公开(公告)号：CN110114958A

公开(公告)日：2019-08-09

申请号：CN201780081056.6

申请日：2017-12-20

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 福泽成敏 ,  大嶋一则 ,  后谷明 ,  近藤和树

IPC: H02J50/60 ,  H02J7/00 ,  H02J50/12 ,  H02J50/40

Abstract: 本发明提供不管供电状态均能够得到较高的检测精度的金属异物检测装置。一种金属异物检测装置(14)，用于使用交变磁场进行电力传输的无线电力传输系统，具备：接受磁场或电流并产生振动信号的多个天线线圈(L3)；与多个天线线圈(L3)的各个形成共振电路(RC)的一个以上的电容器(C3)；依次使用多个天线线圈(L3)并进行金属异物的检测的检测部(140)，检测部(140)具有基于共振电路(RC)各自的不同的特性的变化而检测金属异物的有无的多个检测模式，根据无线电力传输系统的供电状态从多个检测模式选择一个，并根据选择的检测模式进行金属异物的检测。

公开(公告)号：CN100411024C

公开(公告)日：2008-08-13

申请号：CN200480025272.1

申请日：2004-09-01

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 菊川隆 ,  福泽成敏 ,  小林龙弘

IPC: G11B7/004 ,  G11B7/24 ,  G11B7/26

CPC classification number: G11B7/24079 ,  G11B7/00452 ,  G11B7/0901 ,  G11B7/24065

Abstract: 根据本发明的一种光学记录介质(10)，包括：其上形成有凹槽(11a)的支撑基板(11)、透光层(12)，在支撑基板(11)与透光层(12)之间设置的贵金属氧化物层(23)，其中，凹槽(11a)的深度设定为大于λ/8n但小于等于60nm，此处，n是透光层(12)对波长为λ的光的折射率。因此，通过将激光束照射在贵金属氧化物层(23)上，在进行超分辨率记录和超分辨率读取时，可获得良好的信号特性，尤其是有足够幅值的推挽信号。此外，因为凹槽的深度设定为60nm或更小，在生产用于制造基板的模片时不会出现较大的困难。

公开(公告)号：CN1816859A

公开(公告)日：2006-08-09

申请号：CN200480018848.1

申请日：2004-06-29

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 菊川隆 ,  福泽成敏 ,  小林龙弘

IPC: G11B7/24

CPC classification number: G11B7/252 ,  G11B7/2403 ,  G11B7/24065 ,  G11B7/258 ,  G11B2007/24308 ,  G11B2007/2431 ,  G11B2007/24314 ,  G11B2007/24316

Abstract: 一种光学记录介质(10)包括支撑基板(11)、透光层(12)、和插入到所述透光层(12)和所述支撑基板(11)之间的第一电介质层(31)、贵金属氧化物层(23)、第二电介质层(32)、光吸收层(22)、第三电介质层(33)、和反射层(21)。所述支撑基板(11)的厚度为0.6mm到2.0mm；所述透光层(12)的厚度为10μm到200μm；所述贵金属氧化物层(23)的厚度为2nm到50nm；所述第二电介质层(32)的厚度为5nm到100nm；所述光吸收层(22)的厚度为5nm到100nm；并且所述第三电介质层(33)的厚度为10nm到140nm。因此，在采用针对下一代光学记录介质的光学系统进行超解析记录和再现时可获得优良的特性。

公开(公告)号：CN1816857A

公开(公告)日：2006-08-09

申请号：CN200480018579.9

申请日：2004-06-30

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 菊川隆 ,  福泽成敏 ,  小林龙弘

IPC: G11B7/24

CPC classification number: G11B7/243 ,  G11B7/00452 ,  G11B2007/24304 ,  G11B2007/24314 ,  G11B2007/24316 ,  G11B2007/25706 ,  G11B2007/25715

Abstract: 本发明的目的是提供一种光学记录盘，包括：衬底(2)，第三介电层(3)，光吸收层(4)，第二介电层(5)，含有氧化铂作为主要成分的分解反应层(6)，第一介电层(7)，和光透射层(8)，并且构成该光学记录盘，使得在从光透射层(8)这一侧用激光束(20)照射光学记录盘时，在分解反应层(6)中作为主要成分所含的氧化铂被分解成铂和氧，因此通过由此产生的氧气在分解反应层(6)中形成泡状凹坑，并且贵金属的细小颗粒沉淀在泡状凹坑内，由此在分解反应层(6)中形成了记录标志。

公开(公告)号：CN110121826B

公开(公告)日：2023-07-14

申请号：CN201780081052.8

申请日：2017-12-20

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 近藤和树 ,  大嶋一则 ,  后谷明 ,  福泽成敏

IPC: H02J50/60 ,  G01V3/10 ,  H02J50/10 ,  G01R23/10

Abstract: 本发明提供降低金属异物的检测中失败的可能性的金属异物检测装置。金属异物检测装置(14A)具备：具有接受磁场或电流并产生振动信号(Vb)的至少一个天线线圈(L3)的传感器部(S)；测量表示比1大的规定波数量的从传感器部(S)输出的振动信号(Vc)的振动所需要的时间的长度的振动时间长(TL)的振动时间长测量电路(145)；基于振动时间长(TL)和没有接近的金属异物时的振动时间长(TL)即基准时间长(CTL)，判定接近天线线圈(L3)的金属异物的有无的判定电路(146)。

公开(公告)号：CN110114957B

公开(公告)日：2023-04-04

申请号：CN201780081053.2

申请日：2017-12-20

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 福泽成敏 ,  后谷明 ,  近藤和树 ,  大嶋一则

