一种利用纤芯失配干涉结构测量磁场的方法

    公开(公告)号:CN106405447A

    公开(公告)日:2017-02-15

    申请号:CN201610741697.7

    申请日:2016-08-26

    CPC classification number: G01R33/032 G01D5/35329 G01D5/35387 G01R33/0011

    Abstract: 本发明提供了一种利用纤芯失配干涉结构测量磁场的方法,所述方法包括如下步骤:a)搭建纤芯错位熔接干涉结构,所述纤芯错位熔接干涉结构包括依次连接的泵浦源,波分复用器,增益光纤,第一单模光纤,第二单模光纤,第三单模光纤和光谱分析仪;b)对第一单模光纤,第二单模光纤和第三单模光纤进行光纤错位熔接;c)测量待测温控装置的外加磁场:将第一单模光纤、第二单模光纤和第三单模光纤与温控装置组合为一体,在外加磁场的条件下对传感器实现拉伸、弯曲、振动或挤压,引起纤芯失配干涉仪偏振态发生相应变化,利用下述公式,确定传感器所受到的磁场:Y=aX-b,其中X为磁场浓度,Y为变化波长,a,b为常数。

    一种基于细芯光纤马赫-曾德干涉仪的溶液折射率测量方法

    公开(公告)号:CN106198455A

    公开(公告)日:2016-12-07

    申请号:CN201610849467.2

    申请日:2016-09-23

    CPC classification number: G01N21/45 G01N2021/458

    Abstract: 本发明提供了一种基于细芯光纤马赫-曾德干涉仪的溶液折射率测量方法,所述测量方法包括以下步骤:a)搭建细芯光纤马赫-曾德干涉仪,细芯光纤马赫-曾德干涉仪依次连接泵浦源、一支波分复用器以及细芯光纤马赫-曾德结构;b)将细芯光纤马赫-曾德结构与基体材料固定;c)逐渐改变溶液折射率大小,记录梳状谱移动的长度,绘制梳状谱移动长度与溶液折射率大小的变化曲线;d)通过所述梳状谱移动长度与溶液折射率大小的变化曲线对外加溶液折射率进行测量。

    一种利用单模错位光纤同时测量温度和材料应变的方法

    公开(公告)号:CN106092214A

    公开(公告)日:2016-11-09

    申请号:CN201610754044.2

    申请日:2016-08-29

    CPC classification number: G01D21/02 G01D5/35387

    Abstract: 本发明提供了一种利用单模错位光纤同时测量温度和材料应变的方法,所述方法包括如下步骤:a)选取三段单模光纤进行错位熔接,得到错位传感器;b)将所述错位传感器与光纤光栅熔接,进行温度标定和材料应变标定;c)采集错位传感器与光纤光栅的波长漂移量,拟合错位传感器与光纤光栅的波长漂移量随温度和材料应变变化量的关系曲线;d)利用步骤c)的关系曲线对待测环境中的温度和材料应变同时测量。本发明将错位传感器和光纤光栅熔接在一起,由于光纤光栅和错位干涉结构具有不同的温度和材料应变传感灵敏度,实现了同时对温度以及材料应变进行测量。

    一种基于超声脉冲诱发光栅变形的用于测量应变的方法

    公开(公告)号:CN105890536A

    公开(公告)日:2016-08-24

    申请号:CN201610215074.6

    申请日:2016-04-08

    CPC classification number: G01B11/16

    Abstract: 本发明提供了一种基于超声脉冲诱发光栅变形的用于测量应变的方法,所述测量应变的方法包括如下步骤:a)搭接光纤传感器应变测量系统,所述系统包括一段带有连续均匀光栅的光纤、超声波发生器和解调仪,所述的带有连续均匀光栅的光纤具有多段光栅,每段光栅栅格均匀分布,所述光栅之间间隔相同;b)将光纤传感器应变测量系统与待测应变材料贴合,记录所述解调仪采集到的离峰偏离主峰的间距;c)将步骤b)中所述的离峰偏离主峰的间距与离峰偏离主峰的间距随应变变化的关系曲线比对,得到材料应变大小。

    一种基于联级sagnac干涉仪的折射率测量方法

    公开(公告)号:CN105784641A

    公开(公告)日:2016-07-20

    申请号:CN201610151204.4

    申请日:2016-03-16

    CPC classification number: G01N21/45

    Abstract: 本发明提供了一种基于级联Sagnac干涉仪的折射率测量方法,所述方法包括如下步骤:a)搭建所述级联Sagnac干涉仪测量系统,所述系统包括宽带光源泵浦源、第一掺杂稀土元素光纤、第二掺杂稀土元素光纤、一支波分复用器、第一光耦合器、第二光耦合器、第一光纤Sagnac环、隔离器、第二光纤Sagnac环、光谱仪;b)将第一光纤Sagnac环和第二光纤Sagnac环与可控折射率的折射率溶液中,进行折射率标定;c)逐渐增加折射率的大小,光谱仪采集第二光纤Sagnac环输出的光谱,记录梳状谱移动的长度,拟合梳状谱波长偏移随折射率变化的关系曲线;d)将标定好的折射率测量系统置于待测折射率溶液中;e)利用所拟合的梳状谱波长偏移随折射率变化的关系曲线对待测折射率溶液进行测量。

