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公开(公告)号：CN103714513B
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201210375800.2
申请日：2012-09-29
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 提出了一种校正CT图像中多个特定物体造成的伪影的方法以及设备，利用三幅近似垂直视角下的投影图像，实现物体的三维空间定位，然后再对投影数据进行预处理，实现金属伪影校正。该方法对于扫描视野中存在多颗金属植入物的情况，仍然能够快速的去除CT图像中的金属伪影，并且无需对CT图像进行预重建，算法中也不涉及迭代步骤，方法快速、有效，能够很好地适用于工程应用。
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公开(公告)号：CN103713329B
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201210375312.1
申请日：2012-09-29
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00
CPC classification number: G06T7/004 , A61B6/4085 , A61B6/466 , A61B6/469 , A61B6/5258 , G06T7/0012 , G06T7/55 , G06T7/70 , G06T11/006 , G06T2211/421 , G06T2211/436 , G16H40/63
Abstract: 提出了一种在CT成像中定位多个感兴趣物体的方法和设备。利用三幅近似垂直视角下的投影图像，实现感兴趣物体的三维空间定位。该方法对于扫描视野中存在多个感兴趣物的情况，仍然能够快速的确定CT图像中的感兴趣区物体的位置，并且无需对CT图像进行预重建，算法中也不涉及迭代步骤，方法快速、有效，能够很好地适用于工程应用。
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公开(公告)号：CN105806856A
公开(公告)日：2016-07-27
申请号：CN201410842363.X
申请日：2014-12-30
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G06T11/003 , G01N23/04 , G06T7/0002 , G06T11/008 , G06T2207/10081 , G06T2207/30112 , G06T2211/408
Abstract: 公开了一种双能射线成像方法和系统。该方法包括：利用标定的曲面拟合方法计算两种材料重叠区域的材料质量厚度，再将该像素原始的一对高低能数据分解为对应两种材料的两组高低能数据，最后计算得到每一个像素不同材料的分解结果。该发明的独特优势在于能够消除由于两种材料前后重叠导致的材料错误识别问题，可以实现多种材料的分层成像，有效提高物质识别的准确性，降低误报率和漏报率，特别是对于安检、海关缉私等领域的应用具有十分重要的意义。
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公开(公告)号：CN104915156A
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：CN201410091610.7
申请日：2014-03-13
Applicant: 北京固鸿科技有限公司 , 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明涉及三维实体结构复制方法及其装置。本发明的三维实体结构复制方法具备如下步骤：（1）一边使三维实体旋转，一边使X射线束照射所述三维实体，利用探测器探测透过所述三维实体的X射线，获得从不同角度穿透所述三维实体的射线束，形成图像数据；（2）通过对所述图像数据进行三维重建处理，从而获得包含所述三维实体的结构信息的连续多个断层的射线衰减系数分布图像数据，并且，从所述射线衰减系数分布图像数据中提取出所述三维实体的三维结构数据；（3）对所述三维结构数据进行分层切片，利用三维快速成型装置根据每层的成型数据逐层地打印获得具有一定强度的层片，通过将所述层片层层叠加结合成为与所述三维结构数据对应的三维实体。
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公开(公告)号：CN102376096B
公开(公告)日：2014-01-29
申请号：CN201010257010.5
申请日：2010-08-18
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: A61B6/03 , G06T11/006 , G06T2211/416 , G06T2211/421
Abstract: 本发明公开了一种PI线选取和采样方法和装置以及CT图像重建方法和装置。本发明PI线选取和采样方法包括步骤：在螺旋轨道上选取在XY平面上投影互相平行且等间距分布的PI线和在所述PI线上等距离选取采样点。本发明CT图像重建方法的技术方案根据本发明PI线选取和采样方法所得到的PI线所相关的投影数据重建所选取的采样点并把上述重建结果采样成直角坐标系下的均匀像素。本发明PI线选取和采样装置以及CT图像重建装置的技术方案分别对应于本发明PI线选取和采样方法以及CT图像重建方法的技术方案。采样本发明的技术方案能够得到全局一致性的采样点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102175698B
公开(公告)日：2013-09-04
申请号：CN201010621626.6
