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公开(公告)号：CN115128365A
公开(公告)日：2022-09-30
申请号：CN202110610516.8
申请日：2021-06-01
Applicant: 联发科技股份有限公司
Abstract: 本发明公开一种测试套件，用于测试被测设备，包括：插座结构，用于容纳该被测设备，其中，该被测设备包括天线并辐射射频信号；以及反射器，包括下表面，其中从该被测设备的天线发射的射频信号由该反射器反射，并且反射的射频信号由被测设备的该天线接收。本发明的上述结构可以方便安装和拆卸被测设备，从而方便测试的进行，并且结构紧凑，占用面积较小，可以方便进行大批量的测试。
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公开(公告)号：CN103852714B
公开(公告)日：2016-11-23
申请号：CN201310628205.X
申请日：2013-11-29
Applicant: 联发科技股份有限公司
IPC: G01R31/28
CPC classification number: H04B17/0085 , H04B3/46 , H04B17/29
Abstract: 本发明提供一种集成电路，包括：射频发送器，用以回应测试设备的命令信号以产生射频信号；以及射频接收器，用以依据该射频信号产生评估信号，并回报该评估信号至该测试设备，使得该测试设备对该评估信号执行测试分析以决定测试结果，其中该测试设备在该集成电路的外部。本发明还提供一种测试设备及射频测试系统。本发明可降低设计及制造成本。
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公开(公告)号：CN114401053A
公开(公告)日：2022-04-26
申请号：CN202111461147.7
申请日：2019-04-09
Applicant: 联发科技股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种无线测试系统，包括：负载板，具有上表面和下表面，其中，所述负载板包括设置在所述负载板上的测试天线；插槽，用于接收具有天线结构的被测器件DUT，所述插槽设置在所述负载板的上表面上，其中，所述天线结构与所述测试天线相对应；处理器，用于拾取所述DUT并且将所述DUT传送到所述插槽，其中所述处理器包括用于保持和按压所述DUT的夹具，在测试期间，所述夹具被接地并且作为接地反射器，所述接地反射器对所述DUT的辐射场型进行反射，使得所述DUT的辐射场型从向上方向反转到朝向所述测试天线的向下方向。本发明技术方案可以减小DUT的天线结构与测试天线之间的路径损耗。
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公开(公告)号：CN110365427B
公开(公告)日：2021-12-28
申请号：CN201910281213.9
申请日：2019-04-09
Applicant: 联发科技股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种无线测试系统，包括：负载板，具有上表面和下表面，其中，所述负载板包括设置在所述负载板上的测试天线；插槽，用于接收具有天线结构的被测器件DUT，所述插槽设置在所述负载板的上表面上，其中，所述天线结构与所述测试天线相对应；处理器，用于拾取所述DUT并且将所述DUT传送到所述插槽，其中所述处理器包括用于保持和按压所述DUT的夹具，在测试期间，所述夹具被接地并且作为接地反射器，所述接地反射器对所述DUT的辐射场型进行反射，使得所述DUT的辐射场型从向上方向反转到朝向所述测试天线的向下方向。本发明技术方案可以减小DUT的天线结构与测试天线之间的路径损耗。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110365427A
公开(公告)日：2019-10-22
申请号：CN201910281213.9
申请日：2019-04-09
Applicant: 联发科技股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种无线测试系统，包括：负载板，具有上表面和下表面，其中，所述负载板包括设置在所述负载板上的测试天线；插槽，用于接收具有天线结构的被测器件DUT，所述插槽设置在所述负载板的上表面上，其中，所述天线结构与所述测试天线相对应；处理器，用于拾取所述DUT并且将所述DUT传送到所述插槽，其中所述处理器包括用于保持和按压所述DUT的夹具，在测试期间，所述夹具被接地并且作为接地反射器，所述接地反射器对所述DUT的辐射场型进行反射，使得所述DUT的辐射场型从向上方向反转到朝向所述测试天线的向下方向。本发明技术方案可以减小DUT的天线结构与测试天线之间的路径损耗。
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公开(公告)号：CN114401053B
公开(公告)日：2024-12-24
申请号：CN202111461147.7
申请日：2019-04-09
Applicant: 联发科技股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种无线测试系统，包括：负载板，具有上表面和下表面，其中，所述负载板包括设置在所述负载板上的测试天线；插槽，用于接收具有天线结构的被测器件DUT，所述插槽设置在所述负载板的上表面上，其中，所述天线结构与所述测试天线相对应；处理器，用于拾取所述DUT并且将所述DUT传送到所述插槽，其中所述处理器包括用于保持和按压所述DUT的夹具，在测试期间，所述夹具被接地并且作为接地反射器，所述接地反射器对所述DUT的辐射场型进行反射，使得所述DUT的辐射场型从向上方向反转到朝向所述测试天线的向下方向。本发明技术方案可以减小DUT的天线结构与测试天线之间的路径损耗。
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公开(公告)号：CN117014080A
公开(公告)日：2023-11-07
申请号：CN202310483347.5
申请日：2023-04-28
Applicant: 联发科技股份有限公司
Abstract: 本发明公开一种测试套件，用于测试被测设备，包括：插座结构，用于容纳该被测设备；以及柱塞组件，可拆卸地耦接于该插座结构，其中该柱塞组件包括多层结构，该多层结构包括嵌套件和安装在该嵌套件下方的至少一个中介层基板。使用本发明的测试套件在测试时，测试信号的经由路径较短，因此特别适用于毫米波等高频信号的测试，可以降低高频信号的路径损耗，保证测试的准确性和可靠性；另外本发明的测试套件可以适用于各种不同类型的测试设备，具有更广泛的适用性，具有成本优势和测试便利性优势。
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公开(公告)号：CN115469155A
公开(公告)日：2022-12-13
申请号：CN202210557132.9
申请日：2022-05-20
Applicant: 联发科技股份有限公司
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明公开一种用于测试被测装置的测试套件，包括：插座结构，用于容纳该被测装置；以及柱塞组件，与该插座结构可拆卸地连接，其中该柱塞组件包括多层结构，该多层结构包括由顶部插座和座体夹在中间的至少一个中介层基板。本发明中的测试套件利用中介层基板连接到被测装置，这样被测装置发出的信号传输到中介层基板后可以在中介层基板被环回，然后进行下变频之后转换为测试射频信号，这样就可以对高频的RF信号进行测试，测试电路的结构更加简单，并且信号路径更短，损耗更低，测试结果的准确性更高。
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公开(公告)号：CN103852714A
公开(公告)日：2014-06-11
申请号：CN201310628205.X
申请日：2013-11-29
Applicant: 联发科技股份有限公司
IPC: G01R31/28
CPC classification number: H04B17/0085 , H04B3/46 , H04B17/29
Abstract: 本发明提供一种集成电路，包括：射频发送器，用以回应测试设备的命令信号以产生射频信号；以及射频接收器，用以依据该射频信号产生评估信号，并回报该评估信号至该测试设备，使得该测试设备对该评估信号执行测试分析以决定测试结果，其中该测试设备在该集成电路的外部。本发明还提供一种测试设备及射频测试系统。本发明可降低设计及制造成本。
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