公开(公告)号：CN101858946B

公开(公告)日：2012-01-11

申请号：CN201010166376.1

申请日：2010-05-07

Applicant: 清华大学

Inventor： 何金良 ,  刘俊 ,  曾嵘 ,  胡军 ,  龙望成 ,  雒凤超

IPC: G01R31/00 ,  G01R31/12 ,  G01R19/00

Abstract: 本发明涉及一种氧化锌压敏电阻单晶界冲击老化特性的测试方法，属于精细电工材料的定量分析技术领域。将将被测样品磨平并抛光，在样品表面沉积微型银电极阵列，利用精密微探针平台和光学显微镜观察，使针尖与样品上的微电极紧密接触，测量单个氧化锌晶界的伏安特性曲线；对样品施加多次冲击电流作用，测量样品在承受电流冲击的不同阶段单个晶界的伏安特性曲线数据；最后计算出该晶界所对应的非线性系数、击穿电压和泄漏电流等参数，并得到冲击电流对单个晶界特性的影响规律。本方法更为直观地展现出晶界的老化规律，为氧化锌压敏电阻导电机理、老化机理和改性研究提供了更为新颖的测试分析手段。

公开(公告)号：CN101858946A

公开(公告)日：2010-10-13

申请号：CN201010166376.1

申请日：2010-05-07

Applicant: 清华大学

Inventor： 何金良 ,  刘俊 ,  曾嵘 ,  胡军 ,  龙望成 ,  雒凤超

IPC: G01R31/00 ,  G01R31/12 ,  G01R19/00

Abstract: 本发明涉及一种氧化锌压敏电阻单晶界冲击老化特性的测试方法，属于精细电工材料的定量分析技术领域。将将被测样品磨平并抛光，在样品表面沉积微型银电极阵列，利用精密微探针平台和光学显微镜观察，使针尖与样品上的微电极紧密接触，测量单个氧化锌晶界的伏安特性曲线；对样品施加多次冲击电流作用，测量样品在承受电流冲击的不同阶段单个晶界的伏安特性曲线数据；最后计算出该晶界所对应的非线性系数、击穿电压和泄漏电流等参数，并得到冲击电流对单个晶界特性的影响规律。本方法更为直观地展现出晶界的老化规律，为氧化锌压敏电阻导电机理、老化机理和改性研究提供了更为新颖的测试分析手段。