一种用于继电保护测试设备接入控制区的方法及系统

    公开(公告)号:CN118282900A

    公开(公告)日:2024-07-02

    申请号:CN202410208518.8

    申请日:2024-02-26

    Abstract: 本发明公开了一种用于继电保护测试设备接入控制区的方法及系统,属于电力系统继电保护技术领域。本发明方法,包括:基于现场校验移动终端在电网云获取检修任务,并将测试模版或测试命令下发至继电保护测试设备;将继电保护测试设备通过便携式运维网关接入变电站二次系统的控制区,控制继电保护测试设备基于测试模板或测试命令进行自动测试,并将测试结果数据,反馈至现场校验移动终端;基于现场校验移动终端根据所述测试结果数据,生成测试结果报告。本发明保证了现场检验继电保护测试设备与变电站继电保护装置功能和信息交互的安全性与可靠性,为智能变电站继电保护装置的可靠运行提供坚实的技术支撑。

    一种高精度高频率ADC数据采集的向量计算方法及系统

    公开(公告)号:CN116207696A

    公开(公告)日:2023-06-02

    申请号:CN202310149844.1

    申请日:2023-02-13

    Abstract: 本发明公开了一种高精度高频率ADC数据采集的向量计算方法及系统,其中,该方法包括:确定电网二次设备ADC芯片对交流电单周期采样点数N;基于正、余弦函数的对称性,将ADC芯片对交流电单周期内的N个采样点,映射成N/8点;根据N/8点复数,基于π/4或45°下正弦值等于余弦值,计算单周期内其余全部点的复数值;采用“减乘”和“加乘”数值推演算法,对单周期内其余全部点的复数值实现浮点运算;使用右移n‑1替代除法运算操作,将浮点计算转换为定点计算,完成采集数据的向量计算。

    一种评估二次设备存储异常风险点的方法及系统

    公开(公告)号:CN115421967B

    公开(公告)日:2022-12-30

    申请号:CN202211381393.6

    申请日:2022-11-04

    Abstract: 本发明提供一种评估二次设备存储异常风险点的方法及系统,所述方法结合存储芯片单粒子翻转特点和二次设备典型拓扑结构确定所述具备存储单元的芯片中的待评估存储异常风险点,并基于其数据特性,采用不同方法确定其原始软错误率,根据其加固特性和地理位置对原始错误率进行修正,以及考虑其使用频率和负载率得到其动态软错误率,最后根据动态软错误率的大小确定其风险等级。所述方法和系统实现了对二次设备中的潜在存储异常点的量化评估,能够指导厂家开展芯片选型,促进生产厂家加强风险点预防改进,研发高可靠性的二次设备,从而提升电网安全稳定运行的能力。

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