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公开(公告)号：CN101581556A
公开(公告)日：2009-11-18
申请号：CN200810106438.2
申请日：2008-05-13
Applicant: 北京理工大学
IPC: F41G1/54
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种复合图形靶板的瞄具零位走动数字化测量装置，包括：光源、复合图形靶板、反射镜、主反射镜、卡具、像分析器、计算机、温控模块、机壳。此装置使用光源照明复合图形靶板分别生成多波段复合对准目标，依次通过反射镜、主反射镜后在被测瞄具上成像，通过直接采集由瞄具输出的目标图像，或在瞄具目镜出瞳处经像分析器采集瞄具分划板上的图像，输入计算机后，由测量软件进行数字图像处理，计算测试结果。本发明可用于红外、可见、微光瞄具零位走动的高精度检测，具有精度高、客观性、实时性好的优点。
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公开(公告)号：CN101275870A
公开(公告)日：2008-10-01
申请号：CN200810106360.4
申请日：2008-05-12
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种红外热像仪MRTD客观评测方法，属于红外测试领域。该方法将特征量均值对比度和新提出的特征量背景极值对比度Cb＝Lmax－bak/Ltar；相邻极值差对比度Cmax＝∑|Lmax－tar－Lmax－bak|/L组成特征向量输入BP神经网络，对红外热像仪MRTD参数进行客观测量。其中，Ltar为四杆靶平均灰度值；Lmax－bak为靶间(背景)灰度极值；Lmax－tar为四杆靶灰度极值；L为整个区域灰度平均值。本方法使用CCD摄像机拍摄监视器，或通过图像采集卡直接从热像仪视频输出端口采集图像，处理图像获得四杆靶的特征向量及辨别状态，输入BP神经网络进行训练。训练好的网络可对未知四杆靶进行状态辨别，减小用人眼判读产生的主观误差及由于疲劳产生的误差，具有客观判读和重复性好的特点。
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公开(公告)号：CN100389304C
公开(公告)日：2008-05-21
申请号：CN200610083776.X
申请日：2006-06-05
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种多谱线光学角规测试标定仪，包括一台通用机算机，一个电机控制箱，一个多光谱光源电控切换台，一个CCD摄像机，一个双频激光干涉仪；一台光电自准直仪；一个长基线分光镜组；一个长基线反射镜组；一个精密转台；一个平面反射镜组；一个数显读数表，一个三维调整台；本发明具有如下显著优点：双频激光干涉测角仪中，采用长基线镜组，使其测角精度能够比一般双频激光干涉测角仪高；采用测角和定位相分离的方法，容易实现光学角规的高精度测试标定；采用多谱线标定方法，可以在同样环境条件下对同一块光学角规给出多谱线偏向角标定值，扩大光学角规的应用范围。
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公开(公告)号：CN100381806C
公开(公告)日：2008-04-16
申请号：CN200710063160.0
申请日：2007-01-30
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 一种折轴/潜望望远光学系统透射比测试系统，包括：1)光源组件，包括光源和调制盘；2)发射单元，包括平行光管和可换光阑；3)接收单元，包括用于探测入射光能量的积分球和光电倍增管；4)控制处理单元，包括锁相放大器、模数转换电路、单片机和显示屏；其特征在于，将发射单元和接收单元做成分体结构，并且各个分体结构都可以独立升降或俯仰调整，满足折轴望远光学系统透过率的测试要求；为提高测量精度，系统采用了双光路方式，在一定程度上排除了光源、探测器、高压电源、放大器等部件的信号漂移，一次100%校准后可以在长时间内进行测量。
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公开(公告)号：CN101067547A
公开(公告)日：2007-11-07
申请号：CN200710100222.0
申请日：2007-06-06
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B9/02
Abstract: 本发明公开了一种高精度的利用相互正交的两个双频激光干涉仪的光学角规测试标定仪，包括主控计算机1、双频激光干涉仪A3及其按光路方向依次放置的分光镜2、静止反射镜4和移动反射镜7，与双频激光干涉仪A3光路相互垂直放置的双频激光干涉仪B13，依次按双频激光干涉仪B13光路放置的长基线分光镜11、长基线反射镜6、光程补偿平行玻璃板5和被测光学角规9，还包括可使被测光学角规9沿主截面方向的移动的精密平移台8、装调光学角规主截面时的微小转动精密角位移台10以及步进电机控制箱12。本发明具有如下显著优点：通过该发明装置测量光学角规偏向角在2″－10″的测量范围内，测量精度可达到0.02″，极大提高了光学角规偏向角的测角精度。采用相互正交的双频激光干涉仪测角，减少了光学材料折射率和干涉条纹判读等其他因素对测角精度的影响。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101581556B
