公开(公告)号：CN108646719B

公开(公告)日：2021-04-06

申请号：CN201810730589.9

申请日：2018-07-05

Applicant: 中南大学

Inventor： 朱红求 ,  吴植亮 ,  阳春华 ,  彭涛 ,  陈志文 ,  杨超 ,  陶宏伟 ,  杨笑悦

IPC: G05B23/02

Abstract: 本发明涉及故障检测、数字信号处理、应用数学交叉学科的技术领域，公开了一种微弱故障检测方法及系统，以实现对非线性、非高斯、非稳态且故障特征不明显、故障持续时间短的微弱故障检测，本发明的方法包括：生成原始残差信号；求得原始残差信号的分数阶微积分以及原始残差信号的二次型能量泛函的分数阶微积分，建立分数阶残差最速上升迭代公式；对分数阶残差最速上升迭代公式进行优化，获得优化后的分数阶残差最速上升迭代公式；将原始残差信号的均方根作为阈值，根据优化后的分数阶残差最速上升迭代公式计算得到的分数阶残差信号,将分数阶残差信号与阈值进行比较，当分数阶残差信号大于或等于阈值时，视为故障发生，反之，视为无故障发生。

公开(公告)号：CN108646719A

公开(公告)日：2018-10-12

申请号：CN201810730589.9

申请日：2018-07-05

Applicant: 中南大学

Inventor： 朱红求 ,  吴植亮 ,  阳春华 ,  彭涛 ,  陈志文 ,  杨超 ,  陶宏伟 ,  杨笑悦

IPC: G05B23/02

Abstract: 本发明涉及故障检测、数字信号处理、应用数学交叉学科的技术领域，公开了一种微弱故障检测方法及系统，以实现对非线性、非高斯、非稳态且故障特征不明显、故障持续时间短的微弱故障检测，本发明的方法包括：生成原始残差信号；求得原始残差信号的分数阶微积分以及原始残差信号的二次型能量泛函的分数阶微积分，建立分数阶残差最速上升迭代公式；对分数阶残差最速上升迭代公式进行优化，获得优化后的分数阶残差最速上升迭代公式；将原始残差信号的均方根作为阈值，根据优化后的分数阶残差最速上升迭代公式计算得到的分数阶残差信号,将分数阶残差信号与阈值进行比较，当分数阶残差信号大于或等于阈值时，视为故障发生，反之，视为无故障发生。

公开(公告)号：CN106602906A

公开(公告)日：2017-04-26

申请号：CN201611115114.6

申请日：2016-12-07

Applicant: 中南大学

Inventor： 彭涛 ,  陶宏伟 ,  阳春华 ,  杨超 ,  史露 ,  尹进田 ,  杨笑悦 ,  贺泽洲 ,  刘博 ,  赵帅 ,  李晟

IPC: H02M7/219

CPC classification number: H02M7/219

Abstract: 本发明涉及电子技术领域，公开了一种三电平整流器开路故障注入方法及故障注入器，为三电平整流器开路故障的诊断、隔离和容错技术的研究提供较为真实可靠的故障模拟环境。本发明公开的开路故障注入方法包括：构建正常运行情况下的三电平整流器状态空间模型；当三电平整流器发生开关器件开路故障时，电路拓扑发生改变，根据发生开路故障后的电路拓扑结构，分别建立三电平整流器与任一开关器件开路故障相对应的所有状态空间模型；构建开关器件开路故障注入器，实施三电平整流器开路故障注入。该方法能够对单桥臂上任意一个开关器件进行故障注入实验，无需进行实物损伤性实验，就能得到三电平整流器开路故障的数据和特征，并且可以进行重复性实验。

公开(公告)号：CN105044500A

公开(公告)日：2015-11-11

申请号：CN201510386358.7

申请日：2015-07-03

Applicant: 中南大学

Inventor： 阳春华 ,  杨笑悦 ,  彭涛 ,  杨超 ,  赵帅 ,  史露 ,  尹进田

IPC: G01R31/00 ,  G01R31/28

Abstract: 本发明公开了一种基于替代模型的单粒子瞬态效应注入方法，该方法采用双指数模型在器件层对被测电路单粒子瞬态效应进行建模，分别建立被测电路单粒子瞬态效应物理层实际外部特性的模拟脉冲信号形式、梯形脉冲信号形式和数字脉冲信号形式替代模型；通过设置模拟、梯形或数字脉冲信号注入模式，构建相应模式下被测电路单粒子瞬态效应物理层实际外部特性的替代模型，生成相应模式下的注入波形，完成对不同模式单粒子瞬态脉冲的注入。本发明无需专用测试设备，也不改变被测器件/电路的物理特性，可完成对单个器件和电路结构不同单粒子瞬态效应表现形式的注入，为电路加固技术、实时故障诊断、隔离和容错技术的研究提供较为真实可靠的故障模拟环境。