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公开(公告)号：CN101201576A
公开(公告)日：2008-06-18
申请号：CN200710307489.7
申请日：2007-11-12
Applicant: 株式会社理光
Abstract: 在一种成像设备和一种图像密度控制方法中，能够抑制为了成像之外的目的而消耗的色调剂的数量，并且能够对由于环境变化等因素导致的显影装置的显影能力的变化作出响应以便获得恒定的图像密度，图像密度被第一目标输出值修正装置在不消耗色调剂的情况下根据色调剂置换量而保持在一个基本固定的水平上，伴随由环境变化等因素引起的显影能力的变化的图像密度的调整是由第二目标输出值修正装置根据色调剂图案探测结果处理的。因此，与仅仅基于色调剂图案探测结果将图像密度保持在固定水平的情况相比，为了将图像密度维持在固定水平而对色调剂图案探测的频率可降低，因此，色调剂消耗量可以被抑制。
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公开(公告)号：CN101078900A
公开(公告)日：2007-11-28
申请号：CN200710105049.3
申请日：2007-05-22
Applicant: 株式会社理光
CPC classification number: G03G15/065 , G03G15/0131 , G03G15/0849 , G03G15/0853 , G03G15/5058 , G03G2215/00059
Abstract: 本发明涉及一种图像形成设备，其包括潜像载置部件；显影装置，其使用双成分显影剂来将潜像显影到图像载置部件上；显影电位形成装置，其用来形成显影电位；调色剂补充装置，其用来将调色剂提供到显影装置；调色剂浓度检测装置，其用来检测并输出显影剂中调色剂浓度；调色剂浓度控制装置，其用来比较调色剂浓度输出和调色剂浓度目标值以控制调色剂浓度；情报检测装置，其用来获取情报以确定在规定期间内，显影装置中的调色剂更换量；和显影电位修正装置，其依据从情报检测装置处获得的情报来调整显影电位。
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公开(公告)号：CN1892487A
公开(公告)日：2007-01-10
申请号：CN200610094200.3
申请日：2006-06-28
Applicant: 株式会社理光
CPC classification number: G03G15/5058 , G03G2215/00042 , G03G2215/00059 , G03G2215/0119
Abstract: 本发明涉及调色剂等粉体的附着量检测，提供可在附着量整个范围内始终进行稳定正确的附着量检测的附着量变换方法及图像形成装置。通过配置在与检测对象面相向的位置、可同时检测正反射光、漫反射光的光学检测手段，对检测对象面和多个连续形成在检测对象面上的附着量不同的灰度图样进行检测，对由该检测结果得到的灰度图样的正反射光输出电压和漫反射光输出电压的、相对于从正反射光输出中提取的正反射分量的相对输出比，乘以检测对象面的漫反射光输出电压、或由光学检测手段的发光手段熄灭时与漫反射光输出值的差分所得到的漫反射光输出电压增量，得到乘积数值，从漫反射光输出电压或漫反射光输出电压增量当中减去该乘积数值，求得漫反射光输出变换值，对该漫射光输出变换值进行多项式近似。
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公开(公告)号：CN1862414A
公开(公告)日：2006-11-15
申请号：CN200610079053.2
申请日：2006-04-29
Applicant: 株式会社理光
Inventor： 田中加余子 , 藤森仰太 , 长谷川真 , 加藤真治 , 竹内信贵 , 渡边直人 , 平山裕士 , 石桥均 , 有泉修 , 榎并崇史 , 小林一三 , 小林信二 , 内田福年 , 森本亮太
CPC classification number: G03G15/1605 , G03G15/235 , G03G15/6564 , G03G15/6567 , G03G2215/0158 , G03G2215/1623
Abstract: 提供一种可以抑制尺寸大型化，在空间制约多的图像形成装置内也可以在适宜的地方进行配置的，并且可以消除对光学特性的不良影响的光学检测装置。在检测对象上形成的“调色剂图像样”的光学检测装置中，至少具有印刷电路板76、在该印刷电路板上安装的发光元件71和受光元件74以及遮光部件75及77组成的光传感器。为了检测前述检测对象的表面，要至少将1个光传感器配置在上述印刷电路板76上，该印刷电路板上的光传感器电路构成部件78a，78b以及78c的一部分被收纳在前述遮光部件75及77中。
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