-
公开(公告)号：CN101603928A
公开(公告)日：2009-12-16
申请号：CN200810114814.2
申请日：2008-06-12
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: H05G1/02
Abstract: 本发明公开了一种用于辐射装置的调节定位装置，包括：夹紧装置，所述夹紧装置可分离地连接到辐射装置上以夹紧所述辐射装置；支座，所述夹紧装置连接到所述支座上并且在其之间限定一滑动路径，其中夹紧所述辐射装置的所述夹紧装置可在预定方向上沿所述滑动路径移动；以及调节装置，所述调节装置与所述夹紧装置相结合，以驱动所述夹紧装置沿所述滑动路径移动。由于本发明采用了上述技术方案，可以方便地对辐射装置例如X光机的位置进行调节，从而能够实现对辐射装置的精确定位，并且能够获得满意的定位精度。
-
公开(公告)号：CN101598799A
公开(公告)日：2009-12-09
申请号：CN200810114448.0
申请日：2008-06-05
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/22
Abstract: 本发明公开了一种切伦科夫探测器，包括：切伦科夫辐射体，用于发射出切伦科夫光；光电二极管，与所述切伦科夫辐射体的一端耦合连接；反光膜，镀在所述切伦科夫辐射体除与所述光电二极管耦合的端面外的其余面上；避光层，设置在所述切伦科夫辐射体、光电二极管、反光膜外，所述光电二极管的引线从所述避光层中引出。本发明采用了光电二极管作为读出器件，使其在辐射成像领域中工作更加稳定、可靠；通过反射膜的设计提高光的收集效率；因为切伦科夫辐射体透光性能好，可以沿射线入射方向做得很长，从而提高对X射线的探测效率，提高最终的切伦科夫信号输出值，这些措施增强了切仑柯夫探测器在辐射成像领域的可用性。
-
公开(公告)号：CN100483120C
公开(公告)日：2009-04-29
申请号：CN200610127652.7
申请日：2006-09-05
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/08
CPC classification number: G01N23/10
Abstract: 公开了一种用射线对液态物品进行安全检查的方法及设备，其涉及辐射检查技术领域。本发明方法包括：获取环境初始信息；发出射线束以透射所述液态物品；接收透射过所述液态物品的射线束，以形成多角度投影数据；基于所述环境初始信息和所述液态物品的均匀性，通过对所述多角度投影数据进行求逆运算，来计算得到被检液态物品的射线吸收系数；以及将所述射线吸收系数与预设数据进行比对，得到被检液态物品的相关信息。同现有技术相比，本发明不受液态物品外包装的影响、抗干扰性强，检查的准确性高、使用安全可靠、造价低、尺寸小的特点。
-
公开(公告)号：CN101140247A
公开(公告)日：2008-03-12
申请号：CN200610127652.7
申请日：2006-09-05
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/08
CPC classification number: G01N23/10
Abstract: 公开了一种用射线对液态物品进行安全检查的方法及设备，其涉及辐射检查技术领域。本发明方法包括：获取环境初始信息；发出射线束以透射所述液态物品；接收透射过所述液态物品的射线束，以形成多角度投影数据；基于所述环境初始信息和所述液态物品的均匀性，通过对所述多角度投影数据进行求逆运算，来计算得到被检液态物品的射线吸收系数；以及将所述射线吸收系数与预设数据进行比对，得到被检液态物品的相关信息。同现有技术相比，本发明不受液态物品外包装的影响、抗干扰性强，检查的准确性高、使用安全可靠、造价低、尺寸小的特点。
-
公开(公告)号：CN114594113B
公开(公告)日：2025-04-01
申请号：CN202210203812.0
申请日：2022-03-02
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明提供一种单源双射线成像检测方法及装置，方法包括：根据被检测物体的中子成像检测数据和X射线成像检测数据，确定被检测物体对于中子和X射线的透射衰减量；根据被检测物体对于中子和X射线的透射衰减量，计算被检测物体的材料属性参数；统计材料属性参数的分布，拟合出材料属性参数的高斯分布曲线；根据预设的判别阈值，对高斯分布曲线中超出预设分布范围的材料属性参数进行标记；根据标记出的材料属性参数确定被检测物体中目标对象的位置。在拟合出的材料属性参数高斯分布曲线中，对超出分布范围的属性参数进行标记，根据标记出的属性参数确定目标对象的位置，能够对被检测物体中目标对象的位置进行准确定位，提高了检测的精确度。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109375250B
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN201811580796.7
申请日：2018-12-24
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01T1/36
Abstract: 本公开提供了一种探测器系统和辐射成像装置。探测器系统包括：探测器，包括重叠设置的多层探测器层，探测器层包括探测器元件层，多层探测器层中至少部分探测器层沿探测器层的厚度方向可移动；距离调节装置，与多层探测器层中至少部分探测器层驱动连接，距离调节装置通过沿探测器层的厚度方向移动至少部分探测器层调节探测器的相邻的探测器层的层间距离。辐射器成像装置包括前述的探测器系统。本公开的探测器系统和辐射成像装置利于实现全方向、高效率和高角度分辨的探测效果。
-
公开(公告)号：CN109828310B
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN201811632241.2
申请日：2018-12-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/22
Abstract: 本发明公开了一种用于移动的车辆的安检设备和安检方法。安检设备包括至少一个支架，所述至少一个支架限定沿第一方向延伸的检查通道，其中至少一个支架包括用于垂直扫描的第一支架。第一支架包括垂直视角扫描装置，所述垂直视角扫描装置包括设置在第一支架的顶侧支架部的第一X射线加速器，第一X射线加速器的张角在69至120度之间。
-
公开(公告)号：CN108120729B
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN201711451912.0
申请日：2017-12-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明涉及CT检测技术领域，特别涉及一种CT检查系统和CT成像方法。本发明所提供的CT检查系统，包括放射源装置、探测装置、旋转监控装置和成像装置，其中：探测装置获取探测数据的频率为放射源装置出束频率的N倍；旋转监控装置检测探测装置的旋转角度并在探测装置每旋转预设角度时向成像装置发送信号；成像装置根据旋转监控装置所发送的信号以及探测装置的探测数据确定放射源装置每次出束时探测装置的转动位置信息，并基于放射源装置每次出束时探测装置的探测数据及转动位置信息生成CT图像。本发明能够较为准确地确定放射源装置每次出束时探测装置的转动位置信息，从而可以有效减少图像形变，提高检测结果的准确性。
-
公开(公告)号：CN108036778B
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN201711431609.4
申请日：2017-12-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01C15/00
Abstract: 本发明涉及一种集装箱自动识别系统和识别方法以及港口设施。其中，集装箱自动识别系统，用于识别集装箱，其包括区域激光扫描仪和标识信息获取装置，区域激光扫描仪用于发射多个激光束信号以形成激光束扫描扇形区域来检测集装箱的位置，标识信息获取装置用于根据集装箱的位置指示来获取集装箱上的标识信息。本发明集装箱自动识别系统和方法使用区域激光扫描仪用作集装箱位置检测元件，而且仅需设置一台，相较于现有的多组对射式或反射式光电传感器来定位集装箱的方式，简化了结构，而且降低了集装箱自动识别系统中元器件安装位置要求，方便了系统的安装与调试。
-
公开(公告)号：CN117214942B
公开(公告)日：2024-02-09
申请号：CN202311468073.9
申请日：2023-11-07
Applicant: 清华大学
IPC: G01T1/24 , H01L31/02 , H01L31/0224 , H01L31/08 , H01L31/18
Abstract: 本发明的实施例提供了一种高纯锗探测器，涉及半导体器件技术领域，包括：晶体盒，限定出容纳空间；前端电子学，与晶体盒固定连接；高纯锗晶体，设置在容纳空间内，具有第一区域，第一区域的外表面分布有接触电极；金属电极，设置在接触电极上且远离高纯锗晶体的中心区域；晶体盒固定结构，用于将高纯锗晶体固定在晶体盒内；邦定金属丝，邦定金属丝的一端与金属电极接触，另一端与前端电子学电连接。通过引入邦定金属丝将高纯锗晶体的接触电极与前端电子学连接起来，从而以极低的物料、极低的本底实现探测器信号引出，解决现有探测器信号引出方式本底高的问题，在保持性能稳定的同时有效降低高纯锗探测器的本底，提高能量分辨率和最小可探测活度。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
246
records
(took 0.054 seconds)
