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发明公开
基于MEMS振镜的多光谱辐射温度场测温装置及方法审中-实审

公开(公告)号：CN117928743A

公开(公告)日：2024-04-26

申请号：CN202311864837.6

申请日：2023-12-29

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 宋萍 , 武寅鹏 , 白云健 , 耿浩诚 , 阮浩宇

IPC: G01J5/48 , G01J5/90 , G01J5/0803 , G01J5/00

Abstract: 基于MEMS振镜的多光谱辐射温度场测温装置及方法，能够提高传统测温装置及方法在对仪器进行标定时的标定精度，同时克服了传统测温装置选择波长无法修改所引起的测量误差。包括：MEMS振镜扫描成像装置、光谱信息获取装置和温度场反演信息解算装置，所述MEMS振镜的扫描成像装置和光谱信息获取装置通过光纤耦合方式连接，所述光谱信息获取装置和温度场反演信息解算装置通过电连接。

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