同时的荧光相关光谱术
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102565013A

    公开(公告)日:2012-07-11

    申请号:CN201110319974.2

    申请日:2011-10-20

    Abstract: 本发明涉及一种用于在研究物体的多个位置上同时进行荧光相关光谱术的方法和装置,该方法和装置使得能成本低廉地制造为此所需的仪器,该装置带有一个照亮物体(14)且具有发光区域(121)的照明光栅(120b)、一个将所述照明光栅(120b)投影在所述物体(14)处的聚焦平面(14s)内的物镜装置(13u)以及一个位于接收器侧的孔板(121),按照本发明,根据所述聚焦平面为观测光路的孔板的每个孔(121)配设一个用于光谱分离从物体返回的光线的装置(302a),并且每个用于光谱分离的装置(302a)配设有至少两个光线接收器(305a)。

    测定介质中化合物的同一性或不同性和浓度的方法

    公开(公告)号:CN101351688A

    公开(公告)日:2009-01-21

    申请号:CN200680050005.9

    申请日:2006-12-27

    Abstract: 本发明涉及一种检测至少一种含在介质(312)中的化合物V的方法。所述方法包括用于测定V是否含在介质(312)中的检验步骤(420)。所述方法另外包括测定至少一种化合物V的浓度c的分析步骤(424)。检验步骤包括如下子步骤:(a1)介质(312)曝露于可变波长λ的第一种分析辐射(316)下,其中波长λ假定为至少两个不同值;(a2)相应于第一种分析辐射(316),借助由介质(312)吸收和/或发射和/或反射和/或散射的辐射(324、326)产生至少一种谱响应函数A(λ);(a3)通过至少一种谱响应函数A(λ)与至少一种模式函数R(λ+δλ)比较形成至少一种谱关联函数K(δλ),其中至少一种模式函数R(λ)表示含化合物V的介质(312)的谱测量函数,δλ表示坐标位移;(a4)在模式识别步骤(418)中检查至少一种谱关联函数K(δλ),并且做出关于至少一种化合物V是否含在介质(312)中的结论;分析步骤(424)包括如下子步骤:(b1)介质(312)曝露于具有至少一种激发波长λEX的至少一种第二种分析辐射(318)下;(b2)与波长λEX的第二种分析辐射(318)响应,借助介质(312)吸收和/或发射和/或反射和/或散射的响应波长λEX的辐射(326)产生至少一种谱分析函数B(λEX,λRES)并由此导出浓度c。

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