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公开(公告)号：CN115127782B
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202210756887.1
申请日：2022-06-30
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 探测器高光性能的评估系统及评估方法，涉及一种探测器高光性能的评估方法，解决现有方法进行高光性能检测过程中，当入射光能量增加到所有探测器都饱和时，进一步增加光强后无法检测出图像是否出现异常的问题，为此，在探测器应用前对探测器的高光性能进行测试，评估在轨成像效果，可减小潜在的损失，提高在轨的观测效率。本发明提出基于方向性光源、带黑白图案的滚筒进行探测器的高光性能评估，利用滚筒进行目标的时刻变化，从而可以进行目标亮暗分区的边界进行判断，避免使用积分球在强光目标下所有的像素均进入饱和状态，掩盖了可能出现的拖尾、高光溢出等现象。
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公开(公告)号：CN119183030A
公开(公告)日：2024-12-24
申请号：CN202411205506.6
申请日：2024-08-30
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明涉及CMOS图像训练技术领域，尤其涉及一种CMOS图像数据的训练方法，包括低频CMOS图像数据训练和高频CMOS图像数据训练；其中，针对低频CMOS图像数据训练，使用成像控制器内部的本地时钟进行双沿采样器的双沿采样，拓宽采样时钟对串行图像数据的采样范围，获取最佳的采样位置，并针对低频采样状态下可能出现采样区域覆盖不全面而出现的采样区域不连续的情况设置不同的采样点位置，有利于避免温度漂移的影响；针对高频CMOS图像数据训练，使用成像探测器内部的具有与串行图像数据相同延迟特性的伴随时钟进行采样，并针对不同的采样状态设置不同的采样点位置，从而保证系统工作的稳定可靠。
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公开(公告)号：CN119135934A
公开(公告)日：2024-12-13
申请号：CN202411462426.9
申请日：2024-10-18
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: H04N19/85 , H04L47/62 , H04B10/2575
Abstract: 本发明涉及图像数据传输领域，具体涉及一种高速图像数据的光纤传输系统，包括探测器、串并转换模块、多通道数据缓存存储器、非均匀校正模块、里德‑所罗门编码器、64B66B间隔调整器、加扰器、GTX发送器和光纤模块，根据读操作计数器的计数值、读操作计数器的计数值为0时检测到的图像数据有效指示循环计数信号组合来设置行头标识符与行尾标识符的具体位置，同时设置FIFO读阶段使能信号的上升沿和下降沿位置；除去设置行头标识符与行尾标识符的具体位置，其余的位置在FIFO的读使能延迟信号为高电平时设置为FIFO读出的数据，剩余位置设置为同步码。本发明能够保证各种相对相位关系下均能实现高速图像数据稳定可靠的传输。
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公开(公告)号：CN115802120B
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202211509171.8
申请日：2022-11-29
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: H04N23/10
Abstract: 多谱段探测器的成像系统，涉及一种多谱段探测器成像领域，解决现有多谱段探测器在应用过程中存在存在数据量大、占用差分对多以及芯片管脚过多等问题，本发明提出独立供电电源和低噪声滤波来减小谱段间的相互影响，通过设计探测器和控制器独立的上下电控制来适应多种工作模式，并减小探测器上下电可能出现的峰值电流；为减小传输缓存的数据量，各谱段的数据通过可控地址选通方式进行传输，根据传输顺序的要求进行输出地址的顺序选择，减小资源占用率。
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公开(公告)号：CN118233717A
公开(公告)日：2024-06-21
申请号：CN202211632369.5
申请日：2022-12-19
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: H04N23/50 , H04N25/617 , H04N5/21
Abstract: 本发明提供一种低噪声高可靠性的TDICCD成像系统，包括视频处理电路、垂直驱动电路、水平驱动电路、CSS驱动电路、模拟开关、成像控制器、TDICCD探测器、CXP驱动器和CXP连接器，视频处理电路、垂直驱动电路、CSS驱动电路、水平驱动电路在线路板上通过地层进行垂直方向的物理隔离，避免驱动电路对视频处理电路产生干扰；垂直驱动信号和水平驱动信号分别经电阻分压电路分压后送入成像控制器，对驱动电路输出的信号进行上升沿位置采样，实时检测驱动电路的延时变化，从而进行采样位置的实时校准。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117834074A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202311866368.1
