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公开(公告)号：CN105407805B
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201480043539.3
申请日：2014-07-23
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 谢强
IPC: A61B6/03
CPC classification number: G06T11/008 , A61B6/03 , A61B6/032 , A61B6/5205 , A61B6/5258 , G06T7/0012 , G06T2207/10081 , G06T2207/20172 , G06T2207/30004 , G06T2211/416
Abstract: 一种系统和方法包括使用CT成像系统从对象获取投射集合，并根据所述投射集合重构被扫描的对象的初始图像，所重构的初始图像包含多个像素。该系统和方法还包括在所述多个像素内识别候选像素，对所述候选像素应用非线性强化以便迭代地调整所述候选像素的强度值，以及使用所述候选像素的已调整的强度值来生成最终图像。
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公开(公告)号：CN106994021A
公开(公告)日：2017-08-01
申请号：CN201610044149.9
申请日：2016-01-22
Applicant: 通用电气公司
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/03 , A61B6/5258
Abstract: 本发明涉及一种计算CT影像上的噪声的方法及装置。该方法包括：在当前CT影像上选取感兴趣区域；计算感兴趣区域内的软组织的比例；以及当比例小于预先设定的软组织比例门限值时，根据预先设定的噪声模型和生成当前CT影像采用的多个扫描参数计算所述噪声。
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公开(公告)号：CN102846333B
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201210220584.4
申请日：2012-06-29
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/06 , A61B6/4085 , A61B6/4291 , A61B6/483 , A61B6/5205 , A61B6/5282
Abstract: 本发明的名称为：“用于X射线成像中的散射校正的方法和系统”。公开用于使用散射X射线的反向跟踪来得出散射信息的方式。在某些实施例中，与从源进行到探测器的跟踪方案相反，跟踪从探测器上的相应位置到X射线辐射源的散射射线。在一种这样的方式中，反向跟踪使用密度积分容积来实现，这减少所执行的积分步骤。
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公开(公告)号：CN102217947B
公开(公告)日：2016-05-18
申请号：CN201010625184.2
申请日：2010-12-27
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/4035 , A61B6/032 , A61B6/4007 , A61B6/405 , A61B6/4241 , A61B6/482
Abstract: 本发明名称为“获取多能量CT成像数据的系统及方法”。一种CT系统(10)，包括：旋转机架(12)，具有用于接收要扫描的目标(22)的开口(48)，以及控制器(28)，配置成：对于第一时间时期(454)应用第一kVp(452)，对于第二时间时期(458)应用第二kVp(456)，其中第二时间时期(458)不同于第一时间时期(454)，在第一时间时期(454)的至少一部分期间获取第一非对称视图数据集(550)，在第二时间时期(458)的至少一部分期间获取第二非对称视图数据集(554)，以及使用所获取的第一和第二非对称视图数据集(550，554)来生成图像。
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公开(公告)号：CN102393528B
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201110207998.9
申请日：2011-07-15
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/4208 , G01T1/2985 , Y10T29/49002
Abstract: 本发明名称为计算机断层扫描的非对称减少的探测器及其制作方法，计算机断层扫描(CT)探测器阵列包括中心区域，中心区域围绕其中心轴基本上对称并且包括配置成在扫描期间获取来自第一数量的探测器行的CT数据的第一批多个x射线探测器单元，其中中心轴处于CT探测器阵列的通道方向(114)上，并且相对于CT探测器阵列的切片方向是横向的；第一侧翼耦合到中心区域的第一侧，以及第二侧翼耦合到与第一侧相对的中心区域的第二侧。第一侧翼和第二侧翼包括相应的第二和第三比多个x射线探测器单元，并且各配置成获取来自数量少于探测器行的第一数量的探测器行的CT数据。CT探测器阵列围绕中心区域的中心轴是非对称的。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102846333A
公开(公告)日：2013-01-02
申请号：CN201210220584.4