公开(公告)日：2012-10-24
申请号：CN200810106438.2
申请日：2008-05-13
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种复合图形靶板的瞄具零位走动数字化测量装置，包括：光源、复合图形靶板、反射镜、主反射镜、卡具、像分析器、计算机、温控模块、机壳。此装置使用光源照明复合图形靶板分别生成多波段复合对准目标，依次通过反射镜、主反射镜后在被测瞄具上成像，通过直接采集由瞄具输出的目标图像，或在瞄具目镜出瞳处经像分析器采集瞄具分划板上的图像，输入计算机后，由测量软件进行数字图像处理，计算测试结果。本发明可用于红外、可见、微光瞄具零位走动的高精度检测，具有精度高、客观性、实时性好的优点。
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公开(公告)号：CN101587009A
公开(公告)日：2009-11-25
申请号：CN200910088376.1
申请日：2009-07-02
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于光电图像传输技术领域，可用于动态场景仿真、光学测量系统的优化设计、性能评估等多个方面。提出可以实现动态图像传输的设计方案和硬件平台。以高速数据接口、逻辑可编程器件、数模转换芯片和静态存储器搭建硬件平台，通过合理设计固件程序、设备驱动程序和上位机应用程序，高速图像数据从上位机通过接口进行传输，下位机将图像数据缓冲处理后产生行、场同步信号，在微小型液晶图形发生器上以XGA视频格式显示动态图像。本发明首次将微小型液晶图形发生器引入到光电图像传输技术中，以微小型液晶图形发生器上的动态图像作为动态场景仿真的背景，减小了光学系统的尺寸体积，使系统更加紧凑，并将数字化、自动化和微小型化引入到光学参数测量仪器中。
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公开(公告)号：CN101532908A
公开(公告)日：2009-09-16
申请号：CN200910082128.6
申请日：2009-04-16
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种离散成像器件统计调制传递函数激光散斑测量方法和装置，属于光电成像器件成像质量测试技术领域。本发明的测量装置由激光器、激光扩束镜、随机散射体、孔径光阑、偏振片、待测量离散成像器件和带有图像采集卡的计算机组成。测量方法是将散斑投射到离散成像器件靶面上做为输入，离散成像器件采取散斑图即为输出，通过输入和输出的功率谱对比，得到离散成像器件的统计调制传递函数；输入的功率谱密度由散射体出射平面的孔径光阑的大小和离散探测器阵列的位置决定，探测到的功率谱密度经过数据处理可以得到。本发明不需要成像镜头可以直接测量离散成像器件的统计调制传递函数，具有其他方法不具备的优点。
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公开(公告)号：CN100508628C
公开(公告)日：2009-07-01
申请号：CN200710119819.X
申请日：2007-07-31
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明提出了一种CCD摄像机信噪比数字化测试方法。其基本原理是通过摄像机对高均匀照明的净白目标成像，则成像信号中的波动反映了摄像机的噪声。通过图像采集卡将视频信号量化为数字图像，用特别设计的数字高通滤波器分离出噪声信号，计算噪声信号的均方根值作为噪声强度。因图像采集卡对原始视频信号带入了量化噪声，将量化噪声加以修正即可以估计原始视频信号中的噪声大小，从而计算出信噪比。本发明实现了一种基于数字图像采集的电视摄像机信噪比快速、客观测试方法，其测试结果与用视频分析仪测量结果一致性良好，因而可以作为摄像机信噪比测试的一种替代方法。
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公开(公告)号：CN100470189C
公开(公告)日：2009-03-18
申请号：CN200710100222.0
申请日：2007-06-06
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B9/02
Abstract: 本发明公开了一种高精度的利用相互正交的两个双频激光干涉仪的光学角规测试标定仪，包括主控计算机1、双频激光干涉仪A3及其按光路方向依次放置的分光镜2、静止反射镜4和移动反射镜7，与双频激光干涉仪A3光路相互垂直放置的双频激光干涉仪B13，依次按双频激光干涉仪B13光路放置的长基线分光镜11、长基线反射镜6、光程补偿平行玻璃板5和被测光学角规9，还包括可使被测光学角规9沿主截面方向的移动的精密平移台8、装调光学角规主截面时的微小转动精密角位移台10以及步进电机控制箱12。本发明具有如下显著优点：通过该发明装置测量光学角规偏向角在2″-10″的测量范围内，测量精度可达到0.02″，极大提高了光学角规偏向角的测角精度。采用相互正交的双频激光干涉仪测角，减少了光学材料折射率和干涉条纹判读等其他因素对测角精度的影响。
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