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公开(公告)号：CN110336181B
公开(公告)日：2024-02-13
申请号：CN201910716378.4
申请日：2019-08-05
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: H01S3/109
Abstract: 本发明公开了一种利用倍频系统实现会聚光束高效四倍频的方法，本发明中基频光通过二倍频晶体转化为二倍频光，然后利用聚焦透镜将二倍频光束会聚，在二倍频会聚光束后放置四倍频DKDP晶体实现光束的四倍频，该DKDP晶体氘含量沿z轴方向连续变化，通过设计DKDP晶体氘含量的变化梯度可以匹配不同F数聚焦的需求，且通过温控系统控制DKDP晶体的温度，使得四倍频过程中晶体上各点实现相位匹配，从而获得会聚光束的高效四倍频输出。本发明可以显著提高会聚光束四倍频转换效率，改善四倍频光束质，解决聚焦透镜前置方案的局限性，为提升高功率激光系统负载能力奠定基础。
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公开(公告)号：CN115733039A
公开(公告)日：2023-03-03
申请号：CN202211455461.9
申请日：2022-11-21
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种多光路多程退偏自补偿系统和方法，涉及重频高能激光器领域。所述多光路多程放大退偏自补偿系统包括位于第一光路、第二光路、第三光路；所述第一光路为用于多程放大和闭环传输的主光路；所述第二光路与第三光路用于将待偶数程放大的退偏激光的分量光分别进行偏振态旋转，从而实现退偏自补偿。与现有技术相比，本发明提供的退偏自补偿方案使得激光在偶数程通过放大器后退偏得到自补偿，整个光路单向运行可天然规避反激光，避免前级被大能量反激光损伤，还可以降低激光输出近场调制，实现可控的多程放大，弥补了目前常用的多程放大光路中光斑口径偏小以及退偏补偿效应不好的缺点，适用于重频高能量系统多程放大光路的退偏补偿。
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公开(公告)号：CN108020535B
公开(公告)日：2020-03-24
申请号：CN201711228183.2
申请日：2017-11-29
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/65
Abstract: 本发明公开了一种测量DKDP晶体氘含量均匀性的方法。本发明利用ν1模拉曼频移作为表征DKDP晶体氘含量的参量，通过显微共聚焦拉曼光谱测量系统测量DKDP晶体不同位置ν1模的拉曼频移获得该晶体氘含量的空间分布，进而可以对其氘含量均匀性进行评估，该测量方法操作简便，降低了仪器测量误差、DKDP晶体表面氘含量衰减、数据处理误差及周围环境等因素的影响，实现了DKDP晶体氘含量均匀性的在线无损测量。
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公开(公告)号：CN110336181A
公开(公告)日：2019-10-15
申请号：CN201910716378.4
申请日：2019-08-05
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: H01S3/109
Abstract: 本发明公开了一种利用倍频系统实现会聚光束高效四倍频的方法，本发明中基频光通过二倍频晶体转化为二倍频光，然后利用聚焦透镜将二倍频光束会聚，在二倍频会聚光束后放置四倍频DKDP晶体实现光束的四倍频，该DKDP晶体氘含量沿z轴方向连续变化，通过设计DKDP晶体氘含量的变化梯度可以匹配不同F数聚焦的需求，且通过温控系统控制DKDP晶体的温度，使得四倍频过程中晶体上各点实现相位匹配，从而获得会聚光束的高效四倍频输出。本发明可以显著提高会聚光束四倍频转换效率，改善四倍频光束质，解决聚焦透镜前置方案的局限性，为提升高功率激光系统负载能力奠定基础。
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公开(公告)号：CN109622555A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201811486698.7
申请日：2018-12-06
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种用于高功率终端光学系统的动态洁净维持系统和方法，属于高功率激光装置技术研究领域。所述系统包括层流单元和风刀单元；所述层流单元用于提供动态洁净层流，所述风刀单元用于提供高压风刀气帘。高功率终端光学系统在长期运行中会在其内部的光学元件表面沉积打靶产生的粉尘和气溶胶污染物，导致光学元件的寿命大大缩短，终端光学元件的洁净控制已经成为限制装置高通量运行的瓶颈，本发明因此提出了风刀气帘防护与洁净层流防护相耦合实现光学元件表面洁净管控的技术措施，可防止打靶产生的粉尘和气溶胶污染物附着于光学元件表面，并将其及时排出终端光学系统，因而可长期维持终端光学系统内光学元件表面的洁净。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107228755A
公开(公告)日：2017-10-03
申请号：CN201710430167.5
申请日：2017-06-09
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01M11/0207
