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公开(公告)号:CN103097916A
公开(公告)日:2013-05-08
申请号:CN201080063645.X
申请日:2010-12-08
Applicant: 特拉辛斯集团公司
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0259
Abstract: 本发明涉及一种高速微型太赫兹和吉赫兹电磁辐射片上分光计,该分光计包含具有并入单独或多个缺陷的可调谐固态2D载流子层或准2D载流子层、到载流子层的至少第一和第二触点。同样该装置包括用于在第一和第二触点之间测量装置响应的设备,以及用于载流子层参数中至少一个的可控制调谐的设备。操作原理基于不同波长的辐射在载流子层中激励不同组等离子体模式的事实。
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公开(公告)号:CN102483351A
公开(公告)日:2012-05-30
申请号:CN201080037678.7
申请日:2010-08-31
Applicant: 浜松光子学株式会社
IPC: G01J3/18
CPC classification number: G01J3/0262 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0259 , G01J3/0291 , G01J3/18 , G01J3/2823
Abstract: 本发明的分光模块中,以比衍射层(6)厚的方式,沿着衍射层(6)的周缘(6a)一体形成凸缘部(7),且在透镜部(3)的曲面(3a)中与凸缘部(7)接触的部分为粗糙面。由此,由与曲面(3a)的粘着性高的凸缘部(7)包围衍射层(6)。因此,即使将衍射层(6)薄型化,也可防止衍射层(6)从透镜部(3)的凸状曲面(3a)剥离。而且,该分光模块中,在凸缘部(7)中与透镜部(3)的曲面(3a)相对的后表面(7a)成为平坦面。由此,即使光入射至凸缘部(7)内,该光也会到达凸缘部(7)的平坦面即后表面(7a)。因此,可减少作为杂散光直接成像于光检测元件的光检测部的光。
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公开(公告)号:CN101970993A
公开(公告)日:2011-02-09
申请号:CN200980108739.1
申请日:2009-05-07
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G02B7/022 , G01J3/02 , G01J3/0202 , G01J3/0208 , G01J3/0243 , G01J3/0259 , G01J3/18 , G01J3/2803
Abstract: 本发明提供高可靠性分光模块(1),其具备使从一个面(2a)入射的光透过的基板(2)、具有与基板(2)的另一面(2b)相对的入射面(3a)且使透过基板(2)入射于入射面(3a)的光透过的透镜部(3)、被形成于透镜部(3)且将入射于透镜部(3)的光分光并反射的分光部(4)、检测被分光部(4)反射的光的光检测元件(5)、设置于另一面(2b)与入射面(3a)间并相对于基板(2)支撑透镜部(3)的支撑部(8)。根据分光模块(1),由支撑部(8)在基板(2)的另一面(2b)与透镜部(3)的入射面(3a)间形成间隙(S),防止了基板(2)的另一面(2b)与透镜部(3)的入射面(3a)接触而产生伤痕,提高了分光模块(1)的可靠性。
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公开(公告)号:CN101680985A
公开(公告)日:2010-03-24
申请号:CN200880020360.0
申请日:2008-04-23
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01J3/36 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0259 , G01J3/0291 , G01J3/18 , G01J2003/516 , G02B5/201 , G02B5/285
Abstract: 本发明涉及一种光学滤波器(2),其位于包含排列的多个传感器像素(12a)的图像传感器(12)上,并包含长板状的透光性基板(4)、层叠在透光性基板上的第1光学滤波层(6)、以及层叠在第1光学滤波层上的第2光学滤波层(8)。透光性基板(4)包含,在传感器像素(12a)的排列方向(X)上较长且位于图像传感器(12)上的受光部(4a),和包围它的框部(4b)。受光部(4a)具有:位于受光部的长度方向上的一侧的透光区域(41a)、在受光部的长度方向上与透光区域(41a)邻接的第1滤波区域(42a)、和在受光部的长度方向上与第1滤波区域(42a)邻接且夹着第1滤波区域(42a)而位于与透光区域(41a)相反的一侧的第2滤波区域(43a)。第1光学滤波层(6)覆盖第1、2滤波区域(42a、43a)以及框部(4b),第2光学滤波层(8)覆盖第2滤波区域(43a)和框部(4b)。
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公开(公告)号:CN1079947C
公开(公告)日:2002-02-27
申请号:CN95194576.9
申请日:1995-08-11
Applicant: 4D控制有限公司
CPC classification number: G02B6/12007 , G01J1/429 , G01J3/0259 , G01J3/0262 , G01J3/18 , G01J3/2803 , G02B6/29328
Abstract: 一种紫外线辐射探测器,包括一个入射狭隙(18)的切开的石英主体(10),辐射从所述的狭隙散射到弯曲的反射面(20,22)上,所述的弯曲的反射面把作为汇聚光束的辐射反射至衍射光栅(28)上。光栅把所要求的光谱级聚焦在紫外线探测器阵列(24)上。通常聚焦第一级光谱。探测器是可以手持。