申请日：2007-11-15
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/04 , G01N23/087
Abstract: 本发明公开了一种物质识别系统中创建分类曲线的方法和设备，该方法包括步骤：针对多种标定材料中的每种标定材料：用高能射线和低能射线照射各种厚度下标定材料来获得相应的高能透明度和低能透明度；将高能透明度的第一函数作为横坐标，将低能透明度和高能透明度二者的第二函数作为纵坐标来形成标定材料在不同厚度下的点；以及基于所述的点形成所述分类曲线。利用本发明，不仅能够获得被检查物体的透射图像，而且能够获得被检查物体中的材料信息。
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公开(公告)号：CN101726503B
公开(公告)日：2012-08-29
申请号：CN200810224362.3
申请日：2008-10-17
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/083 , G01N23/04 , A61B6/03
Abstract: 涉及X射线层析相衬成像系统及方法，包括：X射线装置，向被检测物体发射X射线束；光栅子系统，包括第一和第二吸收光栅，位于X射线束方向上，被检测物体折射的X射线经该第一和第二吸收光栅形成强度变化的X射线信号；检测单元，接收强度变化的X射线并转换为电信号；和数据处理单元，处理并提取该电信号中折射角信息，并利用折射角信息计算出像素信息；相对移动装置，用于使得所述被检测的物体相对于所述成像系统相对地移动。在所述成像系统与被检测物体的一定相对移动范围内，在多个位置处，所述成像系统对被检测物体进行相衬成像，由此取得被检测物体的多个图像。所述多个图像经过转换变成同一个重建平面上的图像，并由此进行三维图像重建。
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公开(公告)号：CN101561405A
公开(公告)日：2009-10-21
申请号：CN200810104271.6
申请日：2008-04-17
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
CPC classification number: G01V5/005 , G01B15/00 , G01V5/0016 , G03B42/00
Abstract: 一种直线轨迹扫描成像系统和方法，该成像系统包括：射线发生单元，包含多个射线源，所述多个射线源交替出束，在同一时间只有一个射线源出束；传动装置，用于使检查对象与所述直线轨迹扫描系统沿直线轨迹相对运动，从而使检查对象穿过所述直线轨迹扫描成像系统的扫描区域；数据采集单元，对于每个射线源，分别采集检查对象的投影数据；成像单元，根据对于每个射线源采集的投影数据，重建所述检查对象的图像；显示单元，用于显示重建的图像。通过采用多个按照一定的空间分布排列，并以一定的时间顺序交替出束的射线源，可以以较短的探测器长度获得较大的扫描视角，从而减少系统所需探测器单元数量并缩小被检物体的总扫描距离。
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公开(公告)号：CN101435783A
公开(公告)日：2009-05-20
申请号：CN200710177405.2
申请日：2007-11-15
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/04 , G01N23/087 , G01N23/10
CPC classification number: G01N23/04 , G01N23/087 , G01N2223/423
Abstract: 公开了一种物质识别方法和设备，该方法包括步骤：用高能射线和低能射线透射被检物体，以获得被检物体的高能透射图像和低能透射图像，所述高能图像中的每个像素的值表示高能射线对被检物体的相应部分的高能透明度，而所述低能图像中每个像素的值表示低能射线对被检物体的相应部分的低能透明度；针对每个像素，计算所述高能透明度的第一函数的值和所述高能透明度和所述低能透明度的第二函数的值；以及通过利用预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物质的类型。利用本发明，不仅能够获得被检查物体的透射图像，而且能够获得被检查物体中的材料信息。
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公开(公告)号：CN101071111A
公开(公告)日：2007-11-14
申请号：CN200610076574.2
申请日：2006-05-08
Applicant: 清华大学 , 清华同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N23/046 , G01N2223/419 , G01T1/2985 , G01V5/005 , G06T7/0004
Abstract: 本发明涉及辐射检测技术领域，公开了一种多视角航空集装箱安全检查系统及方法，所述系统包括用于承载集装箱的转台，以及射线发生装置，用于产生透射集装箱的射线束，该射线束透射集装箱后被扫描装置接收；扫描装置，用于接收透射集装箱射线束的透射数据，并将获取的透射数据发送给主控及数据处理计算机；主控及数据处理计算机，用于提供人机交互界面，将接收自扫描装置的透射数据重建为图像并显示。利用本发明，能够实现对航空集装箱的快速安全检查，大大提高了航空集装箱的安全检查效率，满足了航空港对大量货物快速进行安全检查的需要，有效解决了透视图像物品相互叠加的问题，提高了对物品检查的准确率，非常有利于对违禁品的检查。
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