Abstract: 本发明属于激光技术领域，具体为一种反射镜角漂稳定性的测试系统与方法。本发明通过成像设计，将光束指向稳定性转化为物像相对位置的变化，消除了光源和诊断系统稳定性对测试的影响；通过光路设计，将关联反射镜稳定性的两特征物置于同一平面进行了硬联结，从而消除了它们独立稳定性的影响。本发明适用于大型激光装置中各类光学元件稳定性的测试。
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公开(公告)号：CN119921189A
公开(公告)日：2025-05-02
申请号：CN202510108520.2
申请日：2025-01-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明涉及一种面发射半导体光放大器及其使用方法，属于半导体光放大器技术领域，面发射半导体光放大器依次包括N面放电电极、N面绝缘层、衬底、有源区、P面绝缘层以及P面放电电极，N面放电电极以及P面放电电极之间发生介质阻挡放电击穿放电腔内放电气体产生低温等离子体电极，N面绝缘层以及P面绝缘层上均布有若干个漏流孔，N面放电电极以及P面放电电极分别与驱动电源电连接，本发明能够解决现有技术中电泵浦的垂直腔面发射半导体光放大器因电流拥挤效应导致通光口径受限，放大能力有限，输出功率较低的技术问题。
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公开(公告)号：CN116698375B
公开(公告)日：2023-10-17
申请号：CN202310961337.8
申请日：2023-08-02
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 吴登生 , 宗兆玉 , 郑建刚 , 靳赛 , 周维 , 蒋新颖 , 赵军普 , 赵润昌 , 郭怀文 , 黄小霞 , 胡雪妍 , 李森 , 李志军 , 李庆 , 钟伟 , 赵博望 , 邓武 , 张崑 , 梁樾 , 周松 , 王振国 , 严雄伟 , 康民强 , 李珂 , 李平
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种全激光功率段谐波转换效率曲线的获取方法，属于高功率激光器技术领域，向激光装置中注入基频光，在基频光的通光口径内，其能量在一个维度呈等斜率变化并在另一个维度保持不变，基频光为平顶脉冲时间波形；在同一实验发次下，采集放大系统基频光能量E1以及谐波转换系统能量E2，获取基频光放大系统的近场分布图以及谐波转换系统的近场分布图；计算不同基频光功率下的谐波转换效率，绘制全激光功率段谐波转换效率曲线，本发明利用激光能量的空间分布，采集同一发次下通光口径内不同区域的灰度值分布，计算出通光口径内不同区域的能量分布，得到不同基频光功率下的谐波转换效率，从而绘制全激光功率段谐波转换效率曲线。
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公开(公告)号：CN116698375A
公开(公告)日：2023-09-05
申请号：CN202310961337.8
申请日：2023-08-02
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 吴登生 , 宗兆玉 , 郑建刚 , 靳赛 , 周维 , 蒋新颖 , 赵军普 , 赵润昌 , 郭怀文 , 黄小霞 , 胡雪妍 , 李森 , 李志军 , 李庆 , 钟伟 , 赵博望 , 邓武 , 张崑 , 梁樾 , 周松 , 王振国 , 严雄伟 , 康民强 , 李珂 , 李平
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种全激光功率段谐波转换效率曲线的获取方法，属于高功率激光器技术领域，向激光装置中注入基频光，在基频光的通光口径内，其能量在一个维度呈等斜率变化并在另一个维度保持不变，基频光为平顶脉冲时间波形；在同一实验发次下，采集放大系统基频光能量E1以及谐波转换系统能量E2，获取基频光放大系统的近场分布图以及谐波转换系统的近场分布图；计算不同基频光功率下的谐波转换效率，绘制全激光功率段谐波转换效率曲线，本发明利用激光能量的空间分布，采集同一发次下通光口径内不同区域的灰度值分布，计算出通光口径内不同区域的能量分布，得到不同基频光功率下的谐波转换效率，从而绘制全激光功率段谐波转换效率曲线。
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公开(公告)号：CN108168470B
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN201810233020.1
申请日：2018-03-21
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明公开了一种基于发散光束的倍频晶体特征角度的测量装置和测量方法。该装置由照明光源、定位基准元件、发散透镜、待测晶体、匹配透镜和CCD组成。用于照明的平行光束注入整个测量装置，经过定位基准元件、发散透镜后垂直入射到待测晶体表面。然后通过匹配透镜和CCD组成的光学系统将入射光成像于监视CCD上，通过CCD采集图像中的灰度值最大点的位置坐标来反推使倍频效率最大时对应的倍频晶体偏离准直位的夹角，从而得出倍频晶体的特征角度。本方法有效的解决了快速精确测量晶体特征角度的难题，消除了在测量过程中因为入射光束不稳定性引入的光束角漂对测试结果的影响，具有测量原理简单，操作简便等优点。
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