Invention Grant
- Patent Title: 用于EEPROM类型的存储器器件的故障控制
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Application No.: CN201610102941.5Application Date: 2016-02-24
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Publication No.: CN106548808BPublication Date: 2021-05-28
- Inventor: F·塔耶 , M·巴蒂斯塔
- Applicant: 意法半导体(鲁塞)公司
- Applicant Address: 法国鲁塞
- Assignee: 意法半导体(鲁塞)公司
- Current Assignee: 意法半导体(鲁塞)公司
- Current Assignee Address: 法国鲁塞
- Agency: 北京市金杜律师事务所
- Agent 王茂华
- Priority: 1558859 20150921 FR
- Main IPC: G11C29/42
- IPC: G11C29/42 ; G11C16/22 ; H03K17/22
Abstract:
提供用于EEPROM类型的存储器器件的故障控制。一种用于检查由电源电压供电并且与上电重置电路相关联的电可擦除可编程只读存储器类型的器件的操作的方法。该方法包括：实施对应于器件的操作的阶段的至少一个试验性操作，其被识别为在电源电压的下降低于给定值的情况下倾向于故障的阶段；在存储器器件的操作期间执行至少一个试验性操作；以及分析试验性操作的结果，以检测通过未通过复位电路防止的任何故障。
Public/Granted literature
- CN106548808A 用于EEPROM类型的存储器器件的故障控制 Public/Granted day:2017-03-29
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