公开(公告)号：CN109425625B

公开(公告)日：2021-11-09

申请号：CN201811014175.2

申请日：2018-08-31

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 佐野哲 ,  白井太郎 ,  土岐贵弘 ,  堀场日明 ,  森本直树 ,  木村健士 ,  水岛洋

IPC: G01N23/201

Abstract: 提供一种X射线成像装置。该X射线成像装置具备：X射线源、包括第一光栅和第二光栅的多个光栅、检测器、使多个光栅分别转动的光栅转动机构以及至少生成暗场像的图像处理部。图像处理部构成为生成通过将光栅在与光轴方向正交的面内配置成多个角度而拍摄到的暗场像。

公开(公告)号：CN112189134A

公开(公告)日：2021-01-05

申请号：CN201980032436.X

申请日：2019-01-22

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 佐野哲 ,  田边晃一 ,  和田幸久 ,  德田敏 ,  堀场日明 ,  森本直树

IPC: G01N23/041

Abstract: 本X射线成像装置(100)具备摄像系统(CS)、移动机构(8)、位置信息获取部(7a)、以及图像处理部(6)，其中，所述摄像系统(CS)包括X射线源(1)、检测器(5)以及多个光栅，所述图像处理部(6)基于多个X射线图像(10)和获取到的断层位置(z+jd)来获取断层面(40)中的相位分布，由此生成断层面的相位对比度图像(16)。

公开(公告)号：CN111343921A

公开(公告)日：2020-06-26

申请号：CN201880073065.5

申请日：2018-11-08

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 田边晃一 ,  和田幸久 ,  徳田敏 ,  佐野哲 ,  堀场日明

IPC: A61B6/00 ,  G01N23/041

Abstract: 本发明的X射线摄影装置(100)构成为，图像处理部(50a)基于在相对于被摄物(T)的多个相对位置而在第一检测区域(R1)中获取的多个第一图像(71a)来生成相位对比度图像(71)，并且基于在相对于被摄物的多个相对位置而在第二检测区域(R2)中获取的多个第二图像(72a)来生成吸收像(72)。

公开(公告)号：CN110913764A

公开(公告)日：2020-03-24

申请号：CN201880046853.5

申请日：2018-09-18

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 白井太郎 ,  木村健士 ,  土岐贵弘 ,  佐野哲 ,  堀场日明 ,  森本直树

IPC: A61B6/00

Abstract: 本发明的X射线相位差摄影系统(100)包括X射线源(1)、多个光栅、检测器(4)及图像处理部(6)，图像处理部(6)构成为基于由第一X射线图像(9a)及第二X射线图像(9b)再建的第一相位对比度图像(10a)，来修正由第一X射线图像(9a)及第三X射线图像(9c)再建的第二相位对比度图像(10b)的伪影。

公开(公告)号：CN109788928A

公开(公告)日：2019-05-21

申请号：CN201780059883.5

申请日：2017-07-28

Applicant: 株式会社岛津制作所 ,  国立大学法人大阪大学

Inventor： 佐野哲 ,  田边晃一 ,  吉牟田利典 ,  木村健士 ,  岸原弘之 ,  和田幸久 ,  和泉拓朗 ,  白井太郎 ,  土岐贵弘 ,  堀场日明 ,  志村考功 ,  渡部平司 ,  细井卓治

IPC: A61B6/00 ,  G01N23/20

Abstract: 提供一种能够支持多种拍摄目的的X射线相位差摄影装置。本发明的装置能够变更多缝(3b)的狭缝的排列间距以及相位光栅(5)的相位移位部(5a)的排列间距。多缝(3b)、相位光栅(5)、FPD(4)的位置关系由多缝(3b)的狭缝的排列间距、相位光栅(5)的相位移位部(5a)的排列间距、以及FPD(4)的检测元件的排列间距来决定。根据本发明，通过变更其中的狭缝的排列间距和相位移位部(5a)的排列间距，能够变更多缝(3b)、相位光栅(5)、FPD(4)的位置关系。

公开(公告)号：CN109283200A

公开(公告)日：2019-01-29

申请号：CN201810803685.1

申请日：2018-07-20

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 佐野哲 ,  白井太郎 ,  土岐贵弘 ,  堀场日明 ,  森本直树

IPC: G01N23/041

Abstract: 本发明提供一种X射线相位成像装置和含有纤维的材料的缺陷检测方法。该X射线相位成像装置具备控制部，该控制部基于材料的暗场像来获取与材料的缺陷有关的信息。

公开(公告)号：CN108236473A

公开(公告)日：2018-07-03

申请号：CN201710898567.9

申请日：2017-09-28

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 佐野哲 ,  白井太郎 ,  土岐贵弘 ,  堀场日明

IPC: A61B6/00 ,  A61B6/10

Abstract: 本发明提供一种X射线相位摄影装置。该X射线相位摄影装置具备X射线源、检测器、包括相位光栅和吸收光栅的多个光栅以及生成包含暗视场像的图像的图像处理部，其中，图像处理部构成为根据将多个光栅以成为一个或两个规定相对位置关系的方式进行配置并进行拍摄所得到的图像来生成包含暗视场像的图像。

公开(公告)号：CN108201444A

公开(公告)日：2018-06-26

申请号：CN201710833669.2

申请日：2017-09-15

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 佐野哲 ,  白井太郎 ,  土岐贵弘 ,  堀场日明

IPC: A61B6/00 ,  A61B6/06

CPC classification number: G01N23/046 ,  G01N23/207 ,  G01N2223/419 ,  G21K1/067

Abstract: 本发明提供一种X射线相位摄影装置。该X射线相位摄影装置构成为具备图像生成部，该图像生成部基于在X射线源与相位光栅之间或者在相位光栅与吸收光栅之间配置有被摄体的情况下的表示X射线的强度变化的步进曲线与未配置被摄体的情况下的步进曲线之间的相位差来生成X射线相位对比度图像，该X射线相位摄影装置基于多个步进曲线来获取多个光栅的相对位置的偏移量。

公开(公告)号：CN107427269A

公开(公告)日：2017-12-01

申请号：CN201580077485.7

申请日：2015-03-06

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 佐野哲 ,  佐藤敏幸 ,  田边晃一 ,  古井真悟 ,  吉牟田利典 ,  岸原弘之 ,  土岐贵弘 ,  堀场日明

IPC: A61B6/00

Abstract: 提供一种将相位光栅与放射线检测器之间的分离距离最优化的放射线相位差摄影装置。即，根据本发明，以检测面(4a)中拍进的自身像被噪声扰乱了何种程度为基准来决定相位光栅(5)与FPD(4)的检测面(4a)之间的分离距离。即，在本发明的结构中，将噪声的影响的大小确定为分离距离的评价的基准。而且，根据本发明，基于在将相位光栅(5)与FPD(4)的检测面(4a)之间的距离设为某个距离(Zd)时得到的自身图像上的自身像被噪声扰乱了何种程度来判断距离(Zd)是否适于摄影。这样，能够基于照射多个种类的X射线的实际的X射线源(3)的实际情况来实现分离距离的最优化。