公开(公告)号：CN101783156B

公开(公告)日：2014-06-18

申请号：CN200911000038.4

申请日：2009-12-16

Applicant: 通用电气公司

Inventor： J·A·F·罗斯 ,  X·施

IPC: G11B20/18 ,  G11B7/004

CPC classification number: G11B7/0065 ,  G11B7/083 ,  G11B7/13 ,  G11B7/1381

Abstract: 本发明涉及一种用于光学数据存储器的检测增强的方法和系统。本技术包括调节检测器(70)或多像素检测器(70)的位置，以使与微全息图(60)或微反射体对应的反射(18)得以增强。例如，可将检测器位置调节至表面反射(66)和微全息图反射(18)相长地干涉的位置，其产生放大的微全息图反射信号(122)。可调节其它参数(诸如盘反射率和检测器针孔(88)大小)来增加信号增强。此外，可将检测器位置调节到表面反射(66)和微全息图(18)反射的相位产生较弱的交叉项(104)的位置。

公开(公告)号：CN101794587A

公开(公告)日：2010-08-04

申请号：CN200910113667.1

申请日：2009-12-30

Applicant: 通用电气公司

Inventor： V·P·奥斯特罗弗霍夫 ,  B·L·劳伦斯 ,  X·施 ,  任志远 ,  Z·潘

IPC: G11B7/0065

CPC classification number: G11B7/0901 ,  G11B7/0065 ,  G11B7/083

Abstract: 本发明的名称为在单比特全息数据存储装置中进行跟踪的系统和方法，提供系统(10)和用于在全息数据存储系统(10)中控制跟踪的方法，包括：将射束(16)撞击在全息数据盘(12)上，其中，射束(16)从部署在全息数据盘(12)内的微全息图(124)反射(18)；由多元件检测器(90)检测来自全息数据盘(12)的反射射束(18)；以及分析多元件检测器(90)检测到的图案以生成跟踪误差信号(140，160)。

公开(公告)号：CN101783148A

公开(公告)日：2010-07-21

申请号：CN200910261931.6

申请日：2009-12-23

Applicant: 通用电气公司

Inventor： K·B·韦尔斯 ,  任志远 ,  B·L·劳伦斯 ,  P·P·吴 ,  J·E·赫尔希 ,  X·施 ,  J·A·F·罗斯 ,  V·P·奥斯特罗弗霍夫

IPC: G11B7/0065 ,  G11B7/24

CPC classification number: G11B7/24044 ,  G03H2001/0482 ,  G11B7/0065 ,  G11B7/24079

Abstract: 一种数据存储装置，包括：塑料衬底，其具有多个体积(4510，4520)，布置在沿其中的多个垂直堆叠的横向延伸的层(4110)的轨道中；以及多个微全息图(4202，4204)，每个微全息图都包含在对应的一个所述体积中；其中每个所述体积中微全息图的存在与否指示所存储的数据的对应部分。