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公开(公告)号：CN111795980B
公开(公告)日：2022-04-26
申请号：CN202010772324.2
申请日：2020-08-04
Applicant: 合肥工业大学
IPC: G01N23/00 , G01N23/083 , G01N23/20
Abstract: 本发明公开了一种基于逐像素高斯函数拟合法的X射线边界照明成像方法，是应用于沿Z轴向上依次设置有X射线源、调制掩膜、分析探测掩膜和图像探测器所构成的X射线边界照明成像系统中，且在沿Y轴向上中心对齐；X射线入射到调制掩膜被空间调制，出射的调制X射线在穿透被成像物后，入射到分析探测掩膜，X射线的空间调制被转换成光强变化后，被图像探测器记录；利用提出的逐像素高斯拟合法处理图像探测器记录的投影图像，可同时获取被成像物的吸收信号、折射信号和散射信号。本发明能够解决光强曲线的偏置不为零时被成像物的吸收、折射和散射信号的准确提取问题，能够解决光强分布非均一导致的信号提取不准确问题。
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公开(公告)号：CN113063809A
公开(公告)日：2021-07-02
申请号：CN202110312222.7
申请日：2021-03-24
Applicant: 合肥工业大学
IPC: G01N23/20
Abstract: 本发明公开了一种基于霍夫变换法的X射线光栅干涉仪成像方法，是应用于沿Z轴向上依次设置有X射线源、相位调制光栅、吸收分析光栅、图像探测器所构成的X射线光栅干涉仪中，且在沿Y轴向上中心对齐；X射线入射到相位调制光栅被空间调制，出射的调制X射线在穿透被成像物后，入射到分析调制光栅，X射线的空间调制被转换成光强变化后，被图像探测器测量并记录；利用提出的霍夫变换法处理图像探测器记录的投影图像，可获取被成像物的吸收信号、折射信号和暗场信号。本发明能够解决在有显著的脉冲噪声和探测器饱和噪声时，被成像物的吸收、折射和暗场信号的准确提取问题。
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公开(公告)号：CN111595877B
公开(公告)日：2022-03-29
申请号：CN202010481800.5
申请日：2020-05-27
Applicant: 合肥工业大学
IPC: G01N23/207
Abstract: 本发明公开了一种X射线衍射增强成像的多衬度图像提取方法，是应用于沿X射线传播方向上依次设置有X射线源、单色晶体、分析晶体和探测器所构成的衍射增强成像装置中；X射线入射到单色晶体后被衍射，出射的单色准直X射线在穿透被成像物后入射到分析晶体后被衍射，出射X射线入射到探测器后，X射线的强度被探测器检测并记录；以分析晶体的衍射面的法线为旋转轴，利用探测器记录分析晶体沿旋转轴的不同角位置的投影图像，并利用提出的多衬度图像提取方法处理探测器记录的投影图像，能够得到被成像物的吸收图像、折射图像、散射图像、偏度图像和峰度图像。本发明能够解决被成像物的偏度图像、峰度图像的准确、定量提取问题。
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公开(公告)号：CN110133012B
公开(公告)日：2022-01-18
申请号：CN201910591538.7
申请日：2019-07-02
Applicant: 合肥工业大学
IPC: G01N23/041
Abstract: 本发明公开了一种基于三探测器光栅干涉仪的单次曝光多模式X射线成像方法，是在沿Z轴向上依次设置有X射线源、相位光栅、第一探测器、第二探测器和第三探测器构成的三探测器光栅干涉仪；且在沿Y轴向上中心对齐；其中，第一探测器的工作点固定在光强曲线的峰位；第二探测器的工作点固定在光强曲线的腰位；第三探测器的工作点固定在光强曲线的谷位；从而利用第一探测器、第二探测器和第三探测器所获取的图像提取被成像物的吸收、折射和暗场信号。本发明能解决低光子计数时被成像物的折射信号和暗场信号的准确提取问题，从而为发展快速、准确、低辐射剂量的多模式X射线成像技术提供新途径。
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公开(公告)号：CN113607761A
公开(公告)日：2021-11-05
申请号：CN202110912294.5
申请日：2021-08-10
Applicant: 合肥工业大学
IPC: G01N23/041 , A61B6/00
Abstract: 本发明公开了一种基于光栅干涉仪的X射线多模式成像新方法，是应用于沿Z轴向上依次设置有X射线源、相位光栅、吸收分析光栅、探测器所构成的X射线光栅干涉仪中，且在沿Y轴向上中心对齐；X射线源发射的X射线入射到相位光栅被空间调制，出射X射线穿透被成像物体、吸收分析光栅后入射到探测器。空间调制X射线的强度分布被探测器测量并记录；利用提出的信号计算公式处理探测器记录的光强分布数据，能够获取被成像物体的吸收信号、折射信号和暗场信号。本发明能够解决吸收分析光栅的步进位置不满足等间距要求时，被成像物体的吸收信号、折射信号、暗场信号的定量、准确提取问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108896584B