申请日：2012-06-29
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/06 , A61B6/4085 , A61B6/4291 , A61B6/483 , A61B6/5205 , A61B6/5282
Abstract: 本发明的名称为用于X射线成像中的散射校正的方法和系统。公开用于使用散射X射线的反向跟踪来得出散射信息的方式。在某些实施例中，与从源进行到探测器的跟踪方案相反，跟踪从探测器上的相应位置到X射线辐射源的散射射线。在一种这样的方式中，反向跟踪使用密度积分容积来实现，这减少所执行的积分步骤。
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公开(公告)号：CN1209999C
公开(公告)日：2005-07-13
申请号：CN98123961.7
申请日：1998-11-06
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 谢强
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/4085 , A61B6/4233 , A61B6/4411 , G01N23/046 , G01N2223/419 , Y10S378/901
Abstract: 一种双探测器元联组和三探测器元联组组合方案，它解决了探测器信道数与较少DAS信道数之间的冲突，而无需对硬件和软件进行较大的改变。在一个具体实施例中，在FOV以外探测器的一侧至少一部分探测器元用导线联接成对，即联组，以形成一组2毫米信道，而在FOV以外探测器的另一侧至少一部分探测器元联组，以形成一组3毫米信道。探测器元的这种联组避免了对已知的多片层CT系统的硬件和软件作较大的改变。
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公开(公告)号：CN106687043B
公开(公告)日：2021-02-09
申请号：CN201580049243.7
申请日：2015-08-04
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 一种成像系统包括计算X射线断层(CT)采集单元和处理单元。所述CT采集单元包括X射线源和CT检测器，所述CT检测器配置成收集待成像对象的CT成像数据。所述处理单元包括至少一个处理器，所述处理器可操作地连接到所述CT采集单元。所述处理单元配置成：在所述CT采集单元围绕所述待成像对象旋转期间，控制所述CT采集单元来收集至少一个样本投影；将所述至少一个样本投影的强度与参考投影的强度进行比较；基于所述至少一个样本投影的强度与所述参考投影的强度的比较，选择执行成像扫描的时间；以及控制所述CT采集单元执行所述成像扫描。
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公开(公告)号：CN106999128A
公开(公告)日：2017-08-01
申请号：CN201580063862.1
申请日：2015-08-13
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/4435 , A61B6/032 , A61B6/035 , A61B6/037 , A61B6/06 , A61B6/4007 , A61B6/4078 , A61B6/4241 , A61B6/4258 , A61B6/4266 , A61B6/4417 , A61B6/5205 , G06T5/002 , G06T7/11 , G06T7/97 , G06T2207/10108 , G06T2207/10116 , G06T2207/30004 , G06T2207/30196
Abstract: 提供一种成像系统，其包含：台架，具有贯穿其中的膛；多个图像检测器，附连到台架，并且围绕膛的圆周径向间隔，使得间隙沿膛的圆周存在于图像检测器之间；x射线源，附连到台架，其中x射线源跨膛将x射线传送到图像检测器中的至少两个；其中至少两个检测器检测发射辐射和x射线辐射。
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公开(公告)号：CN106256326A
公开(公告)日：2016-12-28
申请号：CN201510342785.5
申请日：2015-06-19
Applicant: 通用电气公司
IPC: A61B6/03
CPC classification number: G06T11/003 , A61B6/025 , A61B6/03 , A61B6/032 , A61B6/505 , A61B6/5223 , G06T7/0012 , G06T7/11 , G06T11/008 , G06T15/08 , G06T2207/10012 , G06T2207/10081 , G06T2207/30196
Abstract: 本发明提供了一种计算机断层扫描切片图像的生成系统及方法，该系统包括MIP图像生成模块、感兴趣区域确定模块、角度设定模块、曲线确定模块、匹配模块、切片生成模块。MIP图像生成模块生成重建图像的最大密度投影图像；感兴趣区域确定模块在原始切片中确定图像范围，并将最大密度投影图像在图像范围内的部分确定为感兴趣区域；角度设定模块多次旋转感兴趣区域至多个特定角度；曲线确定模块针对多个特定角度生成感兴趣区域的多个二维投影曲线；匹配模块根据多个二维投影曲线的特征选择与待诊断部位匹配的二维投影曲线；切片生成模块根据匹配曲线的特征及对应的特定角度确定切片位置范围及角度。
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