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公开(公告)号：CN102914245A
公开(公告)日：2013-02-06
申请号：CN201210276426.0
申请日：2012-08-03
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B7/00
CPC classification number: G01D5/2086 , G01D1/00 , H01F1/00
Abstract: 提供一种电磁感应式绝对位置测量用编码器，具备：以互不相同的标尺间距在标尺上沿测量方向排列多个标尺线圈而成的两列以上的标尺线圈；以及在相对于标尺沿测量方向相对移动自如的格上被配置成与标尺线圈相对置向的发送线圈和接收线圈，在发送线圈励磁时，具有两个以上磁道的电磁感应式绝对位置测量用编码器能够根据经由标尺线圈而由接收线圈检测出的磁通量的变化测量格相对于标尺的绝对位置，在至少一个磁道中的标尺线圈(14-1a、14-2a)之间添加至少一个环状的标尺线圈(14-1b、14-2b)。由此，增加发送线圈励磁时的标尺线圈中的感应电流，提高接收线圈中的检测信号强度，并且减少串扰磁场所产生的感应电流，提高测量精度。
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公开(公告)号：CN102288202A
公开(公告)日：2011-12-21
申请号：CN201110109267.0
申请日：2011-04-28
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01D3/028
CPC classification number: G01D5/24461 , G01D5/24476 , G01D5/347
Abstract: 一种光学编码器，包括：刻度尺；光源；多个光接收元件阵列(三个光接收元件阵列)，用于经由所述刻度尺接收从所述光源射出的光；以及测量器。第一光接收元件阵列和第三光接收元件阵列分别被划分成两个区域。所述测量器包括：异常判断器，用于基于从所述区域输出的信号判断所述区域是否发生了异常；以及位置测量器，用于基于从(异常判断器判断为未发生异常的)区域和第二光接收元件阵列输出的信号，来测量刻度尺的位置。
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公开(公告)号：CN113124910B
公开(公告)日：2023-12-29
申请号：CN202110040268.8
申请日：2021-01-13
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01D5/244
Abstract: 提供了一种旋转编码器，其能够在实现小型化的同时确保足够的合成容限。旋转编码器(1)包括转子(3)、定子(4)和用于计算旋转角度的计算单元(5)。转子(3)具有第一转子图案(31)和第二转子图案(32)，第一转子图案具有沿着围绕旋转轴(2)的测量方向布置的多个单位图案(310)，第二转子图案具有比沿着测量方向布置的第一转子图案(310)中的多个单位图案(310)更少的单位图案(320)。第一转子图案(31)的多个单位图案(310)的数量和第二转子图案(32)的多个单位图案(320)的数量被设置成使得它们之间的最大公约数是两个或更多。计算单元基于来自第一转子图案(31)和第二转子图案(32)的检测信号来计算转子(3)的旋转角度。
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公开(公告)号：CN108387167A
公开(公告)日：2018-08-10
申请号：CN201810101501.7
申请日：2018-02-01
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B7/02
CPC classification number: G01D5/2415 , G01B7/02
Abstract: 位移检测器被配置为由布置在检测头中的接收电极接收从发送信号输出单元输出的发送信号，以基于所接收的信号来检测检测头和标尺之间的位移。发送信号从布置在检测头中的发送电极通过布置在标尺中的耦合电极发送到接收电极。相位调整单元从发送信号输出单元输出的发送信号产生其相位被调整的信号。振幅调整单元调整由相位调整单元调整其相位的信号的振幅以产生串扰校正信号。解调单元对通过合成串扰校正信号和所接收的信号而产生的信号进行采样并且以解调采样的信号。
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公开(公告)号：CN102997940B
公开(公告)日：2016-12-28
申请号：CN201210345556.5
申请日：2012-09-17
Applicant: 株式会社三丰
CPC classification number: G01D5/208
Abstract: 感应检测式编码器及数字千分尺。根据本发明的感应检测式编码器包括：第一和第二构件，二者被相对布置并且能在测量方向上相对移动；发送线圈，其形成于第一构件；磁通耦合体，其形成于第二构件，并与发送线圈产生的磁场耦合；和接收线圈，其形成于第一构件，并具有接收环。发送线圈和接收线圈中的至少一方具有：特定图案，其损害图案的均一性和周期性；和虚设图案，其形成于与特定图案成周期的特定相位关系的位置，其中周期由码道产生。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102419164B
