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公开(公告)号：CN100382155C
公开(公告)日：2008-04-16
申请号：CN200410045735.2
申请日：2004-05-24
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/0045 , G11B7/0037
CPC classification number: G11B7/00454 , G11B7/0045 , G11B7/00456 , G11B7/0062 , G11B7/126
Abstract: 本发明提供一种信息记录媒体及其记录装置、方法、及其产品。是一种可以在补充记录型信息记录媒体上正确地记录信息的记录技术，以及利用该技术进行记录的信息记录媒体。对于标准时钟脉冲周期(Tw)，在与长度为nTw(而n≥2)的标识(21)对应的标识形成部分，生成有复合脉冲部(30)。复合脉冲部(30)由具有电平(a)的n-1个脉冲、和位于其之间的具有电平(b)(而b＜a)的n-2个脉冲所构成。并且，在紧接复合脉冲部(30)之后还形成具有电平(c)(而c＜a)的绝热脉冲(35)。在此绝热脉冲(35)和后续的复合脉冲部(30)之间，又形成与空白(22)对应的具有电平(d)(而c＜d＜a)的偏置部(36)。绝热脉冲(35)的时间长度(tc)被设定在tc≥Tw。
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公开(公告)号：CN1260714C
公开(公告)日：2006-06-21
申请号：CN03147426.8
申请日：1997-04-11
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B27/3027 , G11B7/00718 , G11B7/00745 , G11B7/013 , G11B20/10009 , G11B20/1252 , G11B27/19 , G11B2220/20
Abstract: 一种光学信息记录/再现装置，用于对在光盘基衬上交替地形成槽轨和脊轨的光学信息记录介质上的光学信息进行记录，再现和消除，它包括一个用于将代表位置值息的识别数据记录在预坑内的标题区，一个记录用户数据的数据区，预坑被组合成信息组，该信息组沿着径向朝着盘衬的内缘或外缘相距每个信息轨道的中心线交替地由约1/2信息轨距的移位。预坑沿径向有一个两倍大的轨距。
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公开(公告)号：CN1253863C
公开(公告)日：2006-04-26
申请号：CN03124995.7
申请日：1999-09-28
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/00 , G11B7/0045 , G11B7/125 , G11B11/10
CPC classification number: G11B7/0045 , G11B7/0062 , G11B7/126 , G11B7/1263 , G11B7/1267
Abstract: 提供在记录信息信号前通过测试记录适当地决定记录功率和记录脉冲边缘位置等记录条件从而可以进行精密的信息信号记录的光学信息记录装置、光学信息记录方法、及光学信息记录媒体。为了抑制因重写时的标记畸变引起的边缘间隔偏差，对该测试信号按每个扇区随机地移动其记录起始点后在光学信息记录媒体(1)的多个扇区上进行测试记录。系统控制电路(2)，计算从多个扇区再生后的测试信号的边缘间隔平均值，并求出该平均值与测试信号原有的边缘间隔的差分，从而决定对边缘位置的校正量。
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公开(公告)号：CN1627376A
公开(公告)日：2005-06-15
申请号：CN200410096374.4
申请日：2004-11-26
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/1267 , G11B2007/0013
Abstract: 一种在光信息记录介质上记录信息的方法，所述介质具有通过从一侧照射激光束来记录、重现或擦除数据的多个记录层，该方法包括：临时脉冲条件确定步骤；测试区域反射光测量步骤；最终脉冲条件确定步骤；和记录执行步骤。临时脉冲条件确定步骤包括，在测试记录层上执行测试记录，并且确定包括激光束强度的临时脉冲条件，其中所述测试记录层是多个记录层的至少一个记录层。测试区域反射光测量步骤包括，测量测试区域反射光能级，该能级是用于测试记录的一个区域中激光束的反射光能级。最终脉冲条件确定步骤包括，根据被测量的测试区域反射光能级校正临时脉冲条件，以便确定最终脉冲条件。记录执行步骤包括利用最终脉冲条件记录数据。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1606073A
公开(公告)日：2005-04-13
申请号：CN200410085724.7
申请日：2004-09-30
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/00 , G11B7/0045 , G11B7/24 , G11B20/10
