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公开(公告)号：CN2833581Y
公开(公告)日：2006-11-01
申请号：CN200520023299.9
申请日：2005-09-22
Applicant: 清华同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本实用新型公开了一种可调节探测器固定位置的装置，适用于利用射线源对液体物品进行CT安全检查的设备之中。它包括可固定在基板上、带横滑槽的基座和可嵌入横滑槽中、可安装探测器模块的滑架。滑架由在基板上固定的架板的测微头调整横向位移。基座上设有使滑架定位与固定的螺钉。本实用新型装置结构紧凑，可以精细地调节安装在其上的探测器，应用在辐射成像液体检查设备之中。
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公开(公告)号：CN2752760Y
公开(公告)日：2006-01-18
申请号：CN200420009911.2
申请日：2004-11-26
Applicant: 清华大学 , 清华同方威视技术股份有限公司
Abstract: 一种用放射源对液体进行安全检测的装置，涉及辐射检测技术领域。本实用新型中，放射源置于屏蔽式准直器内，屏蔽式准直器置于可放置被检物品的传送机构一侧。传送机构另一侧依次安装后准直器和探测器使放射源发出的射线光束穿出屏蔽式准直器后正对后准直器和探测器。探测器的信号输出线与数据采集器连接，数据采集器和安装在传送机构两侧的厚度测量探头的数据输出线均与数据处理计算机连接。同现有技术相比，本实用新型不受液体物品外包装的影响、抗干扰性强，具有体积小、检测的准确性高、易于屏蔽、使用安全可靠的特点。
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公开(公告)号：CN119723124A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202510228639.3
申请日：2025-02-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种电子产品的风险检测方法和风险检测设备，应用于射线检测技术领域。该方法包括：根据获取的产品重量信息和基准重量信息，确定重量差异信息；根据获取的第一图像和第二图像，确定待检产品与基准产品的射线衰减度平面二维分布图像的峰值信噪比，峰值信噪比表征待检产品与基准产品之间的整体相似性；根据获取的第一图像和第二图像，确定待检产品与基准产品的射线衰减度平面二维分布图像的减影值，减影值表征待检产品与基准产品之间的局部差异性；根据重量差异信息、峰值信噪比和减影值，确定待检产品的风险程度。本发明通过较低的射线能量和剂量可以减小检测成本和减小防护难度。
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公开(公告)号：CN108761555B
公开(公告)日：2024-06-21
申请号：CN201810560645.9
申请日：2018-05-25
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种集装箱车辆检查系统和集装箱车辆检查方法。集装箱车辆检查系统具有供集装箱车辆通过的沿第一方向延伸的扫描通道，包括：扫描设备，包括用于输出辐射束以检查集装箱车辆的辐射源；多个区域激光传感装置，沿所述第一方向间隔布置，每个所述区域激光传感装置具有用于感测集装箱车辆的感测区域并检测集装箱车辆进入其感测区域和/或离开其感测区域的感测信息；和控制装置，与所述扫描设备和所述多个区域激光传感装置信号连接，并根据所述多个区域激光传感装置的感测信息操纵所述扫描设备检查集装箱车辆。基于本发明提供的集装箱车辆检查系统和集装箱车辆检查方法，利于准确判断车辆位置，并能够减少误动作，提升检查成功率。
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公开(公告)号：CN107966460B
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN201711429492.6
申请日：2017-12-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种辐射检查系统和辐射检查方法。辐射检查系统包括辐射源和射束调制装置，射束调制装置包括设置于辐射源的射束出射侧的第一准直结构和设置于第一准直结构的射束出射侧的第二准直结构，第二准直结构与第一准直结构相对可动地设置以改变第一准直结构的第一准直口和第二准直结构的第二准直口的相对位置，使射束调制装置在第一工作状态和第二工作状态之间切换，其中，在第一工作状态，射束调制装置将初始射束调制为扇形束，在第二工作状态，射束调制装置将初始射束调制为位置可变的笔形束。本发明的辐射检查系统和辐射检查方法可以兼顾检查效率和检查精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117907369A
