Invention Publication
- Patent Title: 存储器的数据建立时间的测量电路和测量方法
- Patent Title (English): Measuring circuit and measuring method for data establishing time of storage
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Application No.: CN201610242235.0Application Date: 2016-04-19
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Publication No.: CN105845179APublication Date: 2016-08-10
- Inventor: 李云艳 , 杨光华
- Applicant: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- Applicant Address: 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
- Assignee: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- Current Assignee: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- Current Assignee Address: 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
- Agency: 上海浦一知识产权代理有限公司
- Agent 郭四华
- Main IPC: G11C16/10
- IPC: G11C16/10 ; G11C16/32

Abstract:
本发明公开了一种存储器的数据建立时间的测量电路,包括:第一D触发器,通过第一时钟信号控制输出数据到存储器的数据输入端;存储器的数据输出端连接第二D触发器的数据输入端并在第三时钟信号的控制下输出;第二时钟信号连接到存储器的时钟输入端;第三时钟信号连接到第二D触发器的时钟输入端;由多级缓冲器串联形成缓冲器串联电路输出第一至三时钟信号并能调节第一至三时钟信号之间的上述沿的偏移值;通过对第一至三时钟信号的偏移值的大小设置逐步逼近得到存储器的数据建立时间。本发明还公开了一种存储器的数据建立时间的测量方法。本发明能提高测试精度。
Public/Granted literature
- CN105845179B 存储器的数据建立时间的测量电路和测量方法 Public/Granted day:2019-10-11
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