综合诊断系统弱对比度准直图像目标中心通用获取方法

    公开(公告)号:CN111860616B

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202010620972.6

    申请日:2020-06-30

    Abstract: 本发明公开了一种综合诊断系统弱对比度准直图像目标中心通用获取方法,采用了统一的方法获取不同类型图像的光学目标中心,相比现有方法,本发明的方法更为简单、实用。该方法的主要步骤包括:1、将原始图像构建为多维图像立方体;2、对多维图像立方体进行降维处理得到降维后的第一维图像;3、对降维后的第一维图像进行K‑means分类,得到二值化图像;4、判断二值化图像如果是纹影小球图像,则需要获得纹影小球目标分离图像;如果是小孔图像,则需要获得小孔图像圆轮廓上的特征点;如果是其他图像,就利用重心法直接获取他图像的目标中心;5、对小孔图像和纹影小球图像使用最小二乘法进行圆拟合来计算图像圆心,从而实现对光学目标中心的获取。

    一种图像传感器玻璃壳窗拆卸方法

    公开(公告)号:CN115229475B

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202210673558.0

    申请日:2022-06-14

    Abstract: 本发明具体涉及一种图像传感器玻璃壳窗拆卸方法,用于解决现有拆解方法拆卸玻璃壳窗成功率极低且容易损坏图像传感器的问题。一种图像传感器玻璃壳窗拆卸方法,步骤如下:步骤1、将图像传感器放置于温控台的加热台面上;步骤2、加热图像传感器;步骤2.1、预热15min使得温度上升至100℃,预热升温速率最高为3℃/sec;步骤2.2、恒温加热10min,使得温度设置到180℃,加热升温速率最高为3℃/sec;步骤3、使用拆解工具剥离玻璃壳窗。本发明通过高温加热使玻璃胶快速老化,实现了图像传感器玻璃壳窗的零风险拆卸。

    一种基于BLOB区域数量特征统计的多光学目标识别方法

    公开(公告)号:CN115393600A

    公开(公告)日:2022-11-25

    申请号:CN202210917908.3

    申请日:2022-08-01

    Abstract: 本发明公开了一种基于BLOB区域数量特征统计的多光学目标识别方法;解决现有技术中存在的采用先遮挡一个光学目标,对另外一个光学目标进行识别的方法识别效率较低的技术问题;包括准直图像的采集,并对采集到的图像进行二值化处理、第一次数字形态学处理、第二次数字形态学处理和目标识别等步骤,此方法是基于量化特征参数提取的多光学目标识别图像处理算法,实现了模拟光准直流程中的模拟光目标和主激光目标的识别,处理时间小于1秒钟,满足了大型激光装置光路对接准直过程对于精度和效率的要求;并且,本文提出的基于量化特征参数提取的多光学目标识别图像处理算法,对于提高大型激光装置发射实验光路调整效率具有十分重要的意义。

    一种自编码网络及基于自编码网络的波前图像复原方法

    公开(公告)号:CN114897722A

    公开(公告)日:2022-08-12

    申请号:CN202210478804.7

    申请日:2022-04-29

    Abstract: 本发明提供了一种自编码网络及基于自编码网络的波前图像复原方法,以解决传统方法在测量时波前原始图像中有遮挡部分的图像出现缺失,导致波前信息无法从波前原始图像中完全重构出来的技术问题。本发明的一种自编码网络包括编码器和解码器,编码器用于对无遮挡图像块进行训练,解码器用于对有遮挡图像块进行训练。本发明提供的复原方法包括使用波前传感器多次采集带有遮挡物的波前原始图像,将获得的数据构建形成图像数据集;使用图像数据集对编码器和编码器进行网络模型训练,并将得到的编码器网络参数输送给解码器,获得解码器网络参数;将带有遮挡物的波前原始图像输入解码器,得到复原的无遮挡波前原始图像,图像复原完成。