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202311855967.3
申请日：2023-12-29
Applicant: 清华大学
Abstract: 本申请涉及一种浓度检测装置、方法、存储介质和程序产品，浓度检测装置包括脉冲中子源、测量槽、衰减器、探测器和处理设备，测量槽内容纳有第一溶液和中子毒物元素；脉冲中子源，用于产生入射至测量槽的中子；中子用于与第一溶液产生的核素发生反应生成第一伽马信号，及与中子毒物元素发生反应生成第二伽马信号；衰减器，用于对第一伽马信号和第二伽马信号进行衰减，并向探测器输出衰减后的第一伽马信号和衰减后的第二伽马信号；探测器，用于探测并输出衰减后的第一伽马信号和衰减后的第二伽马信号至处理设备；处理设备，用于根据衰减后的第一伽马信号和衰减后的第二伽马信号，对中子毒物元素的浓度进行检测，中子毒物元素的浓度更精确。
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公开(公告)号：CN117607932A
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311801406.5
申请日：2023-12-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本发明一种移动式辐射探测设备，包括：可移动安装架(1)；辐射探测器(2)，相对所述可移动安装架(1)可动地安装于所述可移动安装架(1)上，辐射探测器(2)用于探测待测物的辐射种类和/或辐射剂量；调节装置，设于所述辐射探测器(2)和所述可移动安装架(1)之间，用于调节所述辐射探测器(2)相对所述可移动安装架(1)的高度和/或角度；其中，所述移动式辐射探测设备探测待测物时通过移动所述可移动安装架(1)和通过调节所述辐射探测器(2)相对所述可移动安装架(1)的高度和/或角度以使所述辐射探测器(2)靠近和对准待测物。
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公开(公告)号：CN108254395B
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN201711456583.9
申请日：2017-12-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明公开了一种扫描图像校正装置、方法和移动式扫描设备。该装置包括：图像采集模块，被配置为在使用移动式图像扫描设备扫描受检物的扫描过程中，采集受检物的扫描图像，确定扫描图像的图像参数；臂摆检测模块，被配置为在扫描过程中，检测探测器臂在指定方向上的位移偏移量，并建立探测器臂的臂摆模型，以拟合探测器臂的位移偏移量与扫描过程中的时间的函数关系；图像参数校正模块，被配置为通过臂摆模型和扫描图像的图像参数，确定扫描图像的图像参数随探测器臂的位移偏移量的变化关系，并基于变化关系对扫描图像进行校正。根据本发明实施例提供的扫描图像校正装置，可以改善扫描图像的成像质量，获得较好的扫描图像校正效果。
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公开(公告)号：CN114594113A
公开(公告)日：2022-06-07
申请号：CN202210203812.0
申请日：2022-03-02
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明提供一种单源双射线成像检测方法及装置，方法包括：根据被检测物体的中子成像检测数据和X射线成像检测数据，确定被检测物体对于中子和X射线的透射衰减量；根据被检测物体对于中子和X射线的透射衰减量，计算被检测物体的材料属性参数；统计材料属性参数的分布，拟合出材料属性参数的高斯分布曲线；根据预设的判别阈值，对高斯分布曲线中超出预设分布范围的材料属性参数进行标记；根据标记出的材料属性参数确定被检测物体中目标对象的位置。在拟合出的材料属性参数高斯分布曲线中，对超出分布范围的属性参数进行标记，根据标记出的属性参数确定目标对象的位置，能够对被检测物体中目标对象的位置进行准确定位，提高了检测的精确度。
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公开(公告)号：CN113376680A
公开(公告)日：2021-09-10
申请号：CN202010159557.5
申请日：2020-03-09
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/24
Abstract: 本公开的实施例公开了一种用于半导体探测器的读出电路，包括：波形读取电路，被配置为从所述半导体探测器读取阴极信号，并且输出阴极信号的波形信号；以及专用集成电路(ASIC)电路，被配置为从所述半导体探测器读出至少一个阳极信号，并且输出所述至少一个阳极信号中的每一个阳极信号的过阈时刻和幅度。
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