光和有比λ1长的波长为λ2的光，其特征在于，该光学元件包括：利用两片玻璃基板夹置由双折射性材料构成的衍射格栅、和N为任意自然数时光学厚度为(N+1/4)λ1的波长膜的偏光性全息照相元件部分；和设置在其中一片该玻璃基板上，相对于穿过元件的两个波长λ1和λ2(λ1＜λ2)的光，分别具有不同开口面积的薄膜结构。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1705992A
公开(公告)日：2005-12-07
申请号：CN200380101613.4
申请日：2003-10-16
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/133 , G11B7/0943 , G11B7/131 , G11B7/1353 , G11B2007/0013
Abstract: 本发明提供一种光盘装置。通过与光轴交叉的直线，全息部件(4)被分割成n个区域(Ak)，光检测器(7)至少被分割成2个区域A、A’。由具有多个信号面的光盘的第1信号面(6a)反射的光和由第2信号面(6b)反射的光，分别成为入射到全息部件(4)中的光a、a’，光a、a’分别派生具有共同的衍射光轴的1级衍射光ak、ak’，投射在光检测器(7)上。1级衍射光ak、ak’在光检测器(7)上的分布，相对于衍射光轴和检测面的交点大致反转，1级衍射光ak大致包含在区域A内，1级衍射光ak’大致包含在区域(A’)内。
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公开(公告)号：CN1560842A
公开(公告)日：2005-01-05
申请号：CN200410004045.2
申请日：2000-04-24
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/12
CPC classification number: G11B7/1263 , G11B7/1362 , G11B7/1378 , G11B7/1398 , G11B2007/13725
Abstract: 用少量部件的简单构造来实现具有高频响应性的光量控制和校正半导体激光器的像散差。从半导体激光器101输出的光束通过光反射元件107，使其周边光束进入前光监视光电检测器103。把光反射元件的反射面做成变形非球面，以提供高频响应性。把光反射元件放置得倾斜一预定角度，以补偿半导体激光器的像散差。此外，把光电检测器沿这样的方向放置，从而使反射光108被弯折，减小了调整光反射元件时它的平移量。
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公开(公告)号：CN1516143A
公开(公告)日：2004-07-28
申请号：CN03136458.6
申请日：1999-11-09
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/139 , G11B7/1353
Abstract: 一种光信息处理装置，包括光源、将来自光源的光聚焦在信息记录介质上的物镜、配置在该物镜和该光源之间且设定该物镜开口的开口元件、微小控制该物镜位置的调节器和检测从该信息记录介质反射的光的光检测器，其特征在于，在记录和重放中可改变物镜的开口。
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公开(公告)号：CN1515916A
公开(公告)日：2004-07-28
申请号：CN03136457.8
申请日：1999-11-09
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/139 , G11B7/1353
Abstract: 一种光学元件，该光学元件可透过波长为λ1的光和有比λ1长的波长为λ2的光，其特征在于，该光学元件包括：利用两片玻璃基板夹置由双折射性材料构成的衍射格栅、和N为任意自然数时光学厚度为(N+1/4)λ1的波长膜的偏光性全息照相元件部分；和设置在其中一片该玻璃基板上，相对于穿过元件的两个波长λ1和λ2(λ1＜λ2)的光，分别具有不同开口面积的薄膜结构。
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公开(公告)号：CN1476000A
公开(公告)日：2004-02-18
申请号：CN03178457.7
申请日：2003-07-17
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/135
CPC classification number: G11B7/1398 , G11B7/0912 , G11B7/1381
Abstract: 本发明提供一种基于0级衍射光束和1级衍射光束可以获得良好检测信号的光学头。该光学头包括：用于对来自光源的光束进行整形的整形元件；用于将已被整形元件整形后的光束会聚到光学记录介质上的会聚元件；基于包含在已被光学记录介质反射后的光束内的0级衍射光束和1级衍射光束，用于检测电信号的检测器。采用可摆动方式设置整形元件，从而0级衍射光束入射到检测器上的光点位置和1级衍射光束入射到检测器上的光点位置之间的距离可以被调整。
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