一种真彩点云编码流三维建模系统与方法

    公开(公告)号:CN119359954A

    公开(公告)日:2025-01-24

    申请号:CN202411353482.9

    申请日:2024-09-26

    Inventor: 王荣柏 郭双妹

    Abstract: 本发明属于三维建模和扫描技术领域技术领域,特别涉及一种真彩点云编码流三维建模系统与方法,手持三维扫描仪,用于捕获目标物体的彩色图像和三维空间信息;手持三维扫描仪,用于捕获目标物体的彩色图像和三维空间信息;其中,手持三维扫描仪包括有:扫描触发与控制单元、调角模块、相机等;计算机包括有:点云编码流处理模块、点云编码流处理模块等。本发明整合手持三维扫描与智能处理算法,实现快速精准物体扫描至高保真模型生成,技术提升数据采集效率及模型准确性,确保复杂细节的完美捕捉,其环境适应性强,能实时校正误差,广泛应用于设计、制造及文物保护等领域,本系统加速数字化转型,提高工作效率,降低成本,促进技术革新应用。

    一种桁架3D相机三维重建方法和系统

    公开(公告)号:CN119359927A

    公开(公告)日:2025-01-24

    申请号:CN202411907891.9

    申请日:2024-12-24

    Abstract: 本说明书实施例提供一种桁架3D相机三维重建方法和系统,该方法包括:基于桁架的结构特征,获取光学扫描参数;基于光学扫描参数,对目标物体进行光学成像,确定目标物体的外观图像;基于外观图像,确定目标物体的多个子区域的区域位置、多个子区域的形状复杂度;基于多个子区域的区域位置、多个子区域的形状复杂度,确定第一扫描参数;将第一扫描参数发送至机械臂,机械臂执行扫描并获取目标物体的第一点云数据。

    光滑材质表面缺陷的检测方法及系统

    公开(公告)号:CN119354985A

    公开(公告)日:2025-01-24

    申请号:CN202411909273.8

    申请日:2024-12-24

    Inventor: 陈湘军 吴炜

    Abstract: 本发明涉及检测检验技术领域,公开了一种光滑材质表面缺陷的检测方法及系统,光滑材质表面缺陷的检测方法包括步骤:S1.展开曲面,建立坐标轴xOyOz,获取所述展开曲面的轮廓数据;S2.沿z轴分割所述轮廓数据,获取K组曲线数据,拟合每组曲线数据在坐标xkOkyk内的曲线yk=f(xk);S3.获取每个坐标xkOkyk内落在曲线yk=f(xk)外的数据,作为标记数据;S4.连接相邻坐标xkOkyk内的标记数据,得到缺陷范围M。本发明公开的光滑材质表面缺陷的检测方法及系统,通过分析轮廓数据获取缺陷信息,避免了视觉检测方法中无法精准获取透明材质图像信息的缺陷,同时避免了现有的激光轮廓检测方法中无法精准获取曲面轮廓的缺陷,解决了无标准数据与之比对而无法获取缺陷信息的问题。

    一种用于飞机小型结构件的视觉检测与质量评估方法

    公开(公告)号:CN119354981A

    公开(公告)日:2025-01-24

    申请号:CN202411558844.8

    申请日:2024-11-04

    Abstract: 本发明实施例公开了一种用于飞机小型结构件的视觉检测与质量评估方法,包括:S1:获取三维点云数据,并对三维点云数据进行预处理;S2:进行多角度的二维图像采集;S3:将S2中获取的二维图像纹理映射至三维模型表面,生成包括表面信息的三维模型;S4:从三维模型中提取几何特征和表面纹理特征;S5:进行融合和对比分析,以识别潜在的异常和缺陷;S6:输出具体的异常类型和位置;S7:根据S6的异常检测结果,进行综合质量评估,生成质量评估报告。本发明实施例提供的技术方案,通过融合三维扫描和高分辨率二维图像技术以及采用基于机器学习的分类模型,显著提高了检测的全面性、精确性和效率,从而有效提升了生产质量和安全性。