公开(公告)日：2015-01-28
申请号：CN201110249546.7
申请日：2011-08-25
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B21/02
Abstract: 一种测量设备，包括：测量电路，用于执行预定处理以获得对被测对象的测量结果；通信控制电路，用于根据所述测量电路的处理结果来生成要输出到外部的输出数据；电源电路，其具有用于向所述测量电路和所述通信控制电路提供电力的充电元件；输出电路，其具有用于将在所述通信控制电路中生成的输出数据输出到外部的开漏型输出端子；以及充电控制电路，用于在不将所述输出数据输出到外部时对所述充电元件充电，其中，所述输出电路的开漏型输出端子用作为所述充电控制电路的输入端子。
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公开(公告)号：CN102419164A
公开(公告)日：2012-04-18
申请号：CN201110249546.7
申请日：2011-08-25
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B21/02
Abstract: 一种测量设备，包括：测量电路，用于执行预定处理以获得对被测对象的测量结果；通信控制电路，用于根据所述测量电路的处理结果来生成要输出到外部的输出数据；电源电路，其具有用于向所述测量电路和所述通信控制电路提供电力的充电元件；输出电路，其具有用于将在所述通信控制电路中生成的输出数据输出到外部的开漏型输出端子；以及充电控制电路，用于在不将所述输出数据输出到外部时对所述充电元件充电，其中，所述输出电路的开漏型输出端子用作为所述充电控制电路的输入端子。
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公开(公告)号：CN108151775B
公开(公告)日：2022-01-25
申请号：CN201711257999.8
申请日：2017-12-04
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 编码器包括光源。升压电路升高电池输出的电源电压，并输出升高后的电压。将该电压施加到发光二极管的一端。在发光二极管的另一端和地之间插入驱动电路，驱动电路控制流过发光二极管的电流。电压检测电路检测发光二极管和驱动电路之间的电压。当电压低于电源电压时，控制电路使升压电路升高电源电压；当电压等于电源电压时，控制电路停止升压电路执行的升压；并且控制电路控制驱动电路，使得在电压达到预定值之后，电流流向发光二极管。
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公开(公告)号：CN108151775A
公开(公告)日：2018-06-12
申请号：CN201711257999.8
申请日：2017-12-04
Applicant: 株式会社三丰
CPC classification number: G01D5/34715 , H02J7/0063 , H05B33/0842 , H05B37/0281 , G01D5/266 , H05B33/0809 , H05B33/0884 , H05B37/02
Abstract: 编码器包括光源。升压电路升高电池输出的电源电压，并输出升高后的电压。将该电压施加到发光二极管的一端。在发光二极管的另一端和地之间插入驱动电路，驱动电路控制流过发光二极管的电流。电压检测电路检测发光二极管和驱动电路之间的电压。当电压低于电源电压时，控制电路使升压电路升高电源电压；当电压等于电源电压时，控制电路停止升压电路执行的升压；并且控制电路控制驱动电路，使得在电压达到预定值之后，电流流向发光二极管。
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公开(公告)号：CN103852091A
公开(公告)日：2014-06-11
申请号：CN201310645853.6
申请日：2013-12-04
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01D5/34
CPC classification number: G01D5/34715 , G01D5/24485 , G01D5/34792
Abstract: 一种光电式绝对位置检测器，具备：带有节距不同的模式的多个轨道（11～13）的刻度尺（10）、具有光源（8）及包括与所述多个轨道（11～13）对应的多个受光元件阵列（21～23）的受光元件的检测器（20），其中，在所述检测器（20）的、与所述刻度尺（10）相邻的粗节距和细节距的模式的轨道（11、12）的边界对应的位置，追加配置受光元件阵列（22’），以根据该追加的受光元件阵列（22’）的信号振幅（Iamp），检测所述检测器（20）相对于刻度尺（10）的横向方向的变位的方式进行操作，可检测检测器（20）相对于刻度尺（10）的横向方向的变位。
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