公开(公告)号：US20140285767A1

公开(公告)日：2014-09-25

申请号：US14299504

申请日：2014-06-09

Applicant: TearScience Inc.

Inventor： Donald R. Korb ,  William L. Weber ,  Randal B. Chinnock ,  Benjamin T. Gravely ,  Stephen M. Grenon

IPC: A61B3/10 ,  A61B3/00

CPC classification number: A61B3/101 ,  A61B3/0025 ,  A61B3/0041 ,  A61B3/1005 ,  A61B3/14 ,  G06T7/0012 ,  G06T2207/30041

Abstract: Ocular surface interferometry (OSI) devices, systems, and methods are disclosed for measuring a tear film layer thickness (TFLT) of the ocular tear film, including lipid layer thickness (LLT) and/or aqueous layer thickness (ALT). The measured TFLT can be used to diagnosis dry eye syndrome (DES). In certain disclosed embodiments, a multi-wavelength light source can be controlled to illuminate the ocular tear film. Light emitted from the multi-wavelength light source undergoes optical wave interference interactions in the tear film. An imaging device can be focused on the lipid layer of the tear film to capture optical wave interference interactions of specularly reflected light from the tear film combined with a background signal(s) in a first image. The imaging device can also be focused on the lipid layer of the tear film to capture a second image containing the background signal(s) present in the first image. The second image can be subtracted from the first image to reduce and/or eliminate the background signal(s) in the first image to produce a resulting image. The resulting image can be processed and analyzed to measure a tear film layer thickness (TFLT), including lipid layer thickness (LLT) and/or aqueous layer thickness (ALT).

Abstract translation: 公开了用于测量眼泪膜的泪膜层厚度（TFLT），包括脂质层厚度（LLT）和/或水层厚度（ALT）的眼表干涉测量（OSI）装置，系统和方法。 测量的TFLT可用于诊断干眼综合征（DES）。 在某些公开的实施例中，可以控制多波长光源以照射眼泪膜。 从多波长光源发射的光在泪膜中经历光波干涉相互作用。 成像装置可以集中在泪膜的脂质层上，以捕获与第一图像中的背景信号结合的来自泪膜的镜面反射光的光波干涉相互作用。 成像装置还可以聚焦在泪膜的脂质层上，以捕获包含存在于第一图像中的背景信号的第二图像。 可以从第一图像中减去第二图像以减少和/或消除第一图像中的背景信号以产生所得图像。 可以对所得图像进行处理和分析，以测量泪膜层厚度（TFLT），包括脂质层厚度（LLT）和/或水层厚度（ALT）。

公开(公告)号：US20130229624A1

公开(公告)日：2013-09-05

申请号：US13870214

申请日：2013-04-25

Applicant: TEARSCIENCE, INC.

Inventor： Donald R. Korb ,  William L. Weber ,  Randal B. Chinnock ,  Benjamin T. Gravely ,  Stephen M. Grenon

IPC: A61B3/10

CPC classification number: A61B3/101 ,  A61B3/0025 ,  A61B3/0041 ,  A61B3/1005 ,  A61B3/14 ,  G06T7/0012 ,  G06T2207/30041

Abstract: Background reduction apparatuses and methods of Ocular surface interferometry (OSI) employing polarization are disclosed for measuring a tear film layer thickness (TFLT) of the ocular tear film, including lipid layer thickness (LLT) and/or aqueous layer thickness (ALT) and can be used to evaluate and potentially diagnosis dry eye syndrome (DES). In certain disclosed embodiments, a multi-wavelength light source can be controlled to illuminate the ocular tear film. Light emitted from the multi-wavelength light source undergoes optical wave interference interactions in the tear film. An imaging device can be focused on the lipid layer of the tear film to capture optical wave interference interactions of specularly reflected light from the tear film combined with a background signal(s) in at least one image. The at least one image can be processed and analyzed to measure a tear film layer thickness (TFLT), including lipid layer thickness (LLT) and/or aqueous layer thickness (ALT).

Abstract translation: 公开了用于测量眼泪膜的泪膜层厚度（TFLT），包括脂质层厚度（LLT）和/或水层厚度（ALT）的眼部表面干涉测量（OSI）的背景减少装置和方法，并且可以 用于评估和潜在诊断干眼综合征（DES）。 在某些公开的实施例中，可以控制多波长光源以照射眼泪膜。 从多波长光源发射的光在泪膜中经历光波干涉相互作用。 成像装置可以集中在泪膜的脂质层上，以捕获与至少一个图像中的背景信号结合的来自泪膜的镜面反射光的光波干涉相互作用。 可以处理和分析至少一个图像以测量泪液层厚度（TFLT），包括脂质层厚度（LLT）和/或水层厚度（ALT）。