一种光学一体化设置的薄膜材料相变温度测量装置及方法

    公开(公告)号:CN119147580A

    公开(公告)日:2024-12-17

    申请号:CN202411323925.X

    申请日:2024-09-23

    Abstract: 本发明公开了一种光学一体化设置的薄膜材料相变温度测量装置及方法,属于薄膜热性能检测技术领域,包括光学组件固定架和真空腔,真空腔通过法兰连接在光学组件固定架的下方;光学组件固定架上设置有光电探测器、第一分光组件、第二分光组件、第一聚焦镜、CCD传感器、反光镜、第二聚焦镜和激光器;第二分光组件设置在激光器的发射端,第一聚焦镜设置在第二分光组件的下方,第一分光组件和光电探测器依次设置在第二分光组件的上方,第二聚焦镜和反光镜依次设置在第一分光组件的右侧,本发明所提供的装置及方法,简化了相变薄膜材料相变温度测量的过程,同时提高了相变薄膜材料相变温度测量的准确性及多样性。

    一种振动测量系统
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114088188A

    公开(公告)日:2022-02-25

    申请号:CN202111401909.4

    申请日:2021-11-19

    Abstract: 本发明公开了一种振动测量系统,包括:激光器、准直透镜、多象限光电探测器及信号调理电路。其中,激光器用于发射激光光束;准直透镜设置在激光器的输出光路上,用于将激光光束转换成准直光束;多象限光电探测器设置在激光器的输出光路上,且固定在被测物上,用于根据接收的准直光束产生各象限对应的光电流信号;信号调理电路与多象限光电探测器连接,用于根据各象限对应的光电流信号确定被测物的振动信号。本发明结合电测法和光测法的优势,采用多象限光电探测器探测各象限对应的光电流信号,利用信号调理电路对光电流信号进行处理,从而确定被测物的振动信号,测量准确度高、灵敏度高,频率响应范围大。

    一种高光谱成像仪光谱校准的光学校正方法

    公开(公告)号:CN119354334B

    公开(公告)日:2025-04-11

    申请号:CN202411918112.5

    申请日:2024-12-25

    Abstract: 本发明属于光学校准技术领域,本发明提供了一种高光谱成像仪光谱校准的光学校正方法,包括:基于比对偏差程度值ZXj生成测量异常信号,获取异常信号出现次数占比BJ,生成波长偏移疑似信号,根据偏移判定值CV将测量光谱曲线标记为异常测量光谱曲线,获取异常测量光谱曲线数量占比值JK,并确定波长是否发生偏移,基于对数据点的传输数据进行分析,得到数据点传输波动参数FG,判断高光谱成像仪对标准光源进行测量的过程中的数据点传输稳定性,获取时段重合程度值AS,将时段重合程度值AS与时段重合程度阈值进行比较,根据比较结果确定波长偏移的原因是否为数据点传输稳定性差,本发明提高了高光谱成像仪光谱校准效率。

    一种自适应分时传输双向对称光放大装置

    公开(公告)号:CN112688736A

    公开(公告)日:2021-04-20

    申请号:CN202011439935.1

    申请日:2020-12-10

    Inventor: 林平卫 宋振飞

    Abstract: 本发明提供了一种自适应分时传输双向对称光放大装置及其控制方法,该装置包括第一磁光开关(1)、第二磁光开关((2))、第一光放大器((3))、第二光放大器((4))和检测控制单元((6)),通过检测第一光放大器((3))、第二光放大器((4))输入端是否有光控制第一磁光开关((1))和第二磁光开关((2))的状态,实现根据光传输方向自适应选择单向光放大器的效果,解决了单光纤信号传递过程中背向散射光严重、多级光放大后信号不稳、噪声大的诸多问题。

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