一种物品质量厚度检测方法及物品质量厚度检测装置

    公开(公告)号:CN110231005B

    公开(公告)日:2021-04-13

    申请号:CN201910566262.7

    申请日:2019-06-27

    Abstract: 本发明公开了辐照加工领域内的一种物品质量厚度检测方法及物品质量厚度检测装置,包括以下步骤:步骤1,构建物品质量厚度初始模型,初始模型包括与多种物质一一对应的多条理论曲线,每条所述理论曲线对应于一种物质的低能值与质量厚度理论值的映射关系;步骤2,构建物品质量厚度标准模型,通过校正组件将多条理论曲线校正为多条标准曲线,形成标准模型;步骤3,通过待测物的检测低能值、检测高能值及物质分类模型的映射关系得到待测物的物质种类;能够得到待测物更加准确的质量厚度,更方便辐照加工中辐照剂量、辐照时间等参数的合理配置,提高生产效率,本发明可以用于物品质量厚度的检测。

    一种物品质量厚度检测方法及物品质量厚度检测装置

    公开(公告)号:CN110231005A

    公开(公告)日:2019-09-13

    申请号:CN201910566262.7

    申请日:2019-06-27

    Abstract: 本发明公开了辐照加工领域内的一种物品质量厚度检测方法及物品质量厚度检测装置,包括以下步骤:步骤1,构建物品质量厚度初始模型,初始模型包括与多种物质一一对应的多条理论曲线,每条所述理论曲线对应于一种物质的低能值与质量厚度理论值的映射关系;步骤2,构建物品质量厚度标准模型,通过校正组件将多条理论曲线校正为多条标准曲线,形成标准模型;步骤3,通过待测物的检测低能值、检测高能值及物质分类模型的映射关系得到待测物的物质种类;能够得到待测物更加准确的质量厚度,更方便辐照加工中辐照剂量、辐照时间等参数的合理配置,提高生产效率,本发明可以用于物品质量厚度的检测。

    一种用于检测物品辐射剂量的检测装置

    公开(公告)号:CN210376188U

    公开(公告)日:2020-04-21

    申请号:CN201920990455.0

    申请日:2019-06-27

    Abstract: 本实用新型涉及一种用于检测物品辐射剂量的检测装置,包括:壳体,位于壳体顶部的射线发射器和位于壳体底部的探测器仓体;其中当被测物品被放置在所述探测器仓体内时,所述射线发射器能够照射被测物品以使所述探测器仓体接收到穿过被测物品的射线束。通过壳体的设置,实现对于射线发射器中发射的射线起到良好的屏蔽效果;通过射线发射器的设置,能够实现X射线的照射效果,通过通过探测器仓体的设置,形成接收部,能够很好的实现穿过被测物品的射线束的接收,从而实现检测的效果。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

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