公开(公告)日：2020-11-27
申请号：CN201810481753.7
申请日：2018-05-18
Applicant: 合肥工业大学
IPC: G01N23/041 , G01N23/083
Abstract: 本发明公开了一种基于双探测器光栅干涉仪的单次曝光X射线暗场成像方法，设置由X射线源、相位光栅、第一探测器和第二探测器构成的双探测器光栅干涉仪；将第一探测器的工作点固定在光强曲线的峰位，分别获取背景投影图像和被成像物投影图像；将第二探测器的工作点固定在光强曲线的谷位，分别获取背景投影图像和被成像物投影图像；利用获取的图像提取被成像物的暗场信号。本发明摒弃繁琐的光栅步进扫描，简化X射线暗场成像过程；对被成像物进行一次曝光，降低辐射损伤风险；解决了低光子计数时暗场信号的准确提取问题，从而为发展快速、准确、低辐射剂量的X射线暗场成像技术提供新途径。
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公开(公告)号：CN111505034A
公开(公告)日：2020-08-07
申请号：CN202010361992.6
申请日：2020-04-30
Applicant: 合肥工业大学
IPC: G01N23/207
Abstract: 本发明公开了一种基于迭代算法的X射线衍射增强成像方法，是应用于沿X射线传播方向上依次设置有X射线源、单色晶体、分析晶体和探测器所构成的衍射增强成像系统中，X射线入射到单色晶体表面被衍射，出射的单色准直X射线在穿透被成像物后入射到分析晶体表面后被衍射，出射X射线入射到探测器后，X射线的强度被探测器检测并记录，以分析晶体的衍射面的法线为旋转轴，并利用探测器记录分析晶体在三个不同角位置的投影数据，从而利用提出的迭代算法处理探测器记录的投影数据，得到被成像物的吸收、折射和散射信号。本发明能够解决光强曲线的偏置不为零时被成像物的折射信号和散射信号的准确提取问题。
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公开(公告)号：CN105852895A
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201610291248.7
申请日：2016-04-29
Applicant: 合肥工业大学
CPC classification number: A61B6/00 , A61B6/032 , A61B6/4035 , A61B6/44 , A61B6/502 , A61B6/5211 , A61B6/54
Abstract: 本发明公开了一种单次曝光的硬X射线光栅干涉仪的信息提取新方法，其特征是按如下步骤进行：1移动任一光栅，使硬X射线光栅干涉仪工作在光强变化曲线的左半腰或右半腰位置处；2分别获取背景投影图像和被成像物体的投影图像；3获取归一化的被成像物体的投影图像，对其进行取对数处理；4根据对数结果，构建表达式进行傅立叶变换；5根据傅里叶变换结果，利用逆傅里叶变换，分别提取被成像物体的吸收和相移信号。本发明摒弃了繁琐的光栅扫描流程，简化了硬X射线光栅干涉仪的图像获取流程，能够实现快速、低辐射剂量的硬X射线相位衬度成像，从而提高了成像效率，为低辐射剂量临床医学成像提供新途径。
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公开(公告)号：CN113866195B
公开(公告)日：2023-07-18
申请号：CN202111394611.5
申请日：2021-11-23
Applicant: 合肥工业大学
IPC: G01N23/041
Abstract: 本发明公开了一种X射线光栅干涉仪成像的多衬度信号提取方法，是应用于沿Z轴向上依次设置有光源、相位光栅、分析光栅、光强探测器所构成的X射线光栅干涉仪成像系统中，且在沿X轴向上中心对齐，在沿Y轴向上中心对齐；光源出射的X射线依次穿透相位光栅、被成像物、分析光栅后，X射线的强度分布被光强探测器测量并记录为投影数据；利用提出的多衬度信号提取方法计算光强探测器记录的投影数据，可准确提取被成像物的吸收信号、折射信号和暗场信号。本发明能够校正光栅相对位移的随机误差导致的多衬度信号的伪影，实现被成像物的吸收、折射和暗场信号的准确、定量提取。
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公开(公告)号：CN113607761B
公开(公告)日：2023-06-27
申请号：CN202110912294.5
申请日：2021-08-10
Applicant: 合肥工业大学
IPC: G01N23/041 , A61B6/00
Abstract: 本发明公开了一种基于光栅干涉仪的X射线多模式成像新方法，是应用于沿Z轴向上依次设置有X射线源、相位光栅、吸收分析光栅、探测器所构成的X射线光栅干涉仪中，且在沿Y轴向上中心对齐；X射线源发射的X射线入射到相位光栅被空间调制，出射X射线穿透被成像物体、吸收分析光栅后入射到探测器。空间调制X射线的强度分布被探测器测量并记录；利用提出的信号计算公式处理探测器记录的光强分布数据，能够获取被成像物体的吸收信号、折射信号和暗场信号。本发明能够解决吸收分析光栅的步进位置不满足等间距要求时，被成像物体的吸收信号、折射信号、暗场信号的定量、准确提取问题。
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