一种纵波直探头全声程无盲区探伤方法
Abstract:
本发明公开了一种纵波直探头全声程无盲区探伤方法,其包括:1、将所述纵波直探头配置于待测工件表面上;2、对时间基线条件进行设定,即以待测工件厚度为基准,使得所述二次底波被调节在示波屏扫描线全长的一定比例范围的位置上;3、对灵敏度条件进行设定,即按照待测工件厚度的两倍值所对应的参数对所述纵波直探头进行灵敏度调节;4:从所述纵波直探头发出超声波束对待测工件进行探伤;5:基于待测工件厚度值以及所述纵波直探头接收到的反射回波信号中的一次底波、二次底波以及缺陷回波在示波屏扫描线上的位置信息,判断所述待测工件是否存在缺陷并计算出相应的缺陷信息。本发明基于二次底波进行缺陷的探伤,实现了全声程无盲区探伤的效果。
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