一种测试仪精度自校准方法及测试仪

    公开(公告)号:CN119471531A

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202411664352.7

    申请日:2024-11-20

    Abstract: 本发明公开了一种测试仪精度自校准方法及测试仪,所述方法通过获取温度传感器读取的即时温度值来确定高精度参考源装置在即时温度值下的温漂系数,并基于温漂系数、第一理论工作值以及在自检通路连通时获取到的第一ADC转换值来判断高精度参考源装置是否处于正常工作状态,继而在确定高精度参考源装置处于正常工作状态时,连通第一采样回路,读取第一采样回路中多通道高速ADC电路输出的第二ADC转换值,并根据在自检通路连通时所获取到的第一ADC转换值,对测试仪中的多通道高速ADC电路进行校准,并根据校准后的多通道高速ADC电路对测试仪中的多通道DAC电路进行校准,从而完成测试仪的精度自校准。

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