    基于线阵InGaAs扫描FBG反射谱的传感解调方法

    公开(公告)号:CN105758434A

    公开(公告)日:2016-07-13

    申请号:CN201610131531.3

    申请日:2016-03-09

    CPC classification number: G01D5/35341

    Abstract: 本发明提供了一种基于线阵InGaAs扫描FBG反射谱的传感解调方法,该方法包括以下步骤:a)宽谱光源发出的光信号经光纤耦合器传输至FBG;b)所述光信号经FBG反射后将带有解调信息的反射谱光信号传输至线阵InGaAs光电探测器;c)反射谱光信号经过线阵InGaAs光电探测器处理后得到与线阵InGaAs光电探测器中像素点位置一一对应的反射谱光强信息;d)通过设置反射谱的光强阀值将反射谱光信号分成多段;e)对每段反射谱对应的像素点位置与光强数据进行高斯函数拟合分析,并通过最小二乘法判定最佳拟合参数,获取光强峰值对应的像素点位置;f)将光强峰值对应的像素点位置带入至像素点位置与波长的对应关系式中并得出该段反射谱的中心波长值。

    一种基于超声脉冲诱发光栅变形的用于测量磁场的方法

    公开(公告)号:CN105629185A

    公开(公告)日:2016-06-01

    申请号:CN201610217021.8

    申请日:2016-04-08

    CPC classification number: G01R33/02

    Abstract: 本发明提供了一种基于超声脉冲诱发光栅变形的用于测量磁场的方法,所述测量磁场的方法包括如下步骤:a)搭接光纤传感器磁场测量系统,所述系统包括一段带有连续均匀光栅的光纤、超声波发生器和解调仪,所述的带有连续均匀光栅的光纤具有多段光栅,每段光栅栅格均匀分布,所述光栅之间间隔相同;b)将光纤传感器磁场测量系统置于待测磁场中,记录所述解调仪采集到的离峰偏离主峰的间距;c)将步骤b)中所述的离峰偏离主峰的间距与离峰偏离主峰的间距随磁场强度变化的关系曲线比对,得到磁场强度的大小。

    采用参考腔主动反馈补偿的光纤激光器气体检测系统

    公开(公告)号:CN104568829A

    公开(公告)日:2015-04-29

    申请号:CN201310478837.2

    申请日:2013-10-14

    CPC classification number: G01N21/3504 G01N21/359 G01N2201/06113

    Abstract: 本发明提供了一种采用参考腔主动反馈补偿的光纤激光器气体检测系统,包括由依次连接的激光二极管泵浦源、波分复用器、有源光纤和布拉格光纤光栅构成的光纤激光器;与波分复用器耦合连接的光隔离器;耦合器,用于将经光隔离器隔离后的激光按照一定的功率比例分配为参考光束、测量光束和强度检测光束;参考气室,通入与待测气体成分一致且浓度已知的参考气体并接收参考光束;检测气室,通入待测气体并接收测量光束;第一、第二和第三光电检测器,分别接收经过参考气室的参考光束、经过检测气室的检测光束和强度检测光束,生成第一、第二和第三光强度信号;反馈控制单元,比较第一、第二和第三光强度信号,反馈调节所述泵浦源和布拉格光纤光栅。

    基于FPGA的脉冲光纤激光器功率控制系统

    公开(公告)号:CN103633541A

    公开(公告)日:2014-03-12

    申请号:CN201310659834.9

    申请日:2013-12-09

    Abstract: 本发明提供了一种控制用于激光打标的基于FPGA的脉冲光纤激光器功率控制系统和控制方法,所述脉冲光纤激光器功率控制系统包括用于发出控制信号的计算机、基于FPGA实现的功率控制系统和在控制下发出激光的脉冲光纤激光器,所述方法通过进行激光器输出电压和半导体激光器输出功率的输出功率值分配,其中将恒流源驱动的功率与锁存的功率进行比较,将比较结果反馈至恒流源进行驱动。根据本发明的脉冲光纤激光器输出光功率可以很好的满足激光打标的要求,通过采用了双端输入单端输出的模糊控制算法来实时的监测功率的输出大小,并根据反馈的功率值来调节恒流源驱动电路的电流的大小,来保证输出的功率的稳定。

Patent Agency Ranking