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公开(公告)号：CN107544927B
公开(公告)日：2020-06-23
申请号：CN201710843828.7
申请日：2017-09-19
Applicant: 中国核动力研究设计院
IPC: G06F13/16
Abstract: 本发明公开了一种双口RAM跟随访问方法，包括以下步骤，A、MCU在等待跟随的时间段中，不断的检测上次写入的数据的状态，当检测到CPU读走上次写入的数据时，记录当前时刻；B、计算CPU下次读取数据的时刻；C、计算当前时刻与CPU下次读取数据的时刻的中间时刻，并计算MCU退出等待时刻；扩展板卡在中间时刻准备好数据等待CPU的读取操作。采用该方法可避免双口RAM的访问冲突，且可提高CPU与扩展板卡数据交互的速度。
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公开(公告)号：CN119337050A
公开(公告)日：2025-01-21
申请号：CN202411393079.9
申请日：2024-10-08
Applicant: 中国核动力研究设计院
Inventor： 王明星 , 李昱 , 王琳 , 伍巧凤 , 孙诗炎 , 贺理 , 赵阳 , 孙鸿成 , 朱攀 , 张隽祺 , 吴坤任 , 向思宇 , 王劲松 , 董化平 , 孙启航 , 刘宏春 , 许东芳 , 李谢晋 , 冯威 , 陈鹏 , 钟思洁 , 刘堂胜 , 王雪梅 , 尤恺 , 蔡晨 , 孙琦
Abstract: 本发明公开了一种通过响应时间在线测试分析系统故障的方法及系统，包括：基于系统响应时间，通过理论值计算出第一概率分布函数和理论响应时间的最大值；采用响应时间的在线测试法，实时测量得到系统的真实响应时间；通过χ2拟合检验法，确认所述真实响应时间是否满足第一概率分布函数；当所述真实响应时间不满足第一概率分布函数时，则在理论值计算时改变系统响应时间各组成部分的大小，得到与第一概率分布函数不同的第二概率分布函数；再次通过χ2拟合检验法确认所述真实响应时间是否满足第二概率分布函数，若满足，则反推出响应时间出错的环节。本发明通过对响应时间的在线测试分析，判断系统是否故障。
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公开(公告)号：CN115359932B
公开(公告)日：2023-09-26
申请号：CN202210996982.9
申请日：2022-08-19
Applicant: 中国核动力研究设计院
Inventor： 刘宏春 , 冯威 , 许东芳 , 朱攀 , 陈鹏 , 李谢晋 , 周继翔 , 李文平 , 青先国 , 何正熙 , 王华金 , 贺理 , 钟思洁 , 王明星 , 石亚东 , 王琳 , 刘飞洋 , 孙诗炎 , 伍巧凤 , 李昱
Abstract: 本发明公开了一种反应堆保护系统P11非允许信号生成方法和装置、核电厂用相关系统，方法包括：从保护通道中接收通道级P11非允许信号作为输入信号，判断是否有效；根据有效输入信号的个数确定是否执行逻辑表决及逻辑表决的模式：当有效输入信号为4个时，执行四取二逻辑表决；当有效输入信号为3个时，执行三取二逻辑表决；当有效输入信号为2个时，执行二取二逻辑表决；当有效输入信号为1个或者0时，不进行逻辑表决。本发明P11非允许信号生成方法在生成最终P11非允许信号时，能够最大限度地保证在输入信号回路发生可探测故障时，自动打开安注箱隔离阀、自动关闭稳压器保护阀和反应堆冷却剂系统低温超压保护功能被成功执行的同时，又不导致其误触发。
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公开(公告)号：CN115497654B
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202211147522.5
申请日：2022-09-19
Applicant: 中国核动力研究设计院