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公开(公告)号:CN1155330A
公开(公告)日:1997-07-23
申请号:CN95194576.9
申请日:1995-08-11
CPC classification number: G02B6/12007 , G01J1/429 , G01J3/0259 , G01J3/0262 , G01J3/18 , G01J3/2803 , G02B6/29328
Abstract: 一种紫外线辐射探测器,包括一个具有入射狭隙(18)的切开的石英主体(10),辐射从所述的狭隙散射到弯曲的反射面(20,22)上,所述的弯曲的反射面把作为汇聚光束的辐射反射至衍射光栅(28)上。光栅把所要求的光谱级聚焦在UV探测器阵列(24)上。通常聚焦第一级光谱。探测器是可以手持的。
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公开(公告)号:CN104718478B
公开(公告)日:2019-06-25
申请号:CN201380044684.9
申请日:2013-06-11
Applicant: 尼可·科伦斯
CPC classification number: G01J3/18 , G01J3/0208 , G01J3/0259 , G01J3/2823
Abstract: 本发明涉及光谱仪装置,在光传播方向中相接地包括:‑汇聚光学元件(3),构造成用于捆扎并且定向进入的光到射入缝隙(4)上,以及‑具有至少一个色散元件的在射入缝隙(4)之后布置的投影系统,构造成用于投影进入的光束(2)的色散光谱到位置分解的检测设备上。根据本发明在这种光谱仪装置的情况下射入缝隙(4)实施成反射的,并且至少汇聚光学元件(3),射入缝隙(4)和投影的光栅(5,13)综合在模块(1)中,其中它们作为组件集成在整体的基体(6)中,或作为光学起作用的形状或结构在整体的基体(6)上构造。
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公开(公告)号:CN107917757A
公开(公告)日:2018-04-17
申请号:CN201711105686.0
申请日:2017-11-10
Applicant: 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司 , 深圳市太赫兹系统设备有限公司
CPC classification number: G01J3/0202 , G01J3/0259 , G01J3/28
Abstract: 本发明涉及一种小型便携式太赫兹光谱仪,包括太赫兹光谱仪组件和用于固定太赫兹光谱仪组件的壳体。太赫兹光谱仪组件包括:用于将入射光分为泵浦光和探测光的分束模块、调节泵浦光和探测光之间时间信号的延迟的延迟模块,用于转折泵浦光和探测光的光学转折模块。壳体包括:元器件固定装置,固定装置分别固定分束模块、延迟模块、光学转折模块,保证入射光传输路径的准确性,进而提升光路的稳定性,同时壳体将各模块整合,集成于壳体内,减小各模块所占空间,具有易装配、整体、可移动等作用,实现便携的功能。
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公开(公告)号:CN107202636A
公开(公告)日:2017-09-26
申请号:CN201710482094.4
申请日:2017-06-22
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J3/0208 , G01J3/0259 , G01J3/45
Abstract: 本发明提出一种M‐Z短波红外成像光谱仪,能有效地实现高分辨宽视场并工作于短波红外谱段的光谱探测。该M‐Z短波红外成像光谱仪包括物镜成像系统以及设置于物镜成像系统后端会聚光路中的M‐Z干涉仪;所述物镜成像系统采用正‐负‐正光焦度分配的无中间像面的离轴三反型式;所述M‐Z干涉仪主要由两块立方分束棱镜和两块带偏角的90°五角反射棱镜组成,当来自物镜的成像光束进入第一块立方分束棱镜后,光束被分成两束,分别进入上下两块90°五角反射棱镜中,两块90°五角反射棱镜分别将光线折转90°后进入第二块立方分束棱镜后合并,在像面处形成干涉图调制的目标景物图像。
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公开(公告)号:CN107110636A
公开(公告)日:2017-08-29
申请号:CN201580053621.9
申请日:2015-10-23
Applicant: 特鲁塔格科技公司
IPC: G01B9/02
CPC classification number: G01J3/26 , B82Y20/00 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/0259 , G01J3/0272 , G01J3/10 , G01J2003/102 , G01N21/255 , G01N21/27 , G01N2201/061 , G01N2201/0636
Abstract: 一种用于宽范围光谱测量的系统包括一个或多个宽带源、可调整法布里‑珀罗标准具以及检测器。所述一个或多个宽带源将照射样本,其中,所述一个或多个宽带源具有短宽带源相干长度。可调整法布里‑珀罗标准具将以光学方式处理反射光以便提取具有精细光谱分辨率的光谱信息。检测器将检测来自样本的反射光,其中,该反射光包括具有长相干长度的照明光的多个窄带子集,并且使用用于可调整法布里‑珀罗标准具的多个设置以光学方式处理该反射光,并且其中,所述多个设置包括法布里‑珀罗标准具板的间隔,其大于宽带源相干长度但小于该长相干长度。
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