    一种建筑测绘无人机

    公开(公告)号:CN119354160A

    公开(公告)日:2025-01-24

    申请号:CN202411619428.4

    申请日:2024-11-13

    Abstract: 本发明公开了一种建筑测绘无人机,涉及建筑测绘技术领域,包括机体和第一测绘组件,第一测绘组件设于机体,第一测绘组件包括激光器、活动透镜、聚焦透镜和第一偏光机构,激光器、活动透镜和聚焦透镜沿着激光器发射的激光光路依次设置,第一偏光机构包括相连接的第一电机和第一偏光片,第一偏光片转动连接机体,并能够将聚焦透镜聚集发出的光线折射于目标物体。相较于传统的通过飞行器的飞行角度及飞行位移来调节激光照射方向的方式,本发明通过第一电机控制第一偏光片转动以使激光覆盖目标物体的工作效率明显高出许多。

    一种基于迈克尔逊干涉的微小器件形貌测量校准方法

    公开(公告)号:CN119354096A

    公开(公告)日:2025-01-24

    申请号:CN202411586276.2

    申请日:2024-11-07

    Abstract: 本发明提供了一种基于迈克尔逊干涉的微小器件形貌测量校准方法,利用迈克尔逊干涉原理,针对压电陶瓷控制仪精度有限、步距不定的情况进行校准。通过基于白光干涉光路结构的系统,在压电陶瓷驱动系统两侧放置平面镜,组成两套迈克尔逊干涉仪。第一侧的迈克尔逊干涉仪用于获取微小器件表面的干涉条纹,根据干涉条纹的变化关系,结合数字图像处理,精确计算出压电陶瓷步距,再利用另一侧的迈克尔逊干涉仪对压电陶瓷的步距进行校准。与无校准系统的迈克尔逊干涉仪对比,该方法能够实现对压电陶瓷步距的精准把控,获取更清晰准确的干涉图像,提高系统对微小器件表面形貌复原的能力。

    部件检查方法和部件检查装置
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119325548A

    公开(公告)日:2025-01-17

    申请号:CN202380045119.8

    申请日:2023-02-17

    Inventor: 鹫见典克

    Abstract: 在部件检查方法中,首先,利用三维激光扫描器(5)从外侧扫描包括点火线圈(3)和燃料管(4)的区域,来逐渐获取包括点火线圈(3)和燃料管(4)的外表面的一部分的测量数据。之后,将设计数据中的包括点火线圈(3)和燃料管(4)的区域与测量数据中的包括点火线圈(3)和燃料管(4)的区域进行配准,基于该配准来计算扫描的进度。然后,在进度超过了进度阈值时在显示器(8)对超过了进度阈值的情况进行信息呈现。

    晶圆和密封环的装配及对位校准的检测工艺

    公开(公告)号:CN119324160A

    公开(公告)日:2025-01-17

    申请号:CN202411848229.0

    申请日:2024-12-16

    Abstract: 本发明公开了晶圆和密封环的装配及对位校准的检测工艺,其包括晶圆和密封环的装配步骤和图像对位校准步骤。本发明一方面基于密封环和晶圆保持同步、且零扭矩下自中心对齐的完成晶圆、密封环和挂具的组装,以降低密封环和晶圆脱离导致密封失效率;另一方面采用光束所形成反射成像原理,结合挂具沿着环形阵列的径向将整个密封环逐步送至光束检测区,更准确地拼凑所成像的外轮廓样本和位于所述光束检测区的全部密封环所形成的外轮廓对样本,同时基于外轮廓样本判断密封环的内外轮廓同心对齐度以形成初步判定,再由外轮廓样本和外轮廓对样本比对分析以校准密封环的圆心位置以形成验证判定,从而更准确地获得检测结果。

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