Inventor： 刘宏春 , 王华金 , 周继翔 , 冯威 , 李谢晋 , 许东芳 , 朱攀 , 石亚东 , 陈鹏 , 钟思洁 , 李文平 , 青先国 , 何正熙 , 贺理 , 孙诗炎 , 王明星 , 伍巧凤 , 王琳 , 李昱 , 张隽祺 , 吴坤任 , 向思宇 , 章雨 , 黄清淮 , 胡清仁
Abstract: 本发明公开了一种反应堆保护系统ECP手动指令的试验方法、装置及系统，包括：各个优先级逻辑控制模块PLM通过两条触发路径采集ECP手动按钮的指令信号，将采集到的ECP手动保护软逻辑信号输入至各个PLM的第一输入端口，ECP手动保护硬逻辑信号输入至各个PLM的第二输入端口；各个PLM将采集的第一输入端口信号和第二输入端口信号通过网关发送至NC DCS系统；在NC DCS系统内，对所有的第一输入端口信号和第二输入端口信号分别进行逻辑与运算和逻辑或运算，得到两个指示信号；根据指示信号和现场驱动器的动作状态反馈，一次完成对两条触发路径及现场驱动器的检查。本发明简化了试验流程和缩短了试验用时。
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公开(公告)号：CN113688521B
公开(公告)日：2023-06-20
申请号：CN202110982589.X
申请日：2021-08-25
Applicant: 中国核动力研究设计院
Inventor： 王琳 , 刘宏春 , 何正熙 , 王远兵 , 青先国 , 王明星 , 王殳 , 朱攀 , 许东芳 , 贺理 , 孙诗炎 , 李谢晋 , 冯威 , 陈鹏 , 伍巧凤 , 李昱 , 钟思洁 , 石亚东
IPC: G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本发明公开了一种高可靠反应堆保护系统试验允许功能设计方法及系统，数字化仪控系统内设有逻辑处理器，逻辑处理器接收数字量输入采集卡采集的两个定期试验允许开关的状态信号，并对其进行逻辑处理，两个定期试验允许开关的状态信号经过相应逻辑后通过RS触发器置位或复位，产生最终的定期试验允许信号输入反应堆保护系统。本发明避免了单一开关故障或两个开关先后故障导致系统误发试验允许信号的情况，从而消除了因开关故障可能导致的保护功能失效的风险。本发明提升了反应堆保护系统定期试验手动允许功能的可靠性，降低了核动力装置安全系统拒动的风险，对提升核动力装置的安全性有益。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115856435A
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202211527021.X
申请日：2022-12-01
Applicant: 中国核动力研究设计院
IPC: G01R27/02
Abstract: 本发明涉及电子设备测试技术领域，具体涉及一种通过阻抗测试识别电子设备的方法，包括以下步骤：对各个电子设备的所有引脚进行阻抗测试；将测得阻抗数据横纵排列获得数据列表；根据所述数据列表中，单个电子设备的所有阻抗是否存在相同的情况，判断电子设备是否插反；根据判断结果，得出单个电子设备能够判断反接的引脚序号集；并获得所有电子设备能够判断反接的引脚序号列表；根据所述引脚序号列表中，阻抗是否存在相等的情况，判断电子设备是否相同，并得出能够判断设备类别的区分引脚序集；根据所述区分引脚序集中各个引脚所对应的阻抗值与目标电子设备的阻抗值进行比较，判断当前连接电子设备是否为所述目标电子设备。
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公开(公告)号：CN115497654A
公开(公告)日：2022-12-20
申请号：CN202211147522.5
申请日：2022-09-19
Applicant: 中国核动力研究设计院
Inventor： 刘宏春 , 王华金 , 周继翔 , 冯威 , 李谢晋 , 许东芳 , 朱攀 , 石亚东 , 陈鹏 , 钟思洁 , 李文平 , 青先国 , 何正熙 , 贺理 , 孙诗炎 , 王明星 , 伍巧凤 , 王琳 , 李昱 , 张隽祺 , 吴坤任 , 向思宇 , 章雨 , 黄清淮 , 胡清仁
