喷墨墨、固化物的形成方法及固化物

    公开(公告)号:CN119708917A

    公开(公告)日:2025-03-28

    申请号:CN202411312317.9

    申请日:2024-09-20

    Inventor: 宫野雅士 森恒

    Abstract: 本发明涉及喷墨墨、固化物的形成方法及固化物。本发明的喷墨墨是具有聚合性化合物、无机粒子和二氧化硅粒子的活性能量线固化型的喷墨墨。上述二氧化硅粒子被疏水化处理,且不具有聚合性基团,上述二氧化硅粒子的平均粒径比上述无机粒子的中值直径小,上述二氧化硅粒子的质量基准的含量比上述无机粒子的质量基准的含量少。

    薄膜检查装置、薄膜检查方法以及程序

    公开(公告)号:CN119534470A

    公开(公告)日:2025-02-28

    申请号:CN202411208346.0

    申请日:2024-08-30

    Abstract: 本发明涉及薄膜检查装置、薄膜检查方法以及程序。无需人工监视或作业而容易地进行薄膜产生缺陷的检测。在光学性地检查重叠的状态的薄膜中产生的缺陷的薄膜检查装置中,通过光源向薄膜照射光(步骤S1),通过相机(光学传感器)检测在薄膜中反射的光中的至少漫射光(步骤S2)。薄膜检查装置通过从由相机的输出信号得到的第1图像数据提取检查定时下的检查区域(步骤S5),并对与检查区域对应的第2图像数据进行数据处理,从而检测缺陷(步骤S6)。

    偏振片及有机电致发光显示装置

    公开(公告)号:CN115151848B

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN202180016241.3

    申请日:2021-02-02

    Inventor: 山本显

    Abstract: 偏振片,其从可见侧起依次具有硬涂层、保护膜、起偏镜及相位差膜,上述硬涂层和上述保护膜中的至少一者含有在300~460nm的波长区域的吸收光谱中最大吸收波长存在于超过380nm且430nm以下的范围内的色素化合物,上述保护膜及上述相位差膜中的至少一者含有紫外线吸收剂,含有上述色素化合物的层与含有上述紫外线吸收剂的层相比位于可见侧。

    光学膜的制造管理系统、光学膜的制造管理程序和光学膜的制造方法

    公开(公告)号:CN118810086A

    公开(公告)日:2024-10-22

    申请号:CN202410447117.8

    申请日:2024-04-15

    Abstract: 本发明的课题在于提供使制造时的损失降低的光学膜的制造管理系统、光学膜的制造管理程序和光学膜的制造方法。本发明的光学膜的制造管理系统的特征在于,是从已卷取的多个坯膜中确定投入下一工序中的上述坯膜、并确定光学膜的制造顺序的光学膜的制造管理系统,并具有:与各个上述坯膜的特性有关的信息取得部;与各个上述坯膜的至少卷内侧或卷外侧的上述特性有关的信息提取部;与提取出的至少上述卷内侧或卷外侧的上述特性有关的信息处理部;以及基于经处理的与至少上述卷内侧或卷外侧的上述特性有关的信息确定关于上述下一工序中的上述坯膜的投入的顺序确定部。

    光测定装置、系统及方法、调整系统及方法、记录介质

    公开(公告)号:CN118347701A

    公开(公告)日:2024-07-16

    申请号:CN202410054552.4

    申请日:2024-01-12

    Abstract: 本发明提供即使在不同的发光条件下也能够高精度地测定从显示器等能够发光的测定对象物测定的亮度、色度等测定对象参数的光测定装置、光测定系统及光测定方法、显示器调整系统及调整方法、以及记录介质。具备:受光单元(20),接收来自能够发光的测定对象物(4)的光;存储单元(29b),按照测定对象物的每种发光颜色,预先存储与对应于测定对象物的多个发光模式的多个灰度相对应的校正数据;以及发光信息计算单元(27d),使用与由受光单元接收的光强度信号和与测定对象物的发光状态对应的校正数据,计算包括由受光单元接收的光的测定对象参数的发光信息。

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