测位仪以及用于校准测位仪的方法

    公开(公告)号:CN1954240A

    公开(公告)日:2007-04-25

    申请号:CN200580015139.2

    申请日:2005-03-21

    CPC classification number: G01V3/15 G01V3/088

    Abstract: 本发明涉及一种用于对于被包围在介质中的物体进行探测的测位仪、特别是手持测位仪。该测位仪具有用于探测被包围在介质中的物体的第一装置、并且具有一个用于测位仪测量信号的控制及分析单元。根据本发明建议,该测位仪(56、57、58)具有第二探测装置(62、68、80、81),这些探测装置使得对于测位仪(56、57、58)到介质(66)表面(65)的预先规定的距离d进行探测成为可能。此外,本发明还涉及一种用于校准测量仪的方法、特别是用于校准对于被包围在一种介质中的物体进行探测用的手持测位仪的方法,其中,只是在对于测量仪(56、57、58)到介质(66)表面(65)的距离d进行测量至少一次之后才进行用于校准测量仪(56、57、58)的基准测量。

    测距仪
    16.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101600971B

    公开(公告)日:2012-12-05

    申请号:CN200880003556.9

    申请日:2008-01-24

    CPC classification number: G01S17/08 G01C15/002 G01S7/4813

    Abstract: 本发明涉及一种用于无接触的距离测量的测距仪(10),尤其是手持仪,具有外壳(12,40),该外壳具有在测量方向(32)上指向的外壳前侧(14)和与该外壳前侧背离的外壳后侧(16),其中外壳后侧(16)形成用于距离测量的第一参照面(AA′),以及具有一个测量止挡体(46)的至少一个测量止挡(50),测量止挡体可以从外壳(12)中移动出来。本发明建议测量止挡体(46)这样地支承在外壳(12,40)中,该测量止挡体在释放开一个止动装置(62,63,65)之后自动地从外壳(12,40)中移出和有选择地至少移动到一个第一测量位置(I)或一个第二测量位置(II)中。

    测距仪
    18.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101600971A

    公开(公告)日:2009-12-09

    申请号:CN200880003556.9

    申请日:2008-01-24

    CPC classification number: G01S17/08 G01C15/002 G01S7/4813

    Abstract: 本发明涉及一种用于无接触的距离测量的测距仪(10),尤其是手持仪,具有外壳(12,40),该外壳具有在测量方向(32)上指向的外壳前侧(14)和与该外壳前侧背离的外壳后侧(16),其中外壳后侧(16)形成用于距离测量的第一参照面(AA′),以及具有一个测量止挡体(46)的至少一个测量止挡(50),测量止挡体可以从外壳(12)中移动出来。本发明建议测量止挡体(46)这样地支承在外壳(12,40)中,该测量止挡体在释放开一个止动装置(62,63,65)之后自动地从外壳(12,40)中移出和有选择地至少移动到一个第一测量位置(I)或一个第二测量位置(II)中。

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