申请日：2023-12-29
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明提供一种高时统精度的卫星成像系统，包括卫星平台、多光谱相机控制器和多光谱相机成像单元，对多光谱相机成像单元接收到的秒脉冲和时标进行检测；当秒脉冲正常而时标异常时，利用秒脉冲的有效下降沿之间的计数值进行多光谱相机成像单元本地晶体频率偏差的校正，利用双向秒脉冲的传输进行秒脉冲的延迟测量；当检测到秒脉冲和时标均正常时，在秒脉冲正常而时标异常时操作的基础上，利用时标的整秒值替换本地计时的整秒值；当检测到秒脉冲异常而时标正常时，使用时标和时标的延时进行本地时间戳的替换，同时使用频率校正系数对时间戳进行校正；当检测到秒脉冲和时标均异常时，使用频率校正系数对时间戳进行校正，以保证卫星平台的时间戳精度。
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公开(公告)号：CN116761094A
公开(公告)日：2023-09-15
申请号：CN202310756284.6
申请日：2023-06-26
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: H04N25/76 , H04N25/766 , H04N25/53
Abstract: 一种探测器的时序控制方法，涉及探测器的时序控制技术领域，解决现有探测器的时序控制过程中，由于工作的时序不同，工作时序复杂，容易出现设计错误；引起探测器内部工作异常，导致输出异常的图像等问题，本发明方法中，将整个帧周期划分为读出阶段和曝光阶段。读出阶段的长度不随曝光时间变化；当曝光时间长度低于曝光工作时序所需的最小长度时，则曝光阶段的长度为恒定的曝光工作时序所需的最小长度；当曝光时间长度大于曝光工作时序所需的最小长度时，则曝光阶段的长度为曝光时间与曝光处理操作时间之和。本发明将曝光时间长度于曝光工作时序所需的最小长度进行比较，从而形成不同信号的电平长度和计时起点位置，避免时序出错。
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公开(公告)号：CN116709044A
公开(公告)日：2023-09-05
申请号：CN202310757033.X
申请日：2023-06-26
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 一种提高TDI探测器行频匹配精度的方法，涉及TDI探测器应用技术领域，解决现有TDI探测器工作过程中，行周期匹配精度受限于像素时钟周期的分辨率的问题，本发明中，设定行周期长度为像素时钟周期的非整数倍，可进一步提高行周期长度的分辨率，从而进一步提高像移匹配的精度；计算各驱动控制信号时的跳变沿位置时，仅使用以像素时钟为单位的整数部分进行计算，减小计算过程中的资源占用率和复杂程度；对于行周期长度的计数器，才使用精确的行周期长度值进行控制，从而获得更高时间分辨率的行周期控制精度。
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公开(公告)号：CN115167901A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210794555.2
申请日：2022-07-07
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 高轨道长寿命刷新重注成像系统的加载配置方法，涉及刷新重注成像系统的刷新技术，解决现有在轨重注成像系统无法实现配置数据源更新，进而影响成像系统工作等问题，本发明基于复旦微公司的刷新芯片、Flash和xilinx公司的PROM存储器，设计了PROM+两组Flash配置数据源的加载配置方案，通过使用PROM来减小配置数据源被打翻的概率；通过使用两组Flash在实现在升级优化功能，并在检测到一组被打翻的情况下切换到另一组，同时对被打翻的配置数据源进行修复。
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公开(公告)号：CN114339092A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202111653621.6
申请日：2021-12-30
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: H04N5/355
Abstract: 低资源消耗的均匀电荷转移实现方法，涉及TDICMOS探测器成像领域，解决现有多谱段TDICMOS探测器成像过程计算量大，耗费资源多等问题，首先基于matlab等软件根据不同行周期下得到的电荷转移信号跳变沿位置，统计出全行周期范围内进入敏感区的总个数、进入同一个敏感区域的跳变沿个数、进入同一个非敏感区域的跳变沿个数。根据统计结果的最大值，决定处理步骤的删减程度。本发明仅使用一个乘法器、一个除法器、一个区域统计器进行所有跳变沿位置的计算，进行最终跳变沿位置的计算。本发明对于乘法和除法运算及跳变沿在区域内数量的统计及编码模块进行复用，可以大大减小资源的使用。
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