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公开(公告)号：CN100487599C
公开(公告)日：2009-05-13
申请号：CN200410064489.5
申请日：1998-06-25
Applicant: 株式会社理光
Abstract: 写入单元调整方法及写入单元调整装置，利用区域型固体摄象元件获取各个位置处的光束图象，依据由区域型固体摄象元件在光束行进方向上的各位置处获取到的各光束图象，通过计算出光束在各个位置处的光束直径的方式求解出相对深度方向的光束直径，并由光束直径和深度求解出表示光束直径与深度之间关系的深度曲线，依据该深度曲线特别指定光束腰部直径位置，并且由这一光束腰部直径位置和基准位置之间的差求解出光束腰部直径位置的修正量，并根据利用这一光束特性评价方法获得光束腰部直径位置的修正量，为了调整由激光光源至被扫描面之间的光路长度，按增加和减少成象单元与写入单元之间的间隔的方式移动这两个组件中的至少一个的光路长度调整组件。
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公开(公告)号：CN101165536A
公开(公告)日：2008-04-23
申请号：CN200710181332.4
申请日：2007-10-18
Applicant: 株式会社理光
CPC classification number: G02B26/123 , B41J2/473
Abstract: 本发明的光扫描器，通过使用单个偏转器偏转多束光束进行扫描。该光扫描器包括配置为发出多束光束并且分别包括一光源的多个预扫描光学系统。第一预扫描光学系统发出将由偏转单元偏转的第一光束。第二预扫描光学系统发出第二光束，并设置于在偏转器的转轴方向上与第一预扫描光学系统其位置不同的位置。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN1306313C
公开(公告)日：2007-03-21
申请号：CN200410085722.8
申请日：2004-10-15
Applicant: 株式会社理光
CPC classification number: G02B26/125
Abstract: 本发明涉及光学元件的定位夹具，定位方法，光学元件，光扫描装置及粘接方法。光学元件(5)具有至少一个被复制面(25)，从若干光源(2)发出光，被偏转，用该被偏转的光束进行光扫描，定位夹具(11)将光轴中心(23)和光学元件的长度方向的曲率半径中心定位在同轴上。不用极端地提高光学元件的精度，能实现沿扫描方向的高精度对位，使用通用的光学元件，能简易地实现光学元件多层配置定位。
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公开(公告)号：CN1609652A
公开(公告)日：2005-04-27
申请号：CN200410085722.8
申请日：2004-10-15
Applicant: 株式会社理光
CPC classification number: G02B26/125
Abstract: 本发明涉及光学元件的定位夹具，定位方法，光学元件，光扫描装置及粘接方法。光学元件5具有至少一个被复制面25，从若干光源2发出光，被偏转，用该被偏转的光束进行光扫描，定位夹具11将光轴中心23和光学元件的长度方向的曲率半径中心定位在同轴上。不用极端地提高光学元件的精度，能实现沿扫描方向的高精度对位，使用通用的光学元件，能简易地实现光学元件多层配置定位。
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公开(公告)号：CN1573597A
公开(公告)日：2005-02-02
申请号：CN200410064492.7
申请日：1998-06-25
Applicant: 株式会社理光
IPC: G03G15/04
Abstract: 本发明公开一种光束特性评价装置，光束特性评价方法的特征在于通过使对被扫描面进行线性扫描用的束光光源在与扫描过程中的单点发光相对应的扫描时间内发光的方式，对光束所需要的特性进行评价，其可正确地对光束直径或光束形状进行评价。该评价装置具有：使对被扫描面进行线性扫描用的束光光源在与扫描过程中的单点发光相对应的扫描时间内发光的发光控制回路；设置在所述被扫描面处的、对由所述的束光光源射出的光束实施检测用的光束检测组件；及依据所述光束检测组件的检测结果对所述光束所需要的特性进行评价用的评价处理组件。
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公开(公告)号：CN1573586A
公开(公告)日：2005-02-02
申请号：CN200410064488.0
申请日：1998-06-25
Applicant: 株式会社理光
IPC: G03G13/04 , G03G15/043 , G01D5/30
Abstract: 本发明公开一种采用光束特性评价方法的写入单元调整装置，其特征是具有：使由内装有光学扫描系统的激光光源射出的光束在潜象载体的表面上形成静电潜象用的写入单元；至少内装有所述的潜象载体的成象单元；及为调整沿光束的主扫描方向上的偏差而使所述写入单元和所述成象单元沿主扫描方向相对移动的移动组件。
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