    一种反射式空间编码高分辨光场成像装置及方法

    公开(公告)号:CN111050038B

    公开(公告)日:2021-05-18

    申请号:CN201911082509.4

    申请日:2019-11-07

    Abstract: 本发明涉及一种反射式空间编码高分辨光场成像装置及方法,能够适应与不同数值孔径主镜头下使用,主镜成像系统不需要针对数值孔径匹配的要求做特殊设计,大大节约了成本。该成像装置包括计算机、二维阵列探测器、数字微反射镜阵列、数字微反射镜阵列控制器、成像物镜以及孔径成像镜头;通过数字微反射镜阵列对像面空间信息逐次扫描编码,利用孔径成像镜头将孔径光阑成像至二维阵列探测器,二维阵列探测器再将各个图像信息上传至计算机,计算机将图像信息进行处理,从而获取高分辨光场信息。

    大口径平面光学元件在位面形拼接测量装置及方法

    公开(公告)号:CN112577446A

    公开(公告)日:2021-03-30

    申请号:CN202011537846.0

    申请日:2020-12-23

    Abstract: 为了解决现有的测量大口径平面光学元件面形的方案易受空气气流扰动和振动的影响、测量动态范围小、面形测量分辨率不高、无法应用于在位各种姿态面形测量,以及当大口径平面光学元件面形中存在Power时无法测量的技术问题,本发明提出了一种大口径平面光学元件在位面形拼接测量装置及方法,利用激光器、半透半反镜、准直物镜、光阑、小孔光阑、准直目镜、二元光学器件、探测器、衰减板、远场探测器、驱动控制器、电控光阑、反射镜阵列、角锥棱镜阵列、六自由度运动平台,实现对被测大口径平面光学元件在位各种姿态下的动态高精度面形拼接测量,测量精度不受外界环境的影响。

    一种超短脉冲激光远场焦斑时空-频率信息的获取方法

    公开(公告)号:CN111982313A

    公开(公告)日:2020-11-24

    申请号:CN202010717132.1

    申请日:2020-07-23

    Abstract: 本发明公开了一种超短脉冲激光远场焦斑时空-频率信息的获取方法,旨在解决现有的透射式放大成像系统的色差会导致放大成像的远场焦斑相对于靶点位置的远场焦斑分布发生变化的技术问题。本发明通过干涉成像光谱仪获取被测超短脉冲激光焦面位置处、至少一个正离焦位置处、至少一个负离焦位置处的干涉图像;再采用干涉光谱成像技术对每一个干涉图像分别处理得到相应的焦斑强度空间-频率信息;基于获得的所有焦斑强度空间-频率信息,通过相位恢复技术重构被测超短脉冲激光中每个频率下的远场焦斑空间相位二维信息;最后根据频率的大小顺序对获得的所有远场焦斑空间相位二维信息进行重构,获取超短脉冲激光远场焦斑相位的时空-频率信息。

    一种激光切割离焦补偿系统及其补偿方法

    公开(公告)号:CN110142503A

    公开(公告)日:2019-08-20

    申请号:CN201910412047.1

    申请日:2019-05-17

    Abstract: 本发明属于能够自动进行离焦补偿的激光切割系统,具体涉及一种激光切割离焦补偿系统及其补偿方法,解决现有技术中工件高频振动下离焦补偿误差大的问题。由加工激光源和半导体激光器分别发射不同波长的加工激光和探测激光,探测激光经像散透镜系统产生一定的像散畸变,然后在待加工面上被部分反射,最终监视光学系统收集其反射后的像散光斑图像,经控制器的一系列计算和处理,向变形镜输入波前调制信号使其面形发生变化,从而达到对加工激光的实时调节。能够实时监测加工激光的离焦量并快速进行离焦补偿,从而实现较高的离焦校正频率。另外,由于两束激光同轴,离焦量的测量位置与实际加工点位置距离极小,减小了离焦量的测量误差,提高了离焦补偿精度。

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