IPC: H02J50/60 ,  H02J7/00 ,  H02J50/10

Abstract: 本发明的课题在于提高无线供电中的、供电线圈与受电线圈之间的金属异物的检测精度。无线供电装置(10)是通过以规定的电力传输频率振动的交变磁场以无线进行电力传输的无线供电装置(10)，其具备：供电线圈(L1)；天线线圈(L3)；与天线线圈(L3)一起形成谐振电路(RC)的电容器(C3)；检测以比电力传输频率高的频率振动的噪声的噪声检测部(15A)；基于谐振电路(RC)中产生的电压或电流的变化和噪声检测部(15A)的噪声的检测结果，检测金属异物的有无的异物检测部(140)。

公开(公告)号：CN106487100B

公开(公告)日：2020-08-07

申请号：CN201610798136.0

申请日：2016-08-31

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 福泽成敏 ,  佐藤绫子 ,  佐圆恒启

IPC: H02J50/10 ,  G01R31/52 ,  G01R31/64 ,  B60L53/12

Abstract: 本发明提供一种线圈装置及无线电力传输装置，其能够可靠地检测在构成电容器电路的多个电容器元件的任一个上发生了断路故障或短路故障。线圈装置(Lu1)具备电力传输用线圈(L1)、与电力传输用线圈(L1)连接且具有多个电容器元件(CAP1)的电容器电路(X1)、接近地配置于电力传输用线圈(L1)的导电性的金属部(SD)、测量在金属部(SD)产生的电压或电流的测量部(VSG1)。

公开(公告)号：CN104682573A

公开(公告)日：2015-06-03

申请号：CN201410714380.5

申请日：2014-11-28

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 千代宪隆 ,  鸭野武志 ,  福泽成敏 ,  松浦利典 ,  西山哲哉

IPC: H02J17/00 ,  H01F27/38

CPC classification number: H01F27/346 ,  B60L11/00 ,  B60L11/182 ,  B60L11/1824 ,  B60L2230/10 ,  B60L2270/147 ,  H01F5/00 ,  H01F27/24 ,  H01F27/28 ,  H01F27/38 ,  H01F27/42 ,  H01F37/00 ,  H01F38/00 ,  H01F38/14 ,  H02J5/005 ,  H02J7/0042 ,  H02J7/025 ,  H02J17/00 ,  H02J50/10 ,  H02J50/40 ,  H02J50/70 ,  Y02T10/7005 ,  Y02T10/7088 ,  Y02T90/12 ,  Y02T90/121 ,  Y02T90/122 ,  Y02T90/14

Abstract: 本发明公开了一种送电线圈单元以及无线电力传输装置，该送电线圈单元(Ltu1)具备送电线圈(Lta、Ltb)和辅助线圈(Lca、Lcb)，辅助线圈(Lca、Lcb)被配置为不与和受电线圈(Lr)交链的磁通相交链，该受电线圈(Lr)当传输电力时与送电线圈(Lta、Ltb)相对置，辅助线圈(Lca、Lcb)的轴向与送电线圈(Lta、Ltb)和受电线圈(Lr)的对置方向不平行，由辅助线圈(Lca、Lcb)产生的磁通(Bc1a至Bc1d)的环绕方向和由送电线圈(Lta、Ltb)产生的磁通(Bt1a至Bt1d)的环绕方向相反。

公开(公告)号：CN100373484C

公开(公告)日：2008-03-05

申请号：CN200480018848.1

申请日：2004-06-29

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 菊川隆 ,  福泽成敏 ,  小林龙弘

IPC: G11B7/24

CPC classification number: G11B7/252 ,  G11B7/2403 ,  G11B7/24065 ,  G11B7/258 ,  G11B2007/24308 ,  G11B2007/2431 ,  G11B2007/24314 ,  G11B2007/24316

Abstract: 一种光学记录介质(10)包括支撑基板(11)、透光层(12)、和插入到所述透光层(12)和所述支撑基板(11)之间的第一电介质层(31)、贵金属氧化物层(23)、第二电介质层(32)、光吸收层(22)、第三电介质层(33)、和反射层(21)。所述支撑基板(11)的厚度为0.6mm到2.0mm；所述透光层(12)的厚度为10μm到200μm；所述贵金属氧化物层(23)的厚度为2nm到50nm；所述第二电介质层(32)的厚度为5nm到100nm；所述光吸收层(22)的厚度为5nm到100nm；并且所述第三电介质层(33)的厚度为10nm到140nm。因此，在采用针对下一代光学记录介质的光学系统进行超解析记录和再现时可获得优良的特性。

公开(公告)号：CN100358031C

公开(公告)日：2007-12-26

申请号：CN200480018577.X

申请日：2004-06-30

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 菊川隆 ,  福泽成敏 ,  小林龙弘

IPC: G11B7/24

CPC classification number: G11B7/00452 ,  G11B7/24 ,  G11B7/252 ,  G11B2007/24308 ,  G11B2007/2431 ,  G11B2007/24314 ,  G11B2007/24316

Abstract: 本发明的目的是提供一种光学记录盘，包括：衬底(2)，第三介电层(3)，光吸收层(4)，第二介电层(5)，含有氧化铂作为主要成分的分解反应层(6)，第一介电层(7)，和光透射层(8)，其中第二介电层具有20nm至100nm的厚度，并且构成该光学记录盘，使得在从光透射层(8)这一侧用激光束(20)照射光学记录盘时，在分解反应层(6)中作为主要成分所含的氧化铂被分解成铂和氧，因此通过由此产生的氧气在分解反应层(6)中形成泡状凹坑，并且贵金属的细小颗粒沉淀在泡状凹坑内，由此在分解反应层(6)中形成了记录标志。