发光装置及电子机器
    42.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102244089B

    公开(公告)日:2014-09-10

    申请号:CN201110187972.2

    申请日:2007-01-23

    Abstract: 发光装置,具备:与选择信号对应地成为导通状态或截止状态的选择晶体管,与选择晶体管重叠,且形成开口部的绝缘层;第1电极与覆盖绝缘层的第2电极,至少在开口部的内侧隔着发光层相对的发光元件;通过成为导通状态的选择晶体管,按照由数据线供给的数据信号,控制供给发光元件的电流量的驱动晶体管;以及用电阻率比第2电极低的材料在绝缘层的面上形成,与第2电极导通的辅助布线,选择晶体管,与辅助布线重叠。能够降低发光装置的各部寄生电容。

    检测装置以及电子设备
    48.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101330089A

    公开(公告)日:2008-12-24

    申请号:CN200810127114.7

    申请日:2008-06-19

    Abstract: 本发明提供一种检测装置,具有:配置在基板上的扫描线(10)、检测线(14)、第1电源线(11a、11b)、第2电源线(12)、及对应于扫描线(10)与检测线(14)的交叉点而设置的像素电路(40)。像素电路(40)具有向检测线(14)供给与栅电极的电位对应的检测信号的放大晶体管(45);与放大晶体管(45)的栅电极连接,使放大晶体管(45)的栅极电位按照外界因素变化的检测元件;按照扫描线(10)的电位进行动作的复位晶体管(41);保持放大晶体管(45)的栅极电位的第1电容元件。扫描线(10)形成在与放大晶体管(45)的栅电极和复位晶体管(41)的栅电极不同的层中,且配置为在俯视情况下与复位晶体管(41)的栅电极的至少一部分重叠。

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