CPC classification number: G11B7/00454 , G11B7/00736 , G11B7/2403 , G11B7/24038 , G11B7/24094 , G11B7/268 , G11B2007/0013
Abstract: 由于用于记录标识数据的条件根据如单层或多层结构等不同介质结构而发生变化，稳定的数据记录已经成为难题。为了解决该问题，用于在单层光盘5和双层光盘6上记录标识数据的激光束的入射侧是衬底1上记录了用户数据的位置相反侧。根据该结构，即使在双层光盘6中，该记录也不会受到第二层12b等记录层的影响。因此，在双层光盘6中，可以在与单层光盘5相同的条件下记录介质的标识数据。
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公开(公告)号：CN1501356A
公开(公告)日：2004-06-02
申请号：CN03124994.9
申请日：1999-09-28
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/00 , G11B7/0045 , G11B7/125 , G11B11/10
CPC classification number: G11B7/0045 , G11B7/0062 , G11B7/126 , G11B7/1263 , G11B7/1267
Abstract: 提供在记录信息信号前通过测试记录适当地决定记录功率和记录脉冲边缘位置等记录条件从而可以进行精密的信息信号记录的光学信息记录装置、光学信息记录方法、及光学信息记录媒体。为了抑制因重写时的标记畸变引起的边缘间隔偏差，对该测试信号按每个扇区随机地移动其记录起始点后在光学信息记录媒体(1)的多个扇区上进行测试记录。系统控制电路(2)，计算从多个扇区再生后的测试信号的边缘间隔平均值，并求出该平均值与测试信号原有的边缘间隔的差分，从而决定对边缘位置的校正量。
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公开(公告)号：CN1501355A
公开(公告)日：2004-06-02
申请号：CN03124993.0
申请日：1999-09-28
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/00 , G11B7/0045 , G11B7/125 , G11B11/10
CPC classification number: G11B7/0045 , G11B7/0062 , G11B7/126 , G11B7/1263 , G11B7/1267
Abstract: 提供在记录信息信号前通过测试记录适当地决定记录功率和记录脉冲边缘位置等记录条件从而可以进行精密的信息信号记录的光学信息记录装置、光学信息记录方法、及光学信息记录媒体。为了抑制因重写时的标记畸变引起的边缘间隔偏差，对该测试信号按每个扇区随机地移动其记录起始点后在光学信息记录媒体(1)的多个扇区上进行测试记录。系统控制电路(2)，计算从多个扇区再生后的测试信号的边缘间隔平均值，并求出该平均值与测试信号原有的边缘间隔的差分，从而决定对边缘位置的校正量。
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公开(公告)号：CN1475994A
公开(公告)日：2004-02-18
申请号：CN03128683.6
申请日：1996-07-08
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/0938 , G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B7/00718 , G11B7/00745 , G11B7/0904 , G11B7/24 , G11B7/24079 , G11B7/24085 , G11B11/10586
Abstract: 一种光信息记录介质，包括至少一个槽迹道和至少一个脊迹道，信息可以记录在该槽迹道或脊迹道上或从其上再生，该槽迹道和脊迹道彼此相邻，其中该光信息记录介质还包括：一个识别信号区，包括一预凹陷阵列，该预凹陷阵列表示关于该槽迹道或脊迹道的识别信息；以及一个伺服控制区，沿槽迹道及脊迹道位于识别信号区前，该伺服控制区包括摆动凹陷，定位为偏移到槽迹道或脊迹道的中心线的相对两侧。
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公开(公告)号：CN1250208A
公开(公告)日：2000-04-12
申请号：CN99122126.5
申请日：1999-09-28
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/0045 , G11B7/0062 , G11B7/126 , G11B7/1263 , G11B7/1267
Abstract: 提供在记录信息信号前通过测试记录适当地决定记录功率和记录脉冲边缘位置等记录条件从而可以进行精密的信息信号记录的光学信息记录装置、光学信息记录方法、及光学信息记录媒体。为了抑制因重写时的标记畸变引起的边缘间隔偏差,对该测试信号按每个扇区随机地移动其记录起始点后在光学信息记录媒体(1)的多个扇区上进行测试记录。系统控制电路(2),计算从多个扇区再生后的测试信号的边缘间隔平均值,并求出该平均值与测试信号原有的边缘间隔的差分,从而决定对边缘位置的校正量。
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