公开(公告)号：CN1977187B

公开(公告)日：2010-05-26

申请号：CN200580022085.2

申请日：2005-06-13

Applicant: 罗伯特·博世有限公司

Inventor： U·斯库特蒂-贝茨 ,  B·哈塞 ,  M·马哈勒 ,  U·霍夫曼 ,  R·克拉普夫 ,  C·韦兰德 ,  F·维沃斯

IPC: G01V3/12 ,  G01V3/08

CPC classification number: G01V3/081 ,  G01V3/12

Abstract: 本发明涉及一种用于穿透材料地定位测量信号的方法，尤其是涉及一种在墙壁、天花板和地板上穿透材料的定位方法。根据本发明建议了，高频发射器(20，120)发射出在千兆赫频率范围中的测量信号(22，122)，该测量信号(22，122)至少一次穿透材料(10)，并且为了定位穿透位置(18)而由高频接收器(24，124)来检测该测量信号(22，122)。此外，本发明涉及一种用于执行该方法的装置。

公开(公告)号：CN1954240B

公开(公告)日：2010-05-26

申请号：CN200580015139.2

申请日：2005-03-21

Applicant: 罗伯特·博世有限公司

Inventor： U·斯库尔特蒂-贝茨 ,  B·哈泽 ,  M·马勒 ,  U·霍夫曼 ,  R·克拉普夫 ,  C·韦兰

IPC: G01V3/15 ,  G01V3/08

CPC classification number: G01V3/15 ,  G01V3/088

Abstract: 本发明涉及一种用于对于被包围在介质中的物体进行探测的测位仪、特别是手持测位仪。该测位仪具有用于探测被包围在介质中的物体的第一装置、并且具有一个用于测位仪测量信号的控制及分析单元。根据本发明建议，该测位仪(56、57、58)具有第二探测装置(62、68、80、81)，这些探测装置使得对于测位仪(56、57、58)到介质(66)表面(65)的预先规定的距离d进行探测成为可能。此外，本发明还涉及一种用于校准测量仪的方法、特别是用于校准对于被包围在一种介质中的物体进行探测用的手持测位仪的方法，其中，只是在对于测量仪(56、57、58)到介质(66)表面(65)的距离d进行测量至少一次之后才进行用于校准测量仪(56、57、58)的基准测量。

公开(公告)号：CN1977187A

公开(公告)日：2007-06-06

申请号：CN200580022085.2

申请日：2005-06-13

Applicant: 罗伯特·博世有限公司

Inventor： U·斯库特蒂-贝茨 ,  B·哈塞 ,  M·马哈勒 ,  U·霍夫曼 ,  R·克拉普夫 ,  C·韦兰德 ,  F·维沃斯

IPC: G01V3/12 ,  G01V3/08

CPC classification number: G01V3/081 ,  G01V3/12

Abstract: 本发明涉及一种用于穿透材料地定位测量信号的方法，尤其是涉及一种在墙壁、天花板和地板上穿透材料的定位方法。根据本发明建议了，高频发射器(20，120)发射出在千兆赫频率范围中的测量信号(22，122)，该测量信号(22，122)至少一次穿透材料(10)，并且为了定位穿透位置(18)而由高频接收器(24，124)来检测该测量信号(22，122)。此外，本发明涉及一种用于执行该方法的装置。