Abstract: 本发明公开了一种反应堆保护系统ECP手动指令的试验方法、装置及系统，包括：各个优先级逻辑控制模块PLM通过两条触发路径采集ECP手动按钮的指令信号，将采集到的ECP手动保护软逻辑信号输入至各个PLM的第一输入端口，ECP手动保护硬逻辑信号输入至各个PLM的第二输入端口；各个PLM将采集的第一输入端口信号和第二输入端口信号通过网关发送至NC DCS系统；在NC DCS系统内，对所有的第一输入端口信号和第二输入端口信号分别进行逻辑与运算和逻辑或运算，得到两个指示信号；根据指示信号和现场驱动器的动作状态反馈，一次完成对两条触发路径及现场驱动器的检查。本发明简化了试验流程和缩短了试验用时。
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公开(公告)号：CN115359932A
公开(公告)日：2022-11-18
申请号：CN202210996982.9
申请日：2022-08-19
Applicant: 中国核动力研究设计院
Inventor： 刘宏春 , 冯威 , 许东芳 , 朱攀 , 陈鹏 , 李谢晋 , 周继翔 , 李文平 , 青先国 , 何正熙 , 王华金 , 贺理 , 钟思洁 , 王明星 , 石亚东 , 王琳 , 刘飞洋 , 孙诗炎 , 伍巧凤 , 李昱
Abstract: 本发明公开了一种反应堆保护系统P11非允许信号生成方法和装置、核电厂用相关系统，方法包括：从保护通道中接收通道级P11非允许信号作为输入信号，判断是否有效；根据有效输入信号的个数确定是否执行逻辑表决及逻辑表决的模式：当有效输入信号为4个时，执行四取二逻辑表决；当有效输入信号为3个时，执行三取二逻辑表决；当有效输入信号为2个时，执行二取二逻辑表决；当有效输入信号为1个或者0时，不进行逻辑表决。本发明P11非允许信号生成方法在生成最终P11非允许信号时，能够最大限度地保证在输入信号回路发生可探测故障时，自动打开安注箱隔离阀、自动关闭稳压器保护阀和反应堆冷却剂系统低温超压保护功能被成功执行的同时，又不导致其误触发。
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公开(公告)号：CN115169286A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210933916.7
申请日：2022-08-04
Applicant: 中国核动力研究设计院
IPC: G06F40/117 , G06F40/18 , G06F40/169 , G06F40/174
Abstract: 本发明涉及电子设备测试技术领域，具体涉及一种非标电子设备测试工艺的变换方法，所采用的技术方案是：包括以下步骤：根据测试信息，建立多张测试工艺表单；在各所述工艺表单的首行中，依次录入测试工艺标签和测试所用的引脚信息；在测试工艺标签所在列依次录入测试工艺信息，并采用关键字段对测试工艺信息的输入类型进行标记；根据测试结果对每项测试工艺的输入项和输出项进行调整，直至单个所述工艺表单的工艺完全录入；重复前述步骤工艺表单的工艺录入；读取相应的所述关键字段，以将所述关键字段对应的工艺组成新的测试工艺。本发明能够根据实际测试需求产生相应的变化，从而实现非标型电子设备配套使用的测试设备和工具测试工艺的自由变换。
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公开(公告)号：CN107544927A
公开(公告)日：2018-01-05
申请号：CN201710843828.7
申请日：2017-09-19
Applicant: 中国核动力研究设计院
IPC: G06F13/16
Abstract: 本发明公开了一种双口RAM跟随访问方法，包括以下步骤，A、MCU在等待跟随的时间段中，不断的检测上次写入的数据的状态，当检测到CPU读走上次写入的数据时，记录当前时刻；B、计算CPU下次读取数据的时刻；C、计算当前时刻与CPU下次读取数据的时刻的中间时刻，并计算MCU退出等待时刻；扩展板卡在中间时刻准备好数据等待CPU的读取操作。采用该方法可避免双口RAM的访问冲突，且可提高CPU与扩展板卡